X射线照相技术的检测参数系统全景设计

论文摘要

根据X射线照相曝光曲线的技术特点,形成了X射线照相技术的检测参数系统全景设计。在全景设计图上可以进行设备的选用及性能比较,确定具体的透照参数,预设底片黑度结果,明确具体工艺的影像清晰度。提出了"球锥场"与"圆锥场"结合的分析方法,以全景设计图为基础可以开发检测参数分析软件,实现不同厚度工件的组合检测。

论文目录

• 1 X射线照相全景设计图的形成
•   1.1 全景设计图的基础
•   1.2 全景设计图的制作
• 2 全景设计图的作用
•   2.1 设备的选用
•   2.2 穿透力测定
•   2.3 透照参数确定与质量控制
•   2.4 组合检测厚度范围
• 3 全景设计图应用软件
• 4 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 刘小明,韩壮壮,申国庆,杜建国,魏锦涛

关键词: 射线照相,全景设计,分析软件,组合检测

来源: 无损检测 2019年06期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑

专业: 金属学及金属工艺

单位: 山西航天清华装备有限责任公司

分类号: TG115.282

页码: 6-9+55

总页数: 5

文件大小: 4894K

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