基于贝叶斯方法的深层充电效应风险模型评估

基于贝叶斯方法的深层充电效应风险模型评估

论文摘要

高能电子穿透航天器并在其内部沉积电荷从而引发深层充电效应,是导致卫星故障的重要因素之一.为了评估深层充电效应诱发卫星异常的风险,本文基于贝叶斯方法,使用一颗地球同步轨道卫星的异常数据和GOES-8卫星的电子通量探测数据,计算了不同能量阈值及累积时间的电子注量、不同卫星配置下模拟仿真的沉积电荷,并分别与卫星异常建立一系列概率风险模型.本文从模型中随机抽样得到模拟异常,并与实测异常构造混淆矩阵以评估模型拟合优度,结果表明>1.0MeV电子3日累积注量-卫星异常概率风险模型为该卫星最优模型.本文利用最优模型对该卫星深层充电效应风险进行了计算,在>1.0MeV电子3日累积注量达到2.0×1010cm-2·sr-1时,该卫星发生深层充电异常的平均后验概率为27%,且95%最小可信值为22%.根据最优模型,我们对该卫星最可能导致异常的部件的材料和结构等特征做出了推断.

论文目录

  • 0 引言
  • 1 贝叶斯方法
  • 2 深层充电效应风险评估
  •   2.1 观测数据
  •   2.2 贝叶斯建模步骤
  •   2.3 模型评估指标
  •   2.4 概率风险模型的构造与优选
  •     2.4.1 注量模型
  •     2.4.2 电荷模型
  •     2.4.3 最优模型
  • 3 结论
  •   (1) 建立卫星深层充电异常概率风险模型
  •   (2) 模型的评估与优选
  •   (3) 推断卫星异常部位的材料或结构等特征参数
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 李程,陈东

    关键词: 卫星异常,深层充电,贝叶斯方法,风险评估

    来源: 地球物理学报 2019年06期

    年度: 2019

    分类: 基础科学,工程科技Ⅱ辑

    专业: 航空航天科学与工程

    单位: 中国科学院国家空间科学中心,中国科学院大学

    基金: 中国科学院创新项目(KGFZD-135-16-013)资助

    分类号: V520;V467

    页码: 1991-2000

    总页数: 10

    文件大小: 453K

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