导读:本文包含了测量下限论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:测量,下限,颗粒,灯丝,小角,粒径,微粒。
测量下限论文文献综述
张立芳,王飞,俞李斌,严建华,岑可法[1]（2016）在《采用小波分析方法降低可调谐半导体激光吸收光谱技术测量下限的实验研究》一文中研究指出基于可调谐激光吸收光谱技术,主要采用数据处理的方法如互相关、小波分析等降低光谱吸收技术的测量下限。采用可调谐激光吸收光谱技术中的波长调制技术,对较低浓度下的NH3进行了降低测量下限的试验研究。采用近红外波段2.25μm附近的一组ν2+ν3 NH3吸收谱线,其强度远高于1.5μm处谱线,结合波长调制技术在最优信噪比的条件下对常温常压下不同浓度的NH3进行了测量。为了保证实验条件下测量得到的二次谐波信号的峰值高度达到最大且信噪比最优,实验在调制系数为2.2左右的情况下,通过加载最优的高频调制信号来保证信噪比(SNR)。在10m长的Herriott池中探测到了浓度为0.6×10-6的二次谐波信号,其中信号处理部分主要采用相关分析、多次平均以及小波变换分析来控制中心波长的移动和降低噪音的干扰。结果表明,经过数据处理以后的谐波信号,其检测下限降低到处理前的约百分之一,且不需要增加任何实验设备就可以很好的抑制噪音的影响,将相关分析和小波分析与波长调制技术相结合,这种数据处理方法对于在线检测技术具有很好的实用价值。(本文来源于《光谱学与光谱分析》期刊2016年06期）
渠红光,黑东炜,李斌康,张雁霞,王晶[2]（2013）在《辐射探测宽带小信号测量下限拓展研究》一文中研究指出介绍了一种辐射探测中微弱脉冲信号放大电路设计,实现了在一定系统带宽下可测量下限的拓展。通过分立器件和集成运放结合使用来实现低噪声设计,利用小电容受激产生小电流信号与激励成较好的线性关系以及探测器等效电路来实现可测量下限的标定,实现了可在系统带宽19 MHz下,对低于1μA的辐射脉冲电流信号实现有效检测,提高了现有技术水平。(本文来源于《核电子学与探测技术》期刊2013年11期）
李小京[3]（2008）在《用二重互相关算法扩展涡街流量计测量下限》一文中研究指出介绍了采用二重互相关算法对强噪声干扰下的涡街信号进行滤波的原理和具体实现方法。对涡街流量计在测量下限时的信号与噪声情况进行了分析,将二次互相关滤波算法引入涡街信号的数字滤波过程中。给出了具体计算方法和各主要参数的取值规则。在实际使用中取得了良好的效果。(本文来源于《传感器与微系统》期刊2008年01期）
卢巍,沈嘉祺,蔡小舒[4]（2004）在《光脉动法颗粒浓度测量下限研究》一文中研究指出光脉动法是一种新兴的光散射颗粒粒径测量方法,但是该方法对被测颗粒的浓度有一定的要求,浓度过高或过低都会直接导致最后测量结果的偏差。针对这个问题,本文中选取滑石粉作为被测颗粒样品,通过液固两相流实验,在理论分析结合实验数据的基础上设计了一套新算法,井以此对适用于光脉动法测量原则的颗粒浓度下限进行了研究。研究结果显示,该算法能较为准确地确定光脉动法颗粒浓度测量的下限。(本文来源于《中国粉体技术》期刊2004年04期）
沈建琪[5]（1999）在《光散射法测粒技术延伸测量下限的研究》一文中研究指出在测量颗粒粒径的多种技术中,光散射法以其特有的优势——适用性广、粒径测量范围宽、测量重复性好、快速实时、自动化和智能化程度高、干扰因素少、在线测量等——而得到充分重视,并在其相关技术——光电器件和计算机信息处理等技术——发展成熟的前提下得到了飞速发展和广泛应用。随着科学技术的日益进步和工业生产的不断发展,要求对颗粒粒径的测量下限进一步延伸和对颗粒粒径的测量范围更宽广。为了达到对超细颗粒的测量,世界一些主要激光测粒仪制造厂商在原有小角前向散射测粒仪的基础上,先后提出通过增大探测散射角范围和增设大散射角探测元件的构想,引入侧斜向散射测量手段(FSBS)。这种测量手段由于在前向、侧向、前斜向或后斜向同时设置了光电探测元件进行测量,因此本论文将这一测量方法称为全方位多角度光散射法。进入90年代后,英国、日本、美国等国家均向国际市场上推出了自己的产品,但出于技术保密的原因,有关这方面的技术细节极少见报导,国内迄今也不会生产。因此,开展这方面的研究以填补国内空白已显得十分必要和迫切,其社会意义和经济价值显而易见。本文工作分理论探讨和实验研究二方面进行。在第叁章中介绍了小角前向散射法的测量原理,提出了测量下限的涵义,结合分辨能力、散射光能分布差异和仪器误差讨论测量下限,并介绍了延伸测量下限的手段。在第六章详细讨论了小角前向散射法中的二个重要问题——对中问题和输入折射率问题。第四章提出了全方位多角度光散射法测粒技术的理论模型,建立了散射光强度测量模式和散射光能量测量模式,并对测量下限展开讨论。第五章对全方位多角度光散射法进行模拟计算,详细研究数据处理过程中颗粒粒径范围的选择、粒径分档方法、优化计算目标函数的单值化以及侧斜向探测单元的数量和位置安排等技术细节。在第七章中分析了影响测量结果的几个主要因素。围绕延伸测量下限这一主题,开展了叁方面的实验工作。在第八章中对富里叶反变换技术进行实验研究,第九章分别对全方位多角度光散射法散射光强度测量模式和散射光能量测量模式展开实验研究。详细讨论了样品池和分散介质对测量结果的各种影响,并在数据处理时给予修正。理论分析和实验研究证明,采用增大散射光信号探测角范围的方法可以使测量下限得到有效的延伸,其理论模型是可行的。相应的实验研究及其结果是可靠的。(本文来源于《上海理工大学》期刊1999-10-01）
郑刚,蔡小舒,卫敬明,王乃宁[6]（1998）在《消光法测量微粒尺寸的测量下限的研究》一文中研究指出根据Ｍｉｅ光散射理论，本文详细讨论了用可见光波段的光透消光法（Ｌｉｇｈｔｅｘｔｉｎｃｔｉｏｎ）测量微粒尺寸的测粒下限。分析及计算表明，采用合适的最优化计算方法，光透消光法可用于测量亚微米级及以下的超细颗粒。文中给出了数值模拟计算结果及实测结果。(本文来源于《仪器仪表学报》期刊1998年05期）
郑刚,王乃宁,虞先煌[7]（1993）在《扩展激光测粒仪测量下限的一种计算方法》一文中研究指出本文提出一种求亚微米级颗粒尺寸分布的计算方法,数值计算及实测表明,这种方法能有效地将激光测粒仪的测量下限扩展至0.1μm。(本文来源于《中国激光》期刊1993年08期）
周子山,唐政清[8]（1987）在《B—A计测量下限的研究》一文中研究指出为了拓宽B—A计的测量下限,对一些商品B-A计作了改进.用发夹形灯丝代替商品B-A计中的螺旋形灯丝,对B—A计的灵敏度与灯丝位置的关系作了研究,文中给出了改进B—A计的特性,包括灵敏度与电极电压及灯丝位置的关系,为了有一确定的灵敏度及检测正向和反向X—射线光电流,该B—B计插入固一定内径的340LN不锈钢管中,证实了自调制完全可(本文来源于《电子器件》期刊1987年01期）
测量下限论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
介绍了一种辐射探测中微弱脉冲信号放大电路设计,实现了在一定系统带宽下可测量下限的拓展。通过分立器件和集成运放结合使用来实现低噪声设计,利用小电容受激产生小电流信号与激励成较好的线性关系以及探测器等效电路来实现可测量下限的标定,实现了可在系统带宽19 MHz下,对低于1μA的辐射脉冲电流信号实现有效检测,提高了现有技术水平。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
测量下限论文参考文献
[1].张立芳,王飞,俞李斌,严建华,岑可法.采用小波分析方法降低可调谐半导体激光吸收光谱技术测量下限的实验研究[J].光谱学与光谱分析.2016
[2].渠红光,黑东炜,李斌康,张雁霞,王晶.辐射探测宽带小信号测量下限拓展研究[J].核电子学与探测技术.2013
[3].李小京.用二重互相关算法扩展涡街流量计测量下限[J].传感器与微系统.2008
[4].卢巍,沈嘉祺,蔡小舒.光脉动法颗粒浓度测量下限研究[J].中国粉体技术.2004
[5].沈建琪.光散射法测粒技术延伸测量下限的研究[D].上海理工大学.1999
[6].郑刚,蔡小舒,卫敬明,王乃宁.消光法测量微粒尺寸的测量下限的研究[J].仪器仪表学报.1998
[7].郑刚,王乃宁,虞先煌.扩展激光测粒仪测量下限的一种计算方法[J].中国激光.1993
[8].周子山,唐政清.B—A计测量下限的研究[J].电子器件.1987
论文知识图
