水分对10 kV电缆XLPE片状试样超低频介质损耗因数的影响

论文摘要

交联聚乙烯（XLPE）电缆在运行过程中接头部分极易受潮,导致绝缘性能下降,影响其正常运行。为了探究交联聚乙烯受潮对其相对介电常数（εr）和介质损耗因数（tanδ）的影响,以片状XLPE试样为研究对象,测量其在不同浸水时间的εr和tanδ随频率的变化,并对试样的超低频介质损耗因数tanδ0.1 Hz和工频介质损耗因数tanδ50 Hz进行Pearson相关分析,最后对浸水前后的XLPE试样进行红外光谱分析。结果表明:不同浸水时间XLPE试样的tanδ0.1 Hz比tanδ50 Hz大2.36～3.28倍,tanδ0.1 Hz、tanδ50 Hz及εr均随浸水时间的增加而增大,其中tanδ0.1 Hz的增大趋势更显著;tanδ0.1 Hz与tanδ50 Hz具有强相关性;红外光谱测试结果表明,XLPE分子结构中部分亚甲基变为H-C-OH基团,有水分以结构水的形式存在于浸水后的试样中。

论文目录

• 0 引言
• 1 试验
•   1.1 试样制备及浸水试验
•   1.2 测试方法
• 2 结果与讨论
•   2.1 不同浸水时间的超低频tanδ与工频tanδ的变化规律
•   2.2 不同浸水时间的超低频tanδ与工频tanδ相关性分析
•   2.3 不同浸水时间XLPE薄片的εr变化规律
•   2.4 浸水前后XLPE薄片红外光谱分析
• 3 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 齐伟强,胡则剑,徐兴全,陶贺香,任志刚,桂媛,郭卫,于钦学

关键词: 超低频,介质损耗因数,浸水特性

来源: 绝缘材料 2019年12期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑

专业: 电力工业

单位: 国网北京市电力公司电力科学研究院,西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室

分类号: TM855

DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2019.12.010

页码: 53-57

总页数: 5

文件大小: 835K

下载量: 109