钼酸铵中硅检测现状研究

论文摘要

在钼酸铵生产过程中,硅作为杂质元素存在于产品中,对钼产品的后续加工产生重大影响。目前对钼酸铵中硅的检测方法有钼蓝光度法、光谱法（直流电弧粉末法）、ICP-OES法、ICP-MS法、GD-MS法、石墨炉法。本文综述了以上几种检测方法,分析了其优缺点,展望钼酸铵中硅检测技术的发展前景。

论文目录

• 0 引言
• 1 钼蓝光度法
• 2 光谱法 （直流电弧粉末法）
• 3 电感耦合等离子体发射光谱法 （ICP-OES）
• 4 电感耦合等离子体质谱法 （ICP-MS）
• 5 辉光放电质谱法 （GD-MS）
• 6 石墨炉原子吸收光谱法 （GFAAS）
• 7 展望

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 加明,刘锦锐,周春燕

关键词: 钼酸铵,钼蓝光度法,光谱法直流电弧粉末法,石墨炉原子吸收光谱法

来源: 中国钼业 2019年01期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅰ辑

专业: 化学,无机化工

单位: 成都虹波钼业有限责任公司

分类号: TQ113.79;O657

DOI: 10.13384/j.cnki.cmi.1006-2602.2019.01.007

页码: 29-34

总页数: 6

文件大小: 240K

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