基于随机相关的电子部件二元加速退化可靠性评估

基于随机相关的电子部件二元加速退化可靠性评估

论文摘要

针对加速应力下电子部件二元相关退化可靠性分析难题,提出一种基于随机相关的可靠性分析方法。采用考虑个体差异的Wiener过程模型建立边缘退化过程模型,并基于加速因子不变原则建立了模型参数与加速应力的关系;构建了基于Copula函数的随机相关模型,采用两阶段贝叶斯参数估计方法进行参数估计,综合运用散点图、偏差信息准则(DIC)值以及Kendallτ的非参数估计值等方法进行随机相关模型选择,并采用蒙特卡罗仿真方法进行可靠度计算。最后采用实例验证了所提方法有效性,为考虑个体差异的贮存可靠性评估提供了技术支撑。

论文目录

  • 1 二元随机相关可靠性分析框架
  • 2 Wiener RDV模型
  • 3 二元随机相关加速退化数据建模
  • 4 参数估计及模型选择
  • 5 基于蒙特卡罗的可靠度计算
  • 6 实例应用
  •   6.1 边缘分布参数估计
  •   6.2 随机相关模型参数估计与模型选择
  •   6.3 可靠性评估
  • 7 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 盖炳良,滕克难,王浩伟,王文双,陈健,宦婧

    关键词: 可靠性评估,加速退化数据,二元退化,随机相关,电子部件

    来源: 北京航空航天大学学报 2019年11期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑,基础科学,信息科技

    专业: 数学,工业通用技术及设备,无线电电子学

    单位: 海军航空大学,中国人民解放军91115部队,江苏科技大学计算机学院

    基金: 国家自然科学基金(51605487)~~

    分类号: TB114.3;TN03

    DOI: 10.13700/j.bh.1001-5965.2019.0130

    页码: 2237-2246

    总页数: 10

    文件大小: 485K

    下载量: 137

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