导读:本文包含了门级模型论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:基于软件的自测试(SBST),模型检测,抽象
门级模型论文文献综述
张颖,张嘉琦,王真,江建慧[1]（2018）在《基于有界模型检测的门级软件自测试方法》一文中研究指出提出了基于有界模型检测的门级软件自测试方法.将处理器中的模块简化成约束模块,缓解状态爆炸问题.将难测故障的触发条件逐个转化成性质并且采用有界模型检测技术,搜索触发这些性质的违例.最后,将违例映射成测试指令序列,并为测试指令序列添加观测指令序列,构成自测试程序.实验结果表明:该方法在不引起状态爆炸问题的情况下,有效地测试控制器中难以测试的故障,提高了在线测试的测试质量.(本文来源于《同济大学学报(自然科学版)》期刊2018年11期）
欧阳城添,陈莉莉[2]（2018）在《基于差错概率传播模型的门级电路可靠度计算》一文中研究指出提出了一种差错概率传播模型,该方法首先将逻辑门的差错概率加载到连接导线上进行计算,再逐个计算逻辑门的正确输出概率,最后计算得到整个电路的可靠度.与传统概率转移矩阵方法比较,所提出的改进方法有效地减小了时间和空间复杂度,能适用于大规模电路的可靠性评估.(本文来源于《微电子学与计算机》期刊2018年03期）
蒿杰,彭思龙[3]（2009）在《基于超图模型的大规模门级网表层次化聚类算法》一文中研究指出为了克服现有层次化方法通用性差、运算效率不高、电路结构提取不准等缺点,提出了一种基于超图模型的层次化聚类算法.首先对网表中最基本的迭代、总线、扇入和串联结构进行自动识别,然后将这4种基本结构按不同的组合方式进行多级聚类,最终建立起了网表的层次化结构.由于文中基本结构聚类算法是专门针对超图数据结构设计的,其时间复杂度较低.实验结果表明,该算法既可以得到较准确的层次信息,又能保证较高的运算速度,对各种应用均有较好的效果.(本文来源于《计算机辅助设计与图形学学报》期刊2009年01期）
田志新,刘勇攀,杨华中[4]（2007）在《基于最大电源噪声门级模型的遗传算法电源噪声估计(英文)》一文中研究指出提出一种能够综合考虑IRdrop和di/dt噪声的门级电路模型.实验表明,利用这种模型进行电源噪声估计,可以比传统模型提高5.3 %的精度,同时运算时间降低10.7 %.根据输入信号对最大电源噪声的影响,还提出了关键输入信号模型.实验表明,在进行电源噪声估计中,基于这些模型的遗传算法,能够比传统的遗传算法提高最多19.0 %的精度,并且收敛更加迅速.(本文来源于《半导体学报》期刊2007年09期）
徐玉婷[5]（2007）在《基于子图同构的晶体管级电路门级模型抽取的研究》一文中研究指出随着VLSI的发展,电路日益增长的复杂性,使得自动从电路的晶体管级网表中抽取出门级模型变得愈发重要。在传统应用上,得到的门级模型可用于电路的功能仿真,与晶体管级仿真相比可节约大量的资源;而在形式化验证中,尤其是等价性检验中,门级模型的自动抽取也扮演着非常重要的角色。所以,必须研究开发一种抽取性能好,能处理大规模电路的门级模型抽取方案。基于子图同构的晶体管级电路门级模型抽取方法是目前较好的解决方案之一。该方法将电路转换为一个与之等价的图的结构,从而能明显降低时间复杂度,提高抽取能力。本文结合具体的研究项目,对基于子图同构的晶体管级电路的门级模型抽取进行了系统的研究,并对DECIDE算法进行了改进和实现,取得了部分研究成果。主要内容为:1.研究了晶体管级电路门级模型抽取的两大类主要方法,并对这两类方法进行了分析、比较。针对基于子图同构的抽取方法,进行了仔细的理论研究和分析,在此基础上,对经典的DECIDE算法进行了改进和实现。2.根据项目实现的具体要求,针对实现中的技术难点进行了分析,提出了本系统的实现方案,并对该方案的实现进行了可行性分析,然后给出了系统实现框图。3.根据系统要求,对系统中的每个功能模块进行了设计实现。主要包括输入处理模块、匹配模块和门级模型输出模块的设计与实现。并根据实际运算中的数据特性,对运算数据的存取进行了创新设计。4.对晶体管级电路门级模型抽取软件进行了性能分析,包括时间复杂度和内存使用两方面,并进行了系统测试,对测试结果进行了分析。5.总结了本文的主要工作,并对晶体管级电路门级模型抽取的后续工作进行了展望。(本文来源于《电子科技大学》期刊2007-04-01）
杜敏,黄敞[6]（1991）在《一种二维SOI CMOS门级瞬态数值模型》一文中研究指出本文给出一种SOI CMOS门级二维集成数值模型.该模型直接将端点电流、端点电压与内部载流子的输运过程联系在一起,可准确地模拟亚微米SOI CMOS反相器的瞬态特性、并给出清晰的内部物理图象.模型采用一种新的数值方法──交替方向法,将二维瞬态方程转化为两个相邻时间层的一维问题解,并提出动态二步迭代法以确保瞬态模拟的快速、稳定收敛.本文简要讨论了SOI CMOS器件中少子的累积对电路瞬态特性的影响.本模型还可用于计算辐射对SOI器件的影响以及研究漏电机理,它为高可靠亚微米SOI器件及电路的研制提供了方便的CAD工具.(本文来源于《半导体学报》期刊1991年02期）
门级模型论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
提出了一种差错概率传播模型,该方法首先将逻辑门的差错概率加载到连接导线上进行计算,再逐个计算逻辑门的正确输出概率,最后计算得到整个电路的可靠度.与传统概率转移矩阵方法比较,所提出的改进方法有效地减小了时间和空间复杂度,能适用于大规模电路的可靠性评估.
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
门级模型论文参考文献
[1].张颖,张嘉琦,王真,江建慧.基于有界模型检测的门级软件自测试方法[J].同济大学学报(自然科学版).2018
[2].欧阳城添,陈莉莉.基于差错概率传播模型的门级电路可靠度计算[J].微电子学与计算机.2018
[3].蒿杰,彭思龙.基于超图模型的大规模门级网表层次化聚类算法[J].计算机辅助设计与图形学学报.2009
[4].田志新,刘勇攀,杨华中.基于最大电源噪声门级模型的遗传算法电源噪声估计(英文)[J].半导体学报.2007
[5].徐玉婷.基于子图同构的晶体管级电路门级模型抽取的研究[D].电子科技大学.2007
[6].杜敏,黄敞.一种二维SOICMOS门级瞬态数值模型[J].半导体学报.1991
标签：基于软件的自测试(SBST); 模型检测; 抽象;