活化温度对石墨烯/碳纳米片电容的影响

论文摘要

以原位合成的酚醛树脂为碳源、氧化石墨烯片为形貌导向剂,制备石墨烯/碳纳米片,再在500℃、600℃、700℃和800℃下进行KOH活化,探究活化温度对电容性能的影响。用XRD、SEM、拉曼光谱和低温N2吸脱附实验对样品进行分析,用恒流充放电与循环伏安法进行电化学性能测试。KOH活化不会破坏碳纳米片形貌,提高活化温度,可增加活化样品的比表面积和孔容;随着活化温度的提高,比电容增加;当活化温度超过700℃后,样品的比电容会降低。以0. 2 A/g的电流在0～1 V充放电,活化温度为700℃时,样品(H700)比电容最高达230 F/g。当电流增加到20. 0 A/g时,H700的比电容为175 F/g;在10 A/g下循环10 000次,H700的容量保持率为98. 6%。

论文目录

• 1 实验
•   1.1 石墨烯/碳纳米片的制备与活化
•   1.2 形貌与结构测试
•   1.3 电容器的组装及电化学性能测试
•   2.1 物理性质分析
•   2.2 电化学性能测试
• 3 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 方华,孟凡腾,王利霞,张世超

关键词: 石墨烯,多孔碳,纳米片,活化,超级电容器

来源: 电池 2019年03期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑

专业: 电力工业

单位: 郑州轻工业大学材料与化学工程学院,北京航空航天大学材料科学与工程学院

基金: 国家自然科学基金(U1504204),国家重点基础研究发展计划(2013CB934001)

分类号: TM53

DOI: 10.19535/j.1001-1579.2019.03.003

页码: 191-194

总页数: 4

文件大小: 327K

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