TFT-LCD制程对低频横纹色差的影响及研究

论文摘要

LC配向的均一性在LCD中是必不可少的,光配向制程是通过施加紫外偏振光照射在IPS（In-Plane Switch）LCD中形成液晶配向沟槽的一种技术,然而紫外光照射的同时会损伤TFT器件,使非晶硅层产生光生载流子,电子发生迁移,导致TFT漏电流从而影响图像品质,产生横纹色差。在低频时,栅极开关时间延长,相邻扫描线之间容易发生混充电现象,部分充电截止的像素重新充电,从而使横纹色差变严重。本文从制程和电性调整方面对低频横纹色差进行了研究,结果表明:（1）紫外光照射后进行烘烤,可以有效降低漏电流,高温度（240℃）+长时间（4 200s）改善低频横纹色差效果佳（比例:0.00%）;（2）延长Out Enable（4.8μs）+降低Vgh（18V）+提高GOA（Gate On Array）电路中电压VSSQ（-7.5V）,改善低频横纹色差效果佳（比例:0.00%）。

论文目录

• 1 引言
• 2 实验
•   2.1 横纹色差现象
•   2.2 横纹色差初步分析
•   2.3 实验条件
•   2.4 测试与表征
• 3 结果与讨论
•   3.1 TFT电学特性实验
•     3.1.1 紫外光功率对TFT电学特性的影响
•     3.1.2 紫外光累积光量对TFT电学特性的影响
•     3.1.3 紫外光后烘烤温度对TFT电学特性的影响
•     3.1.4 紫外光后烘烤时间对TFT电学特性的影响
•   3.2 横纹色差实验
•     3.2.1 制程调整
•       3.2.1. 1 光配向制程
•       3.2.1. 2 增加TFT OC厚度
•     3.2.2 时序和驱动电压调整
•       3.2.2. 1 延长Out Enable
•       3.2.2. 2 降低Vgh
•       3.2.2. 3 提高VSS＿Q
•     3.2.3 实验结果
• 4 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 顾小祥,杨丽,曾龙

关键词: 光配向,低频横纹色差,漏电流

来源: 液晶与显示 2019年02期

年度: 2019

分类: 基础科学,信息科技,工程科技Ⅰ辑

专业: 化学

单位: 昆山龙腾光电有限公司

分类号: O753.2

页码: 160-168

总页数: 9

文件大小: 530K

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