用于太阳光谱仪的光电探测系统线性度测试装置

论文摘要

依据光叠加原理研制了一台太阳光谱仪光电探测系统线性度测试装置。该测试装置由300 W高稳定度氙灯光源、250 W卤钨灯光源、双层中性滤光片轮、双孔光阑及光学成像系统组成。依靠中性滤光片改变光束强度,依靠独立开闭的双光阑和光学成像系统实现光流叠加。该装置工作波段为200～2 400 nm,可模拟紫外-可见-红外波段地外太阳光谱辐照度,动态范围为104,已用于太阳光谱仪等光谱仪和硅光电二极管标准探测器等光电探测系统线性测量。

论文目录

• 1 引言
• 2 光电探测系统线性度测量方法
• 3 实验装置
• 4 本文光电探测系统线性测量实验
•   4.1 硅光电二极管探测器线性测量
•     4.1.1 光谱响应度稳定性和区域响应度均匀性实验
•     4.1.2 S2281-31100硅光电二极管线性度测量
•   4.2 可见波段太阳光谱仪光电探测系统线性度测量
•     4.2.1 可见波段太阳光谱仪光谱辐照度响应度稳定性及区域光谱辐照度响应度均匀性
•     4.2.2 可见波段太阳光谱仪光电探测系统线性度测量
• 5 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 孙德贝,李志刚,李福田

关键词: 线性度,探测系统,光谱仪,辐射度

来源: 中国光学 2019年02期

年度: 2019

分类: 基础科学,工程科技Ⅱ辑

专业: 仪器仪表工业

单位: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,中国科学院大学

分类号: TH74

页码: 294-301

总页数: 8

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