MC模拟稻米中Cd元素的XRF法检测

论文摘要

对XRF法测定稻米中重金属元素时X射线管激发条件和滤光片等测量条件的选择作了理论分析;以Cd元素为例,讨论其最优方案,再通过MC软件进行蒙特卡罗模拟,计算出峰背比,得到各最优值,验证理论分析的准确性。X射线管采用激发较强初级X射线的W靶,管压模拟结果显示,最佳值为80 kV,与理论估算相吻合;滤光片模拟结果显示:Al、Fe和Cu滤光片的厚度分别在1 800、200和130μm时,峰背比最大,三者均与理论估算一致。通过比较,滤光片的最佳条件应为200μm的Fe片。

论文目录

• 1 测量条件的选择
•   1.1 靶材
•   1.2 管压
•   1.3 滤光片
• 2 MC模拟条件及数据处理
•   2.1 模拟条件
•   2.2 数据处理
• 3 模拟结果分析
•   3.1 峰背比与管压关联性
•   3.2 峰背比与滤光片厚度关联性
• 4 实验验证
• 5 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 张丽娇,汤彬,李福生,刘志锋,张雄杰,张焱

关键词: 重金属元素,射线荧光光谱法,靶材,管压,滤光片

来源: 核电子学与探测技术 2019年02期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑

专业: 化学,轻工业手工业

单位: 东华理工大学核技术应用教育部工程研究中心,江西省核资源与环境重点实验室

基金: 国家重点研发计划专项(2017YFF0104200),国家自然科学基金(41330318,11765001),核技术应用教育部工程研究中心基金(HJSJYB2018-1),江西省教育厅科技计划(GJJ150608)资助

分类号: O657.34;TS210.7

页码: 173-177

总页数: 5

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