SiO2包覆羰基铁粉电磁特性及吸波性能研究

论文摘要

通过正硅酸乙酯（TEOS）水解,在羰基铁表面包覆SiO2,对其进行表面改性,研究表面包覆时间对电磁特性和吸波性能的影响。采用XRF、FT–IR对样品的元素及化学键进行表征,使用TEM分析样品表面形貌,确定包覆层厚度。利用矢量网络分析仪对样品的电磁参数进行测量,研究其吸波性能。结果表明:羰基铁表面包覆层厚度约为40～60nm,随包覆时间延长,包覆层厚度逐渐增加并致密;经模拟,包覆后同等厚度样品对电磁波的吸收峰向高频移动,频带宽度（RL≤–10dB）明显增加;包覆2h样品,反射损耗最小,最佳反射损耗值为–45.18dB,展现出了良好的吸波性能。

论文目录

• 1 试验及方法
•   1.1 试验材料
•   1.2 试验步骤
•   1.3 测试与表征
• 2 结果与讨论
•   2.1 XRF测试
•   2.2 FT–IR测试
•   2.3 TEM测试
•   2.4 电磁参数测试
•   2.5 吸波性能模拟计算
• 3 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 刘晓彤,曾元松,韦国科,尹贻超,张行,高路

关键词: 表面改性,羰基铁粉,正硅酸乙酯,表面包覆,吸波性能

来源: 航空制造技术 2019年22期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑

专业: 材料科学

单位: 中国航空制造技术研究院

分类号: TB34

DOI: 10.16080/j.issn1671-833x.2019.22.082

页码: 82-87

总页数: 6

文件大小: 1502K

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