基于威布尔分布的某电子部件贮存可靠性寿命评估

论文摘要

针对电子高可靠性、长寿命的特点,提出了使用定时截尾恒定应力加速寿命试验方法来评估电子部件件在一定可靠度下的贮存寿命。建立威布尔分布加速寿命模型,采用极大似然法进行参数估计,得到模型未知参数的极大似然估计结果,最后外推得到正常温度下的贮存寿命。结果表明,在25℃下可靠度为0.995时,使用定时截尾恒定应力加速寿命试验方法评估电子部件的寿命约为17.26年,与该电子部件合格证明文件中标明的一般贮存时间15-20年相比,预测结果与实际情况基本相符,验证了使用定时截尾恒定应力加速寿命试验方法评估电子部件寿命的有效性。

论文目录

• 0 引言
• 1 可靠性寿命评估的数学模型
•   1.1 基本所设
•   1.2 威布尔寿命分布模型
•   1.3 寿命特征的参数估计
• 2 加速寿命试验的设计方案
•   2.1 加速应力水平的选择
•   2.2 失效判据的确定
•   2.3 检测时间点的确定
•   2.4 试验步骤
• 3 试验结果与分析
•   3.1 试验结果
•   3.2 数据处理
• 4 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 陈愿

关键词: 定时截尾,恒定应力,加速寿命试验,威布尔分布

来源: 电子元器件与信息技术 2019年01期

年度: 2019

分类: 信息科技,基础科学,工程科技Ⅱ辑

专业: 数学,工业通用技术及设备

单位: 中国电子科技集团公司第三十八研究所

分类号: TB114.3

DOI: 10.19772/j.cnki.2096-4455.2019.1.001

页码: 1-4+14

总页数: 5

文件大小: 1467K

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