等离子体射流处理对聚全氟乙丙烯薄膜沿面绝缘特性的影响研究

等离子体射流处理对聚全氟乙丙烯薄膜沿面绝缘特性的影响研究

论文摘要

闪络现象严重制约电气设备的设计制造和安全稳定运行,而绝缘材料的表面状态及特性对闪络有着重要影响。为探索聚合物材料表面带电特性对真空闪络的影响规律,利用大气压等离子体射流对聚全氟乙丙烯薄膜进行表面处理,研究不同处理条件对材料表面绝缘特性的影响规律。对处理前后材料的表面化学组成、表面陷阱能级分布及空间电荷分布进行测量和分析。结果表明:表面处理在材料表面引入了含Si的无机基团,并使材料表面陷阱能级轻微变浅,材料表面陷阱密度明显增加,且陷阱密度增加趋势与空间电荷分布呈现出一定的正相关性。开展了处理前后薄膜材料的真空沿面闪络实验,实验结果表明:材料的真空沿面耐压随陷阱密度的增加出现先增加后降低的现象。研究结果表明,大气压等离子体表面处理能够在一定范围内调控材料表面陷阱参数,适当增加材料表面陷阱密度,有助于提高材料真空沿面耐压。

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文章来源

类型: 期刊论文

作者: 胡多,任成燕,章程,邱锦涛,孔飞,邵涛,严萍

关键词: 陷阱参数,空间电荷,真空闪络,等离子体射流,聚合物

来源: 中国电机工程学报 2019年15期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑

专业: 电力工业

单位: 中国科学院电力电子与电气驱动重点实验室(中国科学院电工研究所),中国科学院大学

基金: 国家自然科学基金项目(51477163,11575194,51807189),中国科学院科研仪器设备研制项目(YJKYYQ20170004),特高压工程技术(昆明,广州)国家工程实验室项目(NEL201703)~~

分类号: TM21

DOI: 10.13334/j.0258-8013.pcsee.181317

页码: 4633-4641

总页数: 9

文件大小: 799K

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