导读:本文包含了自动测试产生论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:测试,产生器,算法,静电,模型,反馈,向量。
自动测试产生论文文献综述
李映晟,石远东[1]（2014）在《基于LXI的干扰控制及信号产生设备自动测试系统设计》一文中研究指出干扰控制及信号产生设备指标类型多样,当前的测试方式流程繁杂,人工工作量大。干扰控制及信号产生设备的自动测试系统提供了高精度的测试环境,简化了测试流程,提高了测试可靠性与效率。介绍了基于LXI的干扰控制及信号产生设备自动测试系统的实施方案。(本文来源于《舰船电子对抗》期刊2014年04期）
王玉峰,邵旭东,刘锦涛[2]（2011）在《机载设备自动测试车间静电的产生与防护》一文中研究指出在分析了静电产生、传播的途径以及危害等内容的基础上,针对机载设备自动测试车间(ATE车间)的特点,提出了ATE车间防止静电危害的有效措施及方法。(本文来源于《装备制造技术》期刊2011年05期）
邝继顺,刘钦,尤志强[3]（2008）在《由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成》一文中研究指出用伪随机向量加确定性向量对数字电路进行测试是一种常用的测试方法。本文针对由被测电路自己产生测试向量取代LFSR伪随机向量,提出一种基于遗传算法的自动测试向量生成算法。将该算法生成的测试向量与MinTest给出的部分确定性测试向量结合起来对电路进行测试。文中给出了一些加速自动测试生成过程的有效措施。模拟实验结果表明,本文提出的方法较传统的LFSR与ROM相结合的测试方法,在不降低故障覆盖率的情况下,测试向量总长度和ROM大小分别降低了16.40%和33.26%。(本文来源于《第五届中国测试学术会议论文集》期刊2008-05-01）
刘钦[4]（2008）在《由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成方法研究》一文中研究指出近年来,集成电路芯片向着深亚微米、纳米方向发展,其功能日益复杂,集成密度成倍增加。这样的发展趋势一方面使得集成电路越来越精密,功能日渐强大,方便人们的生产生活;另一方面,复杂的内部结构,高速的系统时钟也给电路的测试带来了巨大的困难。随着传统的测试方法越来越无法跟上集成电路发展的脚步,人们提出了可测试性设计:即在电路设计时,就充分考虑电路如何测试的问题,使得电路在生产出来以后能比较容易地被测试。扫描路径测试(Scan Path Test,SPT)、边界扫描测试(Boundary Scan Test,BST)、内建自测试(Build In Self Test,BIST)是常用的几种可测试性设计技术。另一方面,随着集成电路测试问题的复杂化,遗传算法作为一种成熟的优化算法,近年来也被广泛应用于集成电路测试领域,解决了许多实际问题。本文在阐述数字电路测试和遗传算法的基本理论的基础上,分析了BIST技术尤其是LFSR(Linear Feedback Shift Register)和存储式TPG(Test Pattern Generator)相结合的混合BIST技术的基本原理。针对这些测试技术中存在的一些问题,提出了一种由被测电路(Circuit Under Test,CUT)自己产生测试向量的自动测试生成方法。该方法将被测电路不仅仅看作是被测的对象,而且将其当成是一种可利用的资源。该方法使用寄存器捕获电路部分内部节点对当前测试向量的响应,并反馈到原始输入端作为下一个测试向量。通过这样的一种“自反馈”结构,被测电路在施加了第一个测试向量后,后续的测试向量可以自动生成,有效的避免了存储所有的测试向量所带来的巨大开销。文章以C17电路为例,详细介绍了该方法的基本思想及具体的实施过程。并结合测试集海明距离和电路节点偏移率,给出了一个可行的基于遗传算法的测试向量生成算法。通过对benchmark 85基准电路的实验,证明该算法能够在较短时间内寻找到一种近似最优的反馈方式,该反馈方式所确定的测试集能在较短的向量长度下达到较高的故障覆盖率。文章中还提出了非分段重播种、分段重播种及重换反馈组合等多种方法,对伪随机向量故障覆盖率不足的问题进行改进,并进行了相关的实验。最后,本文参照LFSR和存储式TPG相结合的混合BIST,提出使用精简后的MINTEST测试集作为对通过“自反馈”结构生成的测试集的补充,来完成对电路剩余故障的测试。相关的实验数据表明,该方法在不降低故障覆盖率的情况下,测试向量总长度和ROM大小相比较LFSR和存储式TPG相结合的混合BIST方法分别平均降低了16.40%和33.26%,充分说明了本方法的可行性。(本文来源于《湖南大学》期刊2008-04-17）
周献中,孙勇成,江金龙[5]（2006）在《基于使用模型和遗传算法的测试数据自动产生技术》一文中研究指出测试数据的自动产生技术是软件测试的一个重要研究领域,是提高软件测试效率和效果的有效方法。为保证被测对象中实际运行更频繁的部分得到更充分的测试,把使用模型和遗传算法相结合,以整个被测试对象所需测试数据量为优化目标,给出了相应的规划模型,并提出了路径权重和目标路径集的确定方法,设计的适应性函数综合考虑了路径权重、路径覆盖率和路径接近程度叁要素。实例证明了模型与方法的合理性及有效性。(本文来源于《兵工学报》期刊2006年06期）
赵玉兰,曾敏,叶新铭[6]（2004）在《自动产生TTCN测试套以及对RIP协议的应用》一文中研究指出对协议测试套的产生大部分都是手工寻找的,介绍一个在GE-LOTOS的基础上自动产生TTCN测试套的工具,该工具是基于由形式描述技术语言E-LOTOS转换成的GE-LO-TOS.并对Internet上的一个标准路由信息协议(RIP协议)进行了TTCN测试套的应用.(本文来源于《内蒙古大学学报(自然科学版)》期刊2004年06期）
石茵,魏道政[7]（1997）在《一种低成本的测试码自动产生算法》一文中研究指出为了降低超大规模集成电路（ＶＬＳＩ）测试中的测试产生和测试应用代价，本文提出了一种低成本的测试码自动产生算法──临界路径跟踪测试产生（ＣＰＴＴＧ）．本文主要从算法的搜索策略、扇出源的临界性确定及测试产生过程中的加速技术叁个方面，介绍ＣＰＴＴＧ的主要思想和关键技术．文中给出了ＣＰＴＴＧ对国际通用的１０个组合电路范例的实验结果，表明了ＣＰＴＴＧ可以在较短时间内获得具有较高故障覆盖率的较小测试集．(本文来源于《计算机学报》期刊1997年08期）
管泽武[8]（1996）在《S15测试程序自动产生器的设计》一文中研究指出1 前言在测试系统上要开发一个数字电路测试程序,除了要研究、分析电路的功能、性能和进行测试程序的设计外,还需要经过下图所示的几个步骤:(本文来源于《微电子测试》期刊1996年01期）
自动测试产生论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
在分析了静电产生、传播的途径以及危害等内容的基础上,针对机载设备自动测试车间(ATE车间)的特点,提出了ATE车间防止静电危害的有效措施及方法。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
自动测试产生论文参考文献
[1].李映晟,石远东.基于LXI的干扰控制及信号产生设备自动测试系统设计[J].舰船电子对抗.2014
[2].王玉峰,邵旭东,刘锦涛.机载设备自动测试车间静电的产生与防护[J].装备制造技术.2011
[3].邝继顺,刘钦,尤志强.由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成[C].第五届中国测试学术会议论文集.2008
[4].刘钦.由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成方法研究[D].湖南大学.2008
[5].周献中,孙勇成,江金龙.基于使用模型和遗传算法的测试数据自动产生技术[J].兵工学报.2006
[6].赵玉兰,曾敏,叶新铭.自动产生TTCN测试套以及对RIP协议的应用[J].内蒙古大学学报(自然科学版).2004
[7].石茵,魏道政.一种低成本的测试码自动产生算法[J].计算机学报.1997
[8].管泽武.S15测试程序自动产生器的设计[J].微电子测试.1996
论文知识图
