某发射筒端盖密封失效分析

论文摘要

某发射筒端盖在周转过程中出现密封失效,通过理化检验和失效模拟试验等方法,对该端盖密封失效的原因进行了分析。结果表明:端盖外表面在周转过程中受到机械外力作用产生了裂纹,裂纹不断扩展导致泄漏失效;将包装箱内缓冲材料厚度适当增加,使发射筒与缓冲材料的间隙小于1mm,可有效避免此类失效的发生。

论文目录

• 1 理化检验
•   1.1 泄漏检测
•   1.2 宏观检验
•   1.3 浸水气密试验
• 2 失效分析与讨论
•   2.1 老化失效
•   2.2 机械失效
•   2.3 解决措施及验证
• 3 结论及建议

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 柯贤朝,林彬,杨薛军,蔡玄龙,李小慧

关键词: 发射筒端盖,裂纹,密封性,机械失效

来源: 理化检验(物理分册) 2019年10期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑

专业: 金属学及金属工艺,机械工业

单位: 上海材料研究所上海市工程材料应用与评价重点实验室,空装驻上海地区第一军事代表室

分类号: TG115;TH136

页码: 730-732

总页数: 3

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