贵金属检测用X射线荧光光谱仪专利技术分析

贵金属检测用X射线荧光光谱仪专利技术分析

论文摘要

贵金属因其价值高,对测量精度要求较高,X射线荧光光谱技术作为一种无损检测技术,检出限在μg/g量级范围内,特别适合用来检测样品中贵金属元素的组成和含量,已经成为贵金属分析领域中的主要检测手段。文章旨在对适用于贵金属检测的XRF专利申请进行分析;理清其技术发展脉络,合理预期其未来发展趋势,供相关研究人员和企业参考。

论文目录

  • 1 概述
  • 2 专利技术发展路线
  • 3 结束语
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 全先荣

    关键词: 射线荧光光谱,贵金属,无损检测,专利技术

    来源: 科技创新与应用 2019年15期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑,经济与管理科学

    专业: 仪器仪表工业,科学研究管理

    单位: 国家知识产权局专利局专利审查协作江苏中心

    分类号: TH744.1;G306

    页码: 18-19

    总页数: 2

    文件大小: 67K

    下载量: 232

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