全文摘要
本实用新型涉及滤波器调试技术领域，本实用新型提供一种滤波器的螺杆深度参数调试系统。所述系统包括：滤波器、所述滤波器上设有至少一个螺杆，调试装置；所述滤波器的腔体的一端面所在平面为第一平面；所述螺杆位于调试的起始位置时，所述螺杆的末端所在的平面为第二平面，其中，所述第二平面平行于所述第一平面；所述调试装置的基准面为第三平面，所述第三平面平行于所述第一平面；其中，所述螺杆插设或拔离于所述滤波器的腔体对应的插孔，所述螺杆插设于所述插孔的深度可调节；所述调试装置是通过对所述螺杆插设于所述插孔的深度的控制进行调试，并获取所述深度参数。该系统保证了调试系统在水平精度上的准确度。
主设计要求
1.一种滤波器的螺杆深度参数调试系统，其特征在于，包括：滤波器、所述滤波器上设有至少一个螺杆，调试装置；所述滤波器的腔体的一端面所在平面为第一平面；所述螺杆位于调试的起始位置时，所述螺杆的末端所在的平面为第二平面，其中，所述第二平面平行于所述第一平面；所述调试装置的基准面为第三平面，所述第三平面平行于所述第一平面；其中，所述螺杆插设或拔离于所述滤波器的腔体对应的插孔，所述螺杆插设于所述插孔的深度可调节；所述调试装置是通过对所述螺杆插设于所述插孔的深度的控制进行调试，并获取所述深度参数。
设计方案
1.一种滤波器的螺杆深度参数调试系统，其特征在于，包括：
滤波器、所述滤波器上设有至少一个螺杆，调试装置；
所述滤波器的腔体的一端面所在平面为第一平面；
所述螺杆位于调试的起始位置时，所述螺杆的末端所在的平面为第二平面，其中，所述第二平面平行于所述第一平面；
所述调试装置的基准面为第三平面，所述第三平面平行于所述第一平面；
其中，所述螺杆插设或拔离于所述滤波器的腔体对应的插孔，所述螺杆插设于所述插孔的深度可调节；
所述调试装置是通过对所述螺杆插设于所述插孔的深度的控制进行调试，并获取所述深度参数。
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，
所述调试装置包括记录所述螺杆在垂直于所述第二平面的方向上的深度运动轨迹信息的电批；
所述电批垂直于所述第三平面的方向上移动，与所述螺杆对接。
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，
所述电批用于记录所述螺杆插设或拔离于所述滤波器所转动的圈数；
通过所述圈数和所述电批的螺距，得到所述螺杆在垂直于所述第二平面的方向上的深度运动轨迹信息。
4.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，
所述电批用于记录所述螺杆插设或拔离于所述滤波器时的转速和时间，得到所述螺杆在垂直于所述第二平面的方向上的深度运动轨迹信息。
5.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述调试装置还包括：
与所述第三平面平行设置的龙门架；
其中，所述龙门架的x轴和y轴平行于所述第三平面，z轴垂直于所述第三平面；
所述电批在所述龙门架的x轴和y轴所形成的平面上平行移动。
6.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述调试装置还包括：
与所述电批固定设置的机械臂的末端；
所述机械臂用于带动所述电批在所述第二平面移动，并移动至对应调试的螺杆上方时，控制所述电批沿着z轴方向移动以与所述螺杆对接。
7.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，当滤波器的螺杆深度参数调试系统包括多个螺杆时，所述调试装置还包括：
测试所述电批与所述第一平面的距离的测距仪；
所述测距仪用于测试每个所述电批在对接每个螺杆时与所述第一平面的距离，使得每个所述距离相同。
设计说明书
【技术领域】
本实用新型涉及滤波器调试技术领域，尤其涉及一种滤波器的螺杆深度参数调试系统。
【背景技术】
滤波器是通信领域的常用设备，通常用以连接射频器件和天线，起到滤除带外信号，保证带内信号低损耗传输的目的。目前大多数滤波器是金属腔体滤波器，腔体表面会设计若干调试螺杆，通过对这些调试螺杆的插设于滤波器的深度，对滤波器的性能进行调试，以达到设计要求。
目前，对于螺杆的深度调试，通常使用龙门架。调试所述螺杆的位置信息预先设定，所述电批在龙门架上沿x轴和y轴移动，到达目标螺杆的位置时，再沿z轴做上下的移动。在通常的情况下，将所述滤波器和所述龙门架置于同一水平面上进行调试。但是所述龙门架的x轴与y轴事实上是带刻度的机械臂，加工的误差，长期使用的损耗，都使得x轴y轴构成的平面难以与所述滤波器所在平面保持水平，这样所构成的xyz坐标系，也难以保证z轴上的精度。
【实用新型内容】
为克服以上技术问题，特别是现有技术中利用龙门架对滤波器螺杆的调试精度不高的问题，特提出以下技术方案：
本实用新型提供一种滤波器的螺杆深度参数调试系统，其包括：
滤波器、所述滤波器上设有至少一个螺杆，调试装置；
所述滤波器的腔体的一端面所在平面为第一平面；
所述螺杆位于调试的起始位置时，所述螺杆的末端所在的平面为第二平面，其中，所述第二平面平行于所述第一平面；
所述调试装置的基准面为第三平面，所述第三平面平行于所述第一平面；
其中，所述螺杆插设或拔离于所述滤波器的腔体对应的插孔，所述螺杆插设于所述插孔的深度可调节；
所述调试装置是通过对所述螺杆插设于所述插孔的深度的控制进行调试，并获取所述深度参数。
在其中一个实施例中，所述调试装置包括记录所述螺杆在垂直于所述第二平面的方向上的深度运动轨迹信息的电批；
所述电批垂直于所述第三平面的方向上移动，与所述螺杆对接。
在其中一个实施例中，所述电批用于记录所述螺杆插设或拔离于所述滤波器所转动的圈数；
通过所述圈数和所述电批的螺距，得到所述螺杆在垂直于所述第二平面的方向上的深度运动轨迹信息。
在其中一个实施例中，所述电批用于记录所述螺杆插设或拔离于所述滤波器时的转速和时间，得到所述螺杆在垂直于所述第二平面的方向上的深度运动轨迹信息。
在其中一个实施例中，所述调试装置还包括：
与所述第三平面平行设置的龙门架；
其中，所述龙门架的x轴和y轴平行于所述第三平面，z轴垂直于所述第三平面；
所述电批在所述龙门架的x轴和y轴所形成的平面上平行移动。
在其中一个实施例中，所述调试装置还包括：
与所述电批固定设置的机械臂的末端；
所述机械臂用于带动所述电批在所述第二平面移动，并移动至对应调试的螺杆上方时，控制所述电批沿着z轴方向移动以与所述螺杆对接。
在其中一个实施例中，当滤波器的螺杆深度参数调试系统包括多个螺杆时，所述调试装置还包括：
测试所述电批与所述第一平面的距离的测距仪；
所述测距仪用于测试每个所述电批在对接每个螺杆时与所述第一平面的距离，使得每个所述距离相同。
本申请提供的一种滤波器的螺杆深度参数调试系统，通过所述调试装置的固定主体所在的第三平面与所述滤波器的腔体的一端面所在的第一平面平行设置，即对调试装置所在的平面与滤波器所在的平面相对平行，排除了现有技术中龙门架的精度误差，避免了因龙门架的精度误差所造成难以与所述滤波器所在平面保持水平和难以保证z轴上的精度的问题，从而保证了调试系统在水平精度上的准确度，从而提升了调度结果在z轴上即深度参数调试的精度。
本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。
【附图说明】
图1为本实用新型中的一个实施例的滤波器的螺杆深度参数调试系统的结构示意图；
图2为本实用新型中的又一个实施例的滤波器的螺杆深度参数调试系统的结构示意图；
图3为本实用新型中的另一个实施例的滤波器的螺杆深度参数调试系统的结构示意图。
【具体实施方式】
下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能解释为对本实用新型的限制。
参照图1-3，图1-3为本实用新型中的部分实施例的滤波器1的螺杆2深度参数调试系统的结构示意图。本申请所提供的滤波器1的螺杆2深度参数调试系统包括：滤波器1、设置在所述滤波器1上的至少一个螺杆2和调试装置3。其中，所述螺杆2插设或拔离于所述滤波器1的腔体中对应的插孔，且所述螺杆2在所述滤波器1的腔体中，更具体的为所述插孔中的深度可以进行调节，以实现滤波器1滤波带外信息的性能。
所述滤波器1所在的平面，在本实施例中为腔体的一端面所在平面为第一平面P1。该一端面，可以是腔体的顶端面或底端面。为了便于说明，在以下的实施例描述中，均以滤波器的腔体的顶端面作为第一平面P1进行说明。
当所述螺杆2位于调试的起始位置时，其末端所在的平面为第二平面P2，且该第二平面P2平行于第一平面P1。在本实施例中，当所述螺杆2位于所述调试的起始位置时，所述螺杆2的末端刚好离开滤波器1的腔体的顶端面的位置，这时，所述螺杆2的末端刚好脱离所述腔体。所述螺杆2的末端为靠近所述滤波器1的一端。
所述调试装置3，是通过所述螺杆2在所述插孔的深度的控制进行螺杆2深度参数的调试，并通过调试获取所述深度参数。
在本申请中，以所述调试装置3的固定主体所在的平面为其基准面，该基准面所在的平面为第三平面P3，所述第三平面P3平行于所述第一平面P1。根据上述关于所述第二平面P2与所述第一平面P1的平行关系，同样地，所述第三平面P3平行于所述第二平面P2。
所述调试装置3的固定主体所在的第三平面P3，根据所述调试装置3不同的构成形式，如图1所示，所述调试装置3的基准面所在的第三平面P3位于所述第二平面P2的上方。如图2所示，所述调试装置3的基准面所在的第三平面P3位于所述滤波器1的底部所在的平面或下方。如图3所示，所述调试装置3的基准面所在的第三平面P3位于所述第一平面P1和所述第二平面P2之间或的位置。
本申请提供的一种滤波器1的螺杆2深度参数调试系统，通过所述调试装置3的固定主体所在的第三平面P3与所述滤波器1的腔体的一端面所在的第一平面P1平行设置，即对调试装置3所在的平面与滤波器1所在的平面相对平行，排除了现有技术中龙门架32的精度误差，避免了因龙门架32的精度误差所造成难以与所述滤波器1所在平面保持水平和难以保证z轴上的精度的问题，从而保证了调试系统在水平精度上的准确度，从而提升了调度结果在z轴上即深度参数调试的精度。
在本申请中，提供一种实施例，所述调试装置3包括电批31。所述电批31是用于记录所述螺杆2在垂直于所述第二平面P2的方向上的深度运动轨迹信息的。当所述电批31完成对所述螺杆2的深度的调试的过程中，所述电批31垂直于所述第三平面P3的方向上下移动，在与对应螺杆2所在z轴方向上，所述电批31通过上下移动，与该螺杆2实现对接，从而实现对该螺杆2在z轴方向上，即垂直于所述第三平面P3的方向上下移动。所述螺杆2在所述插孔的深度可以得到调节，实现对螺杆2的深度参数的调试。
在本实施例中，所述电批31为电批31，在调试的过程中，通过对所述电批31的参数或固定参数的获取，得到所述螺杆2在垂直于所述第二平面P2的方向上的深度运动轨迹信息。
在该实施例的第一个实施方式中，所述电批31为电动电批31，可以记录其长度延长或缩短的过程中，其所转动的圈数。在对所述螺杆2调试的过程中，所述电批31与所述螺杆2的头部固定对接，带动所述螺杆2沿着z轴上下移动，使得所述螺杆2插设或拔离于所述滤波器1，具体对应于所述滤波器1中对应的插孔，同时得到所述螺杆2在垂直于所述第二平面P2的方向上的深度运动轨迹信息。
具体得到所述深度运动轨迹信息的过程为：
对应任意一螺杆2Mi的深度运动轨迹信息为：
Li＝d+螺距*圈数
其中，d为螺杆2在调试的起始位置与第一平面P1的偏移量，所述螺距为所选电批31的国际标准螺距，所述圈数为电批31在深度运动轨迹中所转动的次数，但要考虑电批31转动的正反方向。
在本实施方式中，如采用m6标准螺杆2，其螺距为1mm。若先设置电批31的运动圈数为正向3.01圈，则运动轨迹为z轴上的+3.01mm；之后设置电批31的运动圈数为负向2.02圈，则运动轨迹为z轴上的-2.02mm。所述电批31根据上述转动，在z轴上的距离为0.99mm。通过将距离测量转化为对深度运动轨迹的记录，通过对螺距在360度上的切分，实现了z轴上螺杆2距离的精准控制。
在该实施例的第二个实施方式中，与上述的第一个实施方式的区别在于，所述电批31是记录其长度延长或缩短的过程中，所转动的转速和时间的。
对应该实施方式，具体得到所述深度运动轨迹信息的过程为：
对应任意一螺杆2Mi的深度运动轨迹信息为：
Li＝d+v*t
其中，v为螺杆2在调试的过程中的转速，t为螺杆2在调试的过程中的所使用的时间。
如假定电批31转速为600转\/分钟，为了实现在m6标准螺杆2上0.1mm的移动，则该电批31需要在该转速下工作0.01秒。
对应该实施例中的任一种实施方式，若调试的过程涉及n个螺杆2(n≥≥2)，计为M1至Mn，其相对于与第一平面P1的距离分别为L1至Ln，则螺杆2的深度运动轨迹信息，就转化为了一组不断更新的Li(i＝1∶n)。
对于上述的使用电批31的实施例中，可以利用人工对螺杆2进行逐个调试，并获取相应的深度运动轨迹信息。在人工控制所述电批31的过程中，可以将所述电批31的顶端所在的平面为所述调试装置3的基准面为第三平面P3，所述电批31在所述第三平面P3上移动至对应螺杆2进行逐个调试，并对每次调试的电批31参数进行记录从而得到所述螺杆2对应的深度运动轨迹信息。
同样地，上述的使用电批31的实施例，也可以进一步增加其他机构，以提高调试的效果。
如图1所示，图1为本实用新型中的一个实施例的滤波器1的螺杆2深度参数调试系统的结构示意图。在上述运用所述电批31的实施例的基础上，所述调试装置3还包括龙门架32。该龙门架32与所述第三平面P3平行设置的。具体为，该龙门架32的x轴和y轴平行于所述第三平面P3，z轴则垂直于所述第三平面P3。在本实施例中，所述龙门架32与所述第三平面P3重叠，即所述龙门架32的x轴和y轴所形成的平面为所述调试装置3的基准面。
所述电批31在所述龙门架32的x轴和y轴所形成的平面上平行移动，使其沿着所述电批31平行于所述第三平面P3进行移动。由于所述第三平面P3平行于所述第一平面P1，所述电批31平行于所述第一平面P1进行平行移动，以保证电批31在调试的过程中，不会受到所述龙门架32的损耗而影响对螺杆2的调试精度。在该实施例中，所述龙门架32可位于所述第二平面P2上方，也就是电批31移动平面的上方。这时，所述调试装置3的基准面，也就是位于第二平面P2上方。如图2所示，图2为本实用新型中的又一个实施例的滤波器1的螺杆2深度参数调试系统的结构示意图。在上述运用所述电批31的实施例的基础上的又一个实施例，所述调试装置3还包括机械臂33。该机械臂33与所述电批31固定设置。具体为机械臂33的末端与该电批31的顶部固定设置。机械臂33带动该电批31在所述第二平面P2上进行移动，并移动至对应调试的螺杆2上方时，控制所述电批31沿着z轴方向移动以与所述螺杆2对接。这样，本实施例排除所述机械臂33与所述滤波器1缺乏参照平面容易造成水平度不高的问题，保证了所述电批31运动的平面与所述滤波器1所在的第一平面P1是平行的，以保证调试系统不会因所述调试装置3的水平度不高而影响调试的精度。在该实施例中，所述机械臂33的固定主体可以位于所述第一平面P1的下方。这时，所述调试装置3的基准面，也就是位于第一平面P1下方。
如图3所示，图3为本实用新型中的另一个实施例的滤波器1的螺杆2深度参数调试系统的结构示意图。在上述运用所述电批31的实施例的基础上的另一个实施例，所述滤波器1的盖板34也可作为调试装置3的组成部分。这时，所述盖板34所在的平面为调试装置3的的固定主体，所述盖板34所在的平面为第三平面P3。该第二平面P2位于螺杆所在的第二平面P2与滤波器1所在的第一平面P1之间。根据所述螺杆2的末端与盖板34的相对位置，得到螺杆2深度运动轨迹信息。
在上述运用所述电批31的实施例的基础上的再一个实施例，所述调试装置3还包括测距仪(图未示)。所述测距仪用于测试所述电批31与所述第一平面P1的距离。具体为测试所述电批31与所述滤波器1的腔体的某一端面的距离，尤其是当滤波器1的螺杆2深度参数调试系统包括多个螺杆2时，在所述电批31对接每个所述螺杆2时，所述电批31与所述第一平面P1的距离，且对于每个螺杆2时，该距离是相同的。确保高度参数获取的统一标准，当需要对多个螺杆2调试时，确保在计算每个螺杆2的深度运动轨迹信息的高度基础上相同的，以简化深度运动轨迹信息获取的难度。
上述的任何一个实施例中，所述电批31可为智能电批。
虽然上面已经示出了本发明的一些示例性实施例，但是本领域的技术人员将理解，在不脱离本发明的原理或精神的情况下，可以对这些示例性实施例做出改变，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201921115545.1
申请日:2019-07-17
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:32(江苏)
授权编号:CN209860124U
授权时间:20191227
主分类号:H01P11/00
专利分类号:H01P11/00;H01P1/207
范畴分类:38G;38K;
申请人:苏州淞渭智能科技有限公司
第一申请人:苏州淞渭智能科技有限公司
申请人地址:215332 江苏省苏州市昆山市花桥镇徐公桥路2号中茵广场E区603
发明人:牛晨曦
第一发明人:牛晨曦
当前权利人:苏州淞渭智能科技有限公司
代理人:代理机构:代理机构编号:优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计