硅橡胶绝缘子粉化层憎水性变化的研究

硅橡胶绝缘子粉化层憎水性变化的研究

论文摘要

硅橡胶绝缘子运行后会逐渐老化,伞裙表面出现粉化层。为研究粉化层对硅橡胶绝缘子表面憎水性的影响,通过红外光谱(IR)、扫描电镜(SEM)等手段对现场取回的硅橡胶绝缘子进行研究,测试硅橡胶绝缘子粉化层的微观结构和化学成分,进一步分析粉化层表面憎水性变化的原因。结果表明:绝缘子粉化层表面憎水性良好,但去掉粉化层后绝缘子表面憎水性明显下降。通过IR和SEM发现绝缘子的粉化层表面老化降解程度严重,硅橡胶材料主链上的分子键断裂,粉化层物质颗粒之间结构疏松,分子间相互作用力小,观察其微观形貌发现大量孔隙。因此水分不易附着在绝缘子伞裙表面,使运行老化后硅橡胶绝缘子表面仍具有良好的憎水性。

论文目录

  • 0 引言
  • 1 实验
  •   1.1 实验样本
  •   1.2 憎水性测试与微观结构分析
  • 2 结果与讨论
  •   2.1 憎水性测试结果
  •   2.2 红外光谱分析
  •   2.3 微观形貌及能谱分析
  • 3 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 杨滴,周凯,刘燕,张均

    关键词: 硅橡胶绝缘子,粉化层,憎水性,红外光谱,扫描电镜

    来源: 绝缘材料 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑

    专业: 电力工业

    单位: 贵州理工学院电气与信息工程学院,四川大学电气信息学院

    分类号: TM216

    DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2019.04.004

    页码: 19-22

    总页数: 4

    文件大小: 1548K

    下载量: 162

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