导读:本文包含了寄存器传输级论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:寄存器,门控,电路,功耗,集成电路,时钟,故障。
寄存器传输级论文文献综述
杨影,肖莹莹[1]（2017）在《基于寄存器传输级时钟门的低功耗设计》一文中研究指出现如今,低功耗成为VLSI设计中主要考虑的因素。尤其在消费类电子产品,已经选择使用电池来供电(主要是锂电池)。由于电池设备(尤其是可充电池)的物理性质,使得电池无法做的很小,同时电池容量还要很大,因此低功耗优化设计就变得尤为重要。本文基于低功耗优化设计思想出发,主要对寄存器传输级时钟门进行了具体的分析。在没有启动信号的情况下使用的总线专用时钟门控(BSC)、基于阈值的时钟门控(TCG)、优化总线专用时钟门控(OBSC)。另外,通过实验对比分析得知OBSC相比于非CG电路减少了26.95%电源电路。与门隔离式给出的最大功率在减少,减少到17.67%,只有3.17%的延迟增加。最终,通过对寄存器传输级时钟门的改进,希望能够对VLSI的低功耗设计提供一定的帮助。(本文来源于《中国集成电路》期刊2017年08期）
王超,张伟[2]（2015）在《寄存器传输级间歇故障注入平台》一文中研究指出超大规模集成电路进入深亚微米时代,晶体管特征尺寸缩小,栅氧化物变薄,门限电压降低,金属互联尺寸已减小到极限,导致处理器硬件故障易感性迅速攀升,迫切需要高效灵活的故障注入技术,对处理器系统可靠性进行验证评估。提出采用Verilog PLI框架实现故障注入仿真平台,对OpenSPARC T2处理器寄存器传输级模型实施故障注入,观察分析故障由结构级到达应用级的传播过程。量化分析了硬件故障对软硬件系统的影响程度,以及故障模型参数对系统影响的比较。(本文来源于《北京信息科技大学学报(自然科学版)》期刊2015年04期）
李颖聃[3]（2015）在《寄存器传输级设计内部,多个相似命名端口信号值的批量读取方法》一文中研究指出由于在寄存器传输级设计中的内部可能会产生许多功能一致,命名相似的端口,但其值又极其重要,如果我们逐一去读取其值,耗时费力,且会造成相似代码的冗余,需重复相关操作。但我们又不能放弃读取这些端口的数值。所以此方法提供了可以较快,较完整的侦测到所需所有端口的值的简便方法。便于庞大系统的后期维护,减少人为错误的引入,也有较强的复用性,大大增加了读取内部端口信号的方便快捷性。(本文来源于《中国集成电路》期刊2015年07期）
程鹏[4]（2011）在《CMOS设计中从电路到寄存器传输级的功耗分析》一文中研究指出由于电路设计中功耗参数的重要性,故EDA工具需要对设计进行功耗估算。功耗的估算比电路面积的估计甚至是延时的估计复杂得多,因为功耗不仅与电路结构有关,而且也与信号的活性有关。首先讨论了CMOS电路中的功耗分量,然后讨论了如何在不同设计的抽象层次上对这些功耗分量进行估算。(本文来源于《煤炭技术》期刊2011年02期）
洪沙,吴垣甫[5]（2008）在《基于SystemC的寄存器传输级编程方法探讨》一文中研究指出寄存器传输级建模在数字电路设计、仿真、验证过程中应用广泛。在介绍使用SystemC进行数字电路设计的优势后,详细阐述了基于SystemC的RTL设计方法。随后针对RTL设计需要较深的专业知识、代码复用率低、验证困难等问题,分析了一种计算模型——有限状态机的基本原理,并在此基础上提出了面向状态的RTL编程解决方案。两种不同方法均以通用移位寄存器的建模为例。最终通过对比仿真,展示了使用面向状态方法编程在寄存器传输级设计过程中的一系列优点。(本文来源于《计算机工程与设计》期刊2008年14期）
郑国鹏,陈光化[6]（2006）在《基于门控时钟的寄存器传输级功耗优化》一文中研究指出随着深亚微米技术的发展,功耗已经成为现代超大规模集成电路设计中的一个主要设计约束.本文在设计多点控制协议MPCP模块中,采用插入门控时钟这一技术以降低芯片功耗.针对插入门控寄存器造成测试很难控制这个问题,采取在锁存器的前后加入控制点的方法,解决了由于插入门控时钟而对可测性造成的影响.最后,使用SMIC的0.25um CMOS工艺,并用Synopsys的power complier进行功耗优化,达到了很好的效果.(本文来源于《微计算机信息》期刊2006年29期）
郑国鹏,陈光化[7]（2006）在《基于门控时钟的寄存器传输级功耗优化》一文中研究指出随着深亚微米技术的发展,功耗已经成为现代超大规模集成电路设计中的一个主要设计约束。采用插入门控时钟这一技术对芯片的功耗进行优化,针对插入门控时钟造成的可测性、时序等方面的问题进行详细分析,得到相应的解决办法。最后,使用SMIC的0.25μmCMOS工艺库,并用Synopsys的powercomplier进行功耗优化,可以达到很好的效果。(本文来源于《电子技术》期刊2006年04期）
杨修涛[8]（2006）在《集成电路寄存器传输级故障模型与测试生成研究》一文中研究指出随着集成电路设计技术的发展,其相应的测试也变得十分重要。测试生成为测试过程中的一个重要环节。本文首先综述了当前基于集成电路寄存器传输级(Register Transfer Level,简称RTL)的测试生成方法和验证方法。在此基础上给出作者所提出的RTL测试生成方法,同时考虑到当前RTL测试生成的困难在于缺少有效的故障模型,本文还给出了RTL故障模型分析方法。本文工作主要体现在以下叁个方面:1.兼顾RTL代码内部分枝的状态测试生成。本文在状态覆盖的基础上,给出一种虚扩展状态转换的方法,该方法将状态转换同其内部分枝有效的结合在一起。在此基础上再进行状态覆盖测试生成,生成的测试向量可以实现对RTL代码内部分枝的覆盖。结合提出的这种方法,选用了部分ITC99-benchmark电路进行了相关实验,给出了实验数据和相关分析,与VTG比较,比VTG生成的测试向量要少一半,而覆盖率平均以后大致相等。2.基于遗传算法的时序电路测试向量生成。文中引入遗传算法,并以状态与状态转换为评估。引入静态状态转换(图)及动态状态转换(图)的概念。给出了静态、动态状态转换的叁个基本属性。在此方法的基础上,给出了实验数据,并将结果X-Pulling系统作比较。比较的结果说明:在覆盖率相近的情况下,比X-Pulling运行速度快一个数量级。3. RTL故障模型分析。本文针对RTL故障模型进行分析,分析它与门级固定型故障模型之间的关系;RTL故障模型之间的关系。给出了一些基本概念和定义,依据这些概念和定义又推导出一些推论。在上述分析的基础上,给出了这些分析的一个应用:RTL故障模型序列的寻找及建立。通过分析不同RTL故障模型间的关系,寻找互相不能完全覆盖的RTL故障模型,并将它们作为一个序列用于指导进一步的RTL测试生成。同时,使用叁个故障模型作例子,说明该方法、过程。模型序列对于寻找有效RTL故障模型是十分有帮助的。(本文来源于《中国科学院研究生院（计算技术研究所）》期刊2006-03-10）
高燕,沈理[9]（2005）在《寄存器传输级测试用例生成算法》一文中研究指出基于控制流图数据流图层次模型,以分支覆盖、位功能覆盖以及语句可观测覆盖为目标,给出一个高层测试用例生成算法,并最终实现一种可行的RTL级测试生成算法.实验结果表明,在较少的测试生成时间下,该法可生成相对短的测试序列,得到与其他方法相当或略差的测试效果.此外,该算法因采用了测试用例技术而具良好的灵活性.(本文来源于《计算机辅助设计与图形学学报》期刊2005年09期）
陈火军,江建慧[10]（2004）在《门级故障到寄存器传输级故障的映射》一文中研究指出以一组 74系列集成电路产品和ISCAS85基准电路为例 ,研究了基本寄存器传输级 (RTL)元件的门级单故障到RTL故障的映射关系 .结果表明 :①对大多数电路来说 ,仅考虑电路的单个原始输出端出错将无法达到所希望的门级故障覆盖率 ;②RTL电路的实现不宜包含异或门、与或非门 (AOI)和或与非门 (OAI) ;③在选择差错模型时 ,不同功能的RTL电路需要同时考虑的差错数是不相同的 ,功能相同但仅局部逻辑结构有差别的RTL电路可以考虑相同数目的差错 .这些结论为研究超大规模集成电路的测试、容错设计与验证 ,以及基于故障注入的系统性能评估等技术提供重要依据 .(本文来源于《同济大学学报(自然科学版)》期刊2004年08期）
寄存器传输级论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
超大规模集成电路进入深亚微米时代,晶体管特征尺寸缩小,栅氧化物变薄,门限电压降低,金属互联尺寸已减小到极限,导致处理器硬件故障易感性迅速攀升,迫切需要高效灵活的故障注入技术,对处理器系统可靠性进行验证评估。提出采用Verilog PLI框架实现故障注入仿真平台,对OpenSPARC T2处理器寄存器传输级模型实施故障注入,观察分析故障由结构级到达应用级的传播过程。量化分析了硬件故障对软硬件系统的影响程度,以及故障模型参数对系统影响的比较。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
寄存器传输级论文参考文献
[1].杨影,肖莹莹.基于寄存器传输级时钟门的低功耗设计[J].中国集成电路.2017
[2].王超,张伟.寄存器传输级间歇故障注入平台[J].北京信息科技大学学报(自然科学版).2015
[3].李颖聃.寄存器传输级设计内部,多个相似命名端口信号值的批量读取方法[J].中国集成电路.2015
[4].程鹏.CMOS设计中从电路到寄存器传输级的功耗分析[J].煤炭技术.2011
[5].洪沙,吴垣甫.基于SystemC的寄存器传输级编程方法探讨[J].计算机工程与设计.2008
[6].郑国鹏,陈光化.基于门控时钟的寄存器传输级功耗优化[J].微计算机信息.2006
[7].郑国鹏,陈光化.基于门控时钟的寄存器传输级功耗优化[J].电子技术.2006
[8].杨修涛.集成电路寄存器传输级故障模型与测试生成研究[D].中国科学院研究生院（计算技术研究所）.2006
[9].高燕,沈理.寄存器传输级测试用例生成算法[J].计算机辅助设计与图形学学报.2005
[10].陈火军,江建慧.门级故障到寄存器传输级故障的映射[J].同济大学学报(自然科学版).2004
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