全文摘要
一种用于麦克风阵列校准的耦合腔标准声源，包括耦合腔、耦合腔通过开槽平端紧定螺钉与耦合腔后盖连接，耦合腔后盖右部安装发射级，而耦合腔左侧安装预紧套，且预紧套与耦合腔之间安装有密封圈；本实用新型减少了对传声器的校准工作，同时不仅降低了麦克风阵列系统的误差，同时还可以定量分析声源不同位置、频率和强度分布对阵列定位误差的影响。
主设计要求
1.一种用于麦克风阵列校准的耦合腔标准声源，其特征在于：包括耦合腔(2)、耦合腔(2)通过开槽平端紧定螺钉(6)与耦合腔后盖(3)连接，耦合腔后盖(3)右部安装发射级(1)，而耦合腔(2)左侧安装预紧套(4)，且预紧套(4)与耦合腔(2)之间安装有密封圈(5)。
设计方案
1.一种用于麦克风阵列校准的耦合腔标准声源，其特征在于：包括耦合腔(2)、耦合腔(2)通过开槽平端紧定螺钉(6)与耦合腔后盖(3)连接，耦合腔后盖(3)右部安装发射级(1)，而耦合腔(2)左侧安装预紧套(4)，且预紧套(4)与耦合腔(2)之间安装有密封圈(5)。
2.根据权利要求1所述的一种用于麦克风阵列校准的耦合腔标准声源，其特征在于：紧定螺钉(6)为开槽平端螺钉。
3.根据权利要求1所述的一种用于麦克风阵列校准的耦合腔标准声源，其特征在于：待校准传声器从耦合腔(2)左侧插入，并用预紧套(4)固定。
设计说明书
技术领域
本发明属于校准装置领域，具体涉及一种用于麦克风阵列校准的耦合腔标准声源。
背景技术
虽然声阵列的应用日渐广泛，但于普通传声器使用不同的是，大部分的产品只能对声源识别做定性分析，对于声源的幅值、相位等特征很难做到精准的定量分析。因为普通传声器使用标准传声器基于国标进行精确计量，而对于声阵列系统及产品，目前缺乏现实可用的精确计量校准方法，也缺少由于各种外部因素对声源识别结果精度的误差分析研究。
阵列麦克风系统中使用的传声器个数较多，一般通道数为几十个到上百个，甚至超大阵列系统可达上千个通道，实际使用时如果分别去校准每个传声器的灵敏度和相位往往不现实，为尽量降低系统误差，对阵列麦克风系统需要进行一定的校准。现有的校准方法通常是使用一个空间尺寸较小，空间指向性较小的扬声器来模拟点声源，在测试前随机选取几个声源放置位置来校准阵列是否能够准确定位。但此校准方法较粗糙并且操作麻烦，定位精度低，不能定量考虑实际测试时系统各种误差的影响，因此急需寻找一种操作方便、校准精度高的麦克风阵列校准装置。
发明内容
本发明的目的在于：提供一种麦克风阵列精确校准装置，解决目前麦克风阵列精确校准的问题。
本发明的技术方案如下：一种用于麦克风阵列校准的耦合腔标准声源，包括耦合腔、耦合腔通过开槽平端紧定螺钉与耦合腔后盖连接，耦合腔后盖右部安装发射级，而耦合腔左侧安装预紧套，且预紧套与耦合腔之间安装有密封圈；
紧定螺钉为开槽平端螺钉。
待校准传声器从耦合腔左侧插入，并用预紧套固定。
本发明的显著效果在于：减少了对传声器的校准工作，同时不仅降低了麦克风阵列系统的误差，同时还可以定量分析声源不同位置、频率和强度分布对阵列定位误差的影响；及阵列传声器幅值和相位误差对定位结果的影响。
附图说明
图1为本发明所述的用于麦克风阵列校准的耦合腔标准声源示意图；
图中：发射级1、耦合腔2、耦合腔后盖3、预紧套4、密封圈5、紧定螺钉6
具体实施方式
一种用于麦克风阵列校准的耦合腔标准声源，包括耦合腔2、耦合腔2通过开槽平端紧定螺钉6与耦合腔后盖3连接，耦合腔后盖3右部安装发射级1，而耦合腔2左侧安装预紧套4，且预紧套4与耦合腔2之间安装有密封圈5；
待校准传声器从耦合腔2左侧插入，并用预紧套4固定。
一种用于麦克风阵列校准的耦合腔标准声源，包括耦合腔、耦合腔通过开槽平端紧定螺钉与耦合腔后盖连接，耦合腔后盖右部安装发射级，而耦合腔左侧安装预紧套，且预紧套与耦合腔之间安装有密封圈；
紧定螺钉为开槽平端螺钉。
待校准传声器从耦合腔左侧插入，并用预紧套固定。
本发明的显著效果在于：减少了对传声器的校准工作，同时不仅降低了麦克风阵列系统的误差，同时还可以定量分析声源不同位置、频率和强度分布对阵列定位误差的影响；及阵列传声器幅值和相位误差对定位结果的影响。
减少了对传声器的校准工作，同时不仅降低了麦克风阵列系统的误差，同时还可以定量分析声源不同位置、频率和强度分布对阵列定位误差的影响；及阵列传声器幅值和相位误差对定位结果的影响。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201920800429.7
申请日:2019-05-30
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:11(北京)
授权编号:CN209824021U
授权时间:20191220
主分类号:H04R29/00
专利分类号:H04R29/00
范畴分类:申请人:北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
第一申请人:北京航天计量测试技术研究所
申请人地址:100076 北京市丰台区南大红门路一号
发明人:闫磊;白天;孙凤举;杨晓伟;王小三;唐俊
第一发明人:闫磊
当前权利人:北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
代理人:任超
代理机构:11007
代理机构编号:核工业专利中心 11007
优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计