星载单粒子锁定检测恢复电路设计与实现

星载单粒子锁定检测恢复电路设计与实现

论文摘要

星载产品中CMOS器件受单粒子影响发生锁定现象。未避免器件发生单粒子锁定而烧毁,设计实现了星载单粒子锁定检测恢复电路。电路由电流检测放大电路、ADC采集电路、MOSFET开关电路和锁定判断处理电路组成。电路有效解决了大电流、不同器件、不同工作状态下抗单粒子锁定。

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文章来源

类型: 期刊论文

作者: 郝广凯,朱丹,陆卫强,华伊,李佳炜

关键词: 单粒子,锁定,单粒子锁定检测,电路设计,星载电路

来源: 信息通信 2019年12期

年度: 2019

分类: 信息科技

专业: 无线电电子学

单位: 上海航天电子技术研究所

分类号: TN386;TN792

页码: 10-13

总页数: 4

文件大小: 398K

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星载单粒子锁定检测恢复电路设计与实现
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