薄带连铸取向硅钢Goss晶粒二次再结晶过程的研究

薄带连铸取向硅钢Goss晶粒二次再结晶过程的研究

论文摘要

研究了双辊薄带连铸Fe-3%Si取向硅钢薄带在冷轧后二次再结晶过程中Goss晶粒的演化过程。结果表明:薄带连铸流程可以固溶较多的抑制剂元素,并且无需通过"γ→α"相变控制AlN的析出。铸带经过两阶段冷轧变形和高温退火后,可以获得完善且位向准确的Goss晶粒,B8值达到1.92 T以上。高温退火升温过程中,在抑制剂的作用下基体晶粒尺寸基本稳定,Goss晶粒在1 035~1 060℃范围内发生异常长大。长大方式为位向准确的Goss二次晶粒快速发生异常长大,吞并基体中稳定的初次晶粒,而后快速发生异常长大的二次晶粒继续吞并发展缓慢的Goss二次晶粒和一些尺寸较大的初次晶粒,最终完成全部二次再结晶过程。

论文目录

  • 1 实验材料和方法
  • 2 实验结果及分析
  •   2.1 铸带组织和织构
  •   2.2 二次再结晶过程中基体组织演化
  •   2.3 Goss晶粒异常长大过程
  •   2.4 二次再结晶最终组织与性能
  • 3 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 李成刚,张元祥,王洋,方烽,曹光明

    关键词: 双辊薄带连铸,取向电工钢,二次再结晶,织构,磁性能

    来源: 钢铁研究学报 2019年02期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅰ辑,工程科技Ⅱ辑

    专业: 金属学及金属工艺,机械工业

    单位: 东北大学轧制自动化国家重点实验室

    基金: 国家自然科学基金资助项目(U1260204),国家重点基础研究发展计划(973计划)资助项目(2011CB606306)

    分类号: TG142.1

    DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1001-0963.20180342

    页码: 202-206

    总页数: 5

    文件大小: 455K

    下载量: 163

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