表面热透镜论文_王艳茹,李斌成,刘明强

导读:本文包含了表面热透镜论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译,主要关键词:透镜,光热,表面,测量,光束,平顶,薄膜。

表面热透镜论文文献综述

王艳茹,李斌成,刘明强[1](2010)在《表面热透镜技术测量光学薄膜样品表面热变形》一文中研究指出给出了连续调制激励光照射下光学薄膜样品表面热变形场的理论分布,并由此定义了表面热透镜(STL)信号。根据表面热透镜理论实验测量了一个BK7基底高反膜样品的形变,给出了表面热透镜信号随调制频率的变化曲线。实验结果表明:在采用的STL实验构型中,探测了最小1.985 nm的直流形变,对应不调制时的形变为3.97 nm,相应的形变探测灵敏度达到了10 pm量级;直流形变与功率成线性关系;交流表面热透镜信号随着频率增大而减小,在高频端近似成线性减小。(本文来源于《强激光与粒子束》期刊2010年08期)

陶春先,李霞,李大伟,贺洪波,邵建达[2](2010)在《基于表面热透镜的薄膜弱吸收测量的调制频率研究》一文中研究指出激励光辐照薄膜的表面热透镜效应中,调制频率的大小影响样品内热波的热扩散深度。通过频率控制热波扩散深度可以探测不同薄膜层面的吸收和热缺陷分布。理论分析了不同薄膜厚度下调制频率对热扩散深度的影响。结果表明,薄膜的热导率越小、膜厚越厚,基底中的热扩散深度就越浅,不同材料的基底对吸收测量带来的影响就越小;在膜厚一定的情况下,调制频率越高,基底中的热扩散深度越浅,不同基底样品的光热信号将趋于相等。(本文来源于《光学学报》期刊2010年02期)

郝宏刚,李斌成,刘明强[3](2009)在《表面热透镜与光热失调技术测量光学薄膜吸收的灵敏度比较》一文中研究指出在理论分析优化的基础上,以BK7玻璃和石英为基底的高反射光学薄膜为样品,采用强度调制的连续激光作为激励光源,实验研究了表面热透镜(STL)技术和光热失调(PTDT)技术的信号幅值随激励光调制频率的变化关系,分析比较了这两种方法在测量光学薄膜吸收损耗方面的灵敏度。实验表明,光热失调技术具有构型优化简单、实验操作难度低和测量空间分辨率高等优点,对于具有较高反射率温度系数的高反射膜等样品,采用光热失调技术有利于提高薄膜吸收损耗测量的灵敏度。实验结果与理论分析基本一致。(本文来源于《中国激光》期刊2009年02期)

陈潇潇,李斌成,杨亚培[4](2006)在《光学薄膜测量时平顶光束激励的表面热透镜理论模型》一文中研究指出推导了调制的平顶光束激励下基于Fresnel衍射积分的表面热透镜理论,通过数值模拟,比较了平顶光束和高斯光束激励下样品内部温度场、表面形变场和探测光衍射信号的径向分布,分析了影响表面热透镜信号的实验参数.结果表明,在最佳探测位置,平顶光束激励下的表面热透镜系统比相同情况下高斯光束激励下的灵敏度高,最高时约2倍,更有利于薄膜吸收测量.(本文来源于《物理学报》期刊2006年09期)

陈潇潇,李斌成[5](2006)在《平顶光束激励下表面热透镜技术测量薄膜吸收的衍射信号》一文中研究指出表面热透镜技术是光热技术测量光学薄膜吸收的一种重要方法。本文采用连续调制的平顶光束代替传统表面热透镜技术中的高斯光束作为激励光源,通过在光路中加入一定大小的光阑获得近似平顶光束成像到样品表面,引起表面形变。当以一束光斑半径远大于激励光束的探测光照射样品表面形变区域时,反射光将发生衍射,得到衍射信号的径向分布如图1所示。随着调制频率的升高,中心光强将降低。通过探测中心光强获得表面热透镜信号,进而得到样品的吸收情况。分析可知,平顶光束激励下的表面热透镜系统不仅降低了对激光光束质量的要求,更有利于实际测量,并且比高斯光束系统更为灵敏。通过实验获得衍射信号分布,有利于准确探测中心光强,提高测量灵敏度。(本文来源于《中国光学学会2006年学术大会论文摘要集》期刊2006-09-01)

陈潇潇[6](2006)在《平顶光束激励下表面热透镜技术测量薄膜吸收的方法研究》一文中研究指出吸收损耗是衡量光学薄膜性能的重要指标之一。尤其在高功率激光作用下,吸收损耗不仅会引起光学薄膜元件的热畸变,影响激光传输特性,还会降低薄膜的损伤阈值。准确测量吸收损耗对于评价高功率激光薄膜和优化镀膜工艺十分重要。现代光学系统中常用光学薄膜的吸收率在10~(-4)-10~(-7)范围内,而传统的薄膜吸收测量方法,如分光光度法、消光系数法等因其灵敏度低,无法满足测量要求。光热技术的发展为光学薄膜微弱吸收测量提供了新的手段,表面热透镜技术(STL)作为光热技术测量光学薄膜微弱吸收的一种重要方法,在上世纪九十年代初,由Kuo和Saito分别提出。由于它既保持了光热偏转技术高灵敏性、高精度和非接触的优点,又能获得完整的表面形变的分布,因而得到广泛的应用。用于表面热透镜技术的激励光主要有高斯光束和平顶光束。以前的表面热透镜装置中,多使用高斯光束作为激励光,但由于高功率激光器一般为多模输出,要获得严格的基模高斯光束比较困难,而平顶光束可以通过在激光器前加一定大小的光阑实现,降低了对激光光束质量的要求,更有利于实际的测量。且使用平顶光束作为激励光可以提高光学薄膜微弱吸收的测量精度。本论文提出采用连续调制的平顶光束作为激励光的表面热透镜技术测量薄膜吸收的方法,主要开展了如下工作:1.建立了连续调制的平顶光束作用下样品的表面热透镜信号模型。采用积分变换法求解了样品内的热传导方程,推导出叁维温度场分布。求解对应的热弹方程,得到表面形变场分布。2.通过数值模拟,比较了平顶光束和高斯光束激励下样品内部温度场、表面形变场和探测光衍射信号的径向分布。分析了两种情况下激励光斑、调制频率、探测距离等实验参数对表面热透镜信号的影响。计算结果表明,平顶光束激励下的表面热透镜系统比高斯光束有更高的灵敏度。3.建立了表面热透镜实验测量系统。提出了在样品表面获得平顶光束的有效方法。测量了信号的衍射分布,信号与激励光功率、激励光斑半径、调制频率、探测距离的关系,与理论吻合较好。并通过实验,讨论了由于探测光斜入射对表面热透镜系统的影响。最后,本文给出了几点改进意见。(本文来源于《电子科技大学》期刊2006-04-01)

范树海,贺洪波,邵建达,范正修,赵元安[7](2006)在《表面热透镜薄膜吸收测量灵敏度提高方法》一文中研究指出为提高表面热透镜薄膜吸收测量仪的灵敏度,在表面热透镜衍射理论基础上,通过数值模拟给出了探测激光腰斑半径、探测激光腰斑到样品表面距离、样品到探测光纤端面距离等仪器参数的优化方法.经优化调整后该仪器能达到优于0·1ppm量级的薄膜吸收率测量灵敏度.(本文来源于《物理学报》期刊2006年02期)

易亨瑜[8](2006)在《弱吸收测量中共光路表面热透镜系统的参量优化》一文中研究指出为了提高热透镜法的测量精度,对表面热透镜法进行了测量技术分析,根据菲涅耳衍射定律和材料的热膨胀特性,建立了共光路表面热透镜测量的理论模型。利用该模型,分析了抽运光的能量大小,抽运光束和探测光束相对光斑大小,两光束相对偏移,测量时刻选择以及定标样品的选择等因素对测量现象和结果的影响。通过分析得到测量系统的一组最佳参量配置。分析表明,在设计测量系统时,应考虑定标样品的吸收特性。定标样品的选择原则是:在光热信号与吸收率的关系中,它与被测样品应处于同一个线性变化范围。(本文来源于《中国激光》期刊2006年01期)

范树海,贺洪波,范正修,邵建达,赵元安[9](2005)在《表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验》一文中研究指出由薄膜表面光热形变简化理论和表面热透镜衍射理论导出表面热透镜信号表达式,从理论上证明了表面热透镜信号和薄膜吸收率的线性关系.应用表面热透镜技术研制了薄膜吸收测量仪,测量结果表明其吸收率测量灵敏度和精度均达10-6量级.(本文来源于《物理学报》期刊2005年12期)

陈习权,祖小涛,郑万国,蒋晓东,黄祖鑫[10](2005)在《表面热透镜技术测试光学薄膜特性研究》一文中研究指出在薄膜特性的研究工作中,激光引起的表面形变是一种广泛应用的技术。在这种技术中,薄膜的形变(热包高度小于 0.1 nm)一般是采用光热偏转技术来探测的。介绍了一种通过光学衍射效应来研究薄膜表面形变的新技术即表面热透镜技术,它是研究薄膜特性的一种灵敏且易于控制的方法。探讨了其理论模型及在薄膜的吸收测量和缺陷特性测试方面,该方法相对于传统方法的优点和潜力。(本文来源于《光学与光电技术》期刊2005年01期)

表面热透镜论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

激励光辐照薄膜的表面热透镜效应中,调制频率的大小影响样品内热波的热扩散深度。通过频率控制热波扩散深度可以探测不同薄膜层面的吸收和热缺陷分布。理论分析了不同薄膜厚度下调制频率对热扩散深度的影响。结果表明,薄膜的热导率越小、膜厚越厚,基底中的热扩散深度就越浅,不同材料的基底对吸收测量带来的影响就越小;在膜厚一定的情况下,调制频率越高,基底中的热扩散深度越浅,不同基底样品的光热信号将趋于相等。

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

表面热透镜论文参考文献

[1].王艳茹,李斌成,刘明强.表面热透镜技术测量光学薄膜样品表面热变形[J].强激光与粒子束.2010

[2].陶春先,李霞,李大伟,贺洪波,邵建达.基于表面热透镜的薄膜弱吸收测量的调制频率研究[J].光学学报.2010

[3].郝宏刚,李斌成,刘明强.表面热透镜与光热失调技术测量光学薄膜吸收的灵敏度比较[J].中国激光.2009

[4].陈潇潇,李斌成,杨亚培.光学薄膜测量时平顶光束激励的表面热透镜理论模型[J].物理学报.2006

[5].陈潇潇,李斌成.平顶光束激励下表面热透镜技术测量薄膜吸收的衍射信号[C].中国光学学会2006年学术大会论文摘要集.2006

[6].陈潇潇.平顶光束激励下表面热透镜技术测量薄膜吸收的方法研究[D].电子科技大学.2006

[7].范树海,贺洪波,邵建达,范正修,赵元安.表面热透镜薄膜吸收测量灵敏度提高方法[J].物理学报.2006

[8].易亨瑜.弱吸收测量中共光路表面热透镜系统的参量优化[J].中国激光.2006

[9].范树海,贺洪波,范正修,邵建达,赵元安.表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验[J].物理学报.2005

[10].陈习权,祖小涛,郑万国,蒋晓东,黄祖鑫.表面热透镜技术测试光学薄膜特性研究[J].光学与光电技术.2005

论文知识图

基于表面热透镜技术的薄膜吸收测...一2表面热透镜探浏装t圈表面热透镜信号随调制频率的变...表面热透镜技术原理图表面热透镜探测装置图一2表面热透镜技术探测装里圈

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