导读:本文包含了边界扫描论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译，主要关键词:边界,测试,算法,向量,链路,启发式,盲区。
边界扫描论文文献综述
王圣辉,陆锋,苏洋,张凯红[1]（2019）在《一种基于边界扫描的系统化SiP测试方法》一文中研究指出随着集成电路技术快速发展,芯片的集成度和密度越来越大,体积和功耗越来越小,IC领域提出了一种新型的超摩尔定律的芯片设计思路——系统级封装(System in Package,SiP)。要在有限的芯片管脚下完成对整个SiP电路系统的测试变得极具挑战,急需寻求一种新的测试方法。为此,文中提出了一种基于边界扫描测试方法,在严格遵循紧凑性和完备性的指标下,通过对现有自适应算法中快速生成测试矩阵算法的优化,完成SiP芯片的互连测试。对比分析优化前后各算法的混淆率和紧凑性指标,验证了使用低权值的等权值算法能有效地提高测试的性能。测试的仿真结果表明,基于边界扫描测试的低权值的等权值算法可以满足SiP的测试需求。(本文来源于《电子测试》期刊2019年21期）
陈凯,张达,张元生[2]（2019）在《叁维激光扫描点云数据盲区边界识别与应用》一文中研究指出叁维激光扫描仪是一款获取空间点云数据的测量设备,能够有效地获取被测物体叁维空间形态,但是,由于被测对象空间形态复杂、人员难于进入等原因,导致扫描点云数据存在盲区且识别困难。针对该问题,采用了一种叁维激光扫描点云数据盲区识别方法,可获取点云数据盲区边界,该方法主要通过对点云数据进行KD-Tree改造,然后估计点云数据法矢,最后提取点云数据边界。为验证本文提出的盲区识别算法,选取矿山采空区点云数据进行实际验证,可准确识别点云数据边界信息,为后续数据进一步利用提供了基础。(本文来源于《有色金属(矿山部分)》期刊2019年05期）
柳颖,徐小杰[3]（2019）在《基于边界扫描技术的某引俄指控系统复杂电路板的TPS开发》一文中研究指出针对某引俄指控电路板中大量采用集成度很高的芯片,传统的测试方法无法进行测试与诊断的问题,运用边界扫描技术开发高集成度、高性能的PCB板的TPS,详细阐述了该系统中典型电路板的测试分析。(本文来源于《舰船电子工程》期刊2019年07期）
陈龙江[4]（2019）在《基于边界扫描的高密度电路板测试控制器软件设计与实现》一文中研究指出电子元器件产品的更新迭代和集成电路的集成规模不断升级,体现在芯片封装的不可测点持续增多,集成电路器件微型化复杂化,电子测试变得越发复杂。边界扫描技术与其它测试技术相结合可以有效进行电子系统的可靠可行性测试,国内理论研究和实践测试都处于探索发展阶段。该技术是电子测试技术的一个重要方向,在复杂电子产品的全周期维护中具有不可替代性。研究边界扫描测试技术,开发测试控制器系统具有积极的现实意义。本文设计开发中,硬件基于Xilinx ISE平台采用Verilog语言开发,软件基于Visual Stadio平台采用MFC框架使用C++语言开发。数据交互设计中,硬件电路测试时我们采用的串口作为与上位机通讯的接口,软件设计中采用的是USB2.0接口与上位机进行通讯,主控板与被测板之间通过JTAG接口连接。通过阅读IEEE 1149.1标准文档与边界扫描测试技术书籍和文件等,学习探究了其测试原理及其发展应用。边界扫描测试技术中通过TAP控制器控制TDI信号流向对被测芯片中的串行指令寄存器进行选取,经过译码后将指令传输到并行数据寄存器模块中的对应寄存器,然后在TDO得到反馈数据。Modelsim逻辑仿真中利用其生成的Testbench文件,通过对时钟和相应时间节点的设置,实现了仿真逻辑测试。硬件测试分析中基于一次具体的BSDL中的IDcode测试和TAP状态机的状态转换原理来对整个硬件实现逻辑进行基本阐述。硬件测试分析中通过对IDcode进行测试,可以验证电路的完备性和芯片的完好性,通过对芯片实时管脚模拟可以诊断出被测芯片的状态。为此,实验中对单片到多片芯片进行联合测试,对某一芯片进行多种测试。软件开发设计中,利用MFC便利的UI设计可以快速有效的完成软件界面框架的设计,采用大量的类和模块来实现测试软件的对应功能。边界扫描文件包含了边界扫描测试的基本信息,通过对其结构分析,在软件开发中我们设立了BSDL处理模块,对芯片信息进行读取与保存。网表文件详细的描述了电路板上各元器件管脚之间的连接关系,通过对其结构分析,在软件开发中我们设立了NetList处理模块进行描述。通过对边界扫描文件和网表文件的结构分析与软件语言描述并结合一定的算法,实现了对被测电路的完备性测试和芯片各引脚的模拟等边界扫描功能。(本文来源于《电子科技大学》期刊2019-05-10）
昌磊[5]（2019）在《复杂数字电路板的边界扫描测试系统设计与实现》一文中研究指出随着集成电路的制造工艺越来越发达,传统的探针式故障检测方法已经完全不能满足这类电路板的故障检测要求,边界扫描测试技术就是为了解决VLSI等大型复杂电子器件而提出的,但是传统的边界扫描测试技术也随着集成电路的发展而显得不足,本文分析了目前边界扫描测试技术的应用,再结合复杂数字电路板的特点,分析得出目前边界扫描测试技术在复杂数字电路板的应用中有扫描链路太长,测试效率低,测试覆盖率低等缺点和不足,因此为了更好地满足现阶段和以后复杂数字电路板的故障检测要求,本文根据这些缺点和不足,本文以复杂数字电路板边界扫描测试技术为研究课题,提出了一种适用于复杂数字电路板的边界扫描测试技术,主要研究内容有:1、提出了一种新的扫描链路设计方法。本文针对目前设计上存在的缺点提出了“分治法”的扫描链设计方法,该方法通过将复杂数字电路板上的芯片进行分类分区处理,得到主扫描链和次级功能扫描链,在主扫描链的扫描测试中得到次级功能扫描链的扫描区域,然后再对次级功能扫描链进行扫描测试,最终将故障定位,得到整个复杂数字电路板上存在的故障信息。2、设计并实现边界扫描控制器。本文对目前边界扫描控制器的设计方法进行了分析和比较,发现目前设计方法中,存在数据传输速度收到接口的限制,方法编程量大,系统复杂等缺点,本文在总结了这些缺点之后,使用FPGA加SN74ACT8990总线控制芯片来设计边界扫描控制器,该控制器结合了FPGA的数据处理能力,同时由于使用了现有的总线控制芯片,使系统设计简单,极易产生JTAG总线信号来进行边界扫描测试。3、设计并实现边界扫描软件界面。在完成边界扫描测试系统的硬件部分之后,本文针对文中所设计的扫描系统测试方法,设计了边界扫描上位机控制软件,软件中包括的功能有:测试向量的自动测试、测试故障的信息显示、测试电路的选择和电路板故障器件的信息显示等。本文还通过上位机软件界面对边界扫描测试系统进行了功能验证,证明文中所设计的边界扫描控制器和扫描链的可行性。(本文来源于《电子科技大学》期刊2019-04-30）
余宜璐[6]（2019）在《复杂电路边界扫描测试向量生成与优化方法研究》一文中研究指出随着电子技术的发展,传统测试方法已无法满足日趋复杂的电子电路系统的故障诊断。互连测试在电路故障诊断中扮演着十分重要的角色,而边界扫描的出现使得互连测试变得更加便捷,能快速准确的对互连故障进行检测并定位。边界扫描技术的研究重点和难点是针对复杂电路的测试向量的生成算法,现有常规测试向量生成算法在针对复杂电路测试时难以兼顾测试时间和故障诊断能力,大部分算法只针对单一指标进行了优化,且没有利用待测对象结构信息进行优化。判断一个边界扫描测试向量生成算法性能优劣有两个重要指标,分别是表征故障诊断能力的完备性指标和表征测试时间的紧凑性指标。本文将结合电路板结构信息,通过对现有算法的优化,获得完备性指标最优,紧凑性指标尽可能小的优化算法。主要研究内容分以下四个部分:1.现有常规测试向量生成算法的研究。对几种现有的常规测试向量生成算法的实现进行了详细介绍,并针对其完备性指标和紧凑性指标,对现有算法性能进行了分析。2.基于启发式优化分组的测试向量生成算法的研究。对现有常规测试向量生成算法中的分组移位算法性能及应用难点进行了详细分析,并针对其存在的征兆混淆情况进行了优化,分别提出了基于分组移位算法的分步测试方法,以及针对复杂电路的基于电路板结构信息的启发式优化分组的移位向量生成算法,该算法会根据提取到的待测对象互连网络相关信息,建立各网络拓扑模型以便用于对分组移位算法进行分组的优化,并针对紧凑性指标和完备性指标对优化算法进行了性能分析及证明,通过与常规算法的故障诊断能力对比验证算法的有效性。3.测试向量自动生成的研究。本文中的测试向量的自动生成依赖于仿真文件中的网表文件、边界扫描器件的描述文件以及相关PCB报表文件,根据对以上文本信息的解析提取可以得到待测对象互连网络及管脚的所有相关信息,并以本文提出的优化算法为前提实现测试向量的自动生成。4.测试向量自动生成软件的设计与实现。软件主要分为信息解析提取模块、测试向量自动生成模块和结果分析显示模块叁个模块。并通过对比实验验证了软件功能和算法性能。(本文来源于《电子科技大学》期刊2019-04-30）
吴中[7]（2018）在《基于边界扫描技术的自适应测试算法及实现的研究》一文中研究指出超大规模集成电路、高密度芯片封装技术以及多层印制板的出现,使得集成电路引脚和芯片内部逻辑的物理可访问性正在逐步减弱以至于消失,常规的探针已逐渐无法使用。另一方面随着市场对电子产品质量可靠性要求越来越严格,测试开销在电路和系统总开销中所占的比例不断上升,常规的测试方法正面临着日趋严重的困难,边界扫描测试技术的出现正解决了这一难题。本课题顺应当前电路测试发展的研究趋势,并结合公司的实际生产需求,对边界扫描测试技术,尤其是测试矩阵生成算法进行了深入研究。论文首先研究了边界扫描技术相关基本理论,对边界扫描测试的类型进行了分析,将研究重点放在互连测试。针对互连测试进行了相关概念数学化分析,并对电路中的故障建立数学模型,同时,为方便测试算法生成测试矩阵的分析,对短路故障模型优化处理,通过数学推导分析,优化的故障模型在复杂性和故障数量等方面对边界扫描算法分析具有更优越的效果。然后针对互连测试的测试矩阵生成算法进行了研究,现有单步算法的检测性能相对较差,往往不能完成较高的测试要求。分析各单步算法的性能指标,并结合现有自适应算法的分析思想,分别从初级测试,测试结果分析,次级测试对W算法进行优化处理。另外论文鲜有地将电路故障中线与线或逻辑短路同时纳入考虑,从测试矩阵紧凑性和完备性对优化算法分析,得出测试性能高于现有自适应算法。最后本文针对边界扫描测试设计,首先结合工程实践,考虑硬件电路中不具备边界扫描结构的器件可测试性设计研究,在板级互连设计中进行改善和优化,引入可测试性设计后电路板的测试覆盖率相比较之前提高了近30%,为边界扫描测试算法的更好施加提供了硬件基础。其次应用FPGA对边界扫描测试系统进行模块搭建,对优化的自适应算法实现流程进行了分析,并实现对边界扫描逻辑的测试仿真及算法的验证,结果表明算法仿真效果明显。(本文来源于《江苏科技大学》期刊2018-06-05）
侯杏娜,陈寿宏,颜学龙[8]（2018）在《基于SQLite的边界扫描测试链路自动生成研究与实现》一文中研究指出为了提高边界扫描测试效率,提出一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试链路自动生成方法。根据边界扫描编译结果得到SQLite数据库的各个数据表数据,分析各表间的数据关系,结合边界扫描矢量生成算法,从任意点随机触发,开始遍历数据库各表,引入模糊查询模式更有效匹配各表关系,快速形成完整边界扫描测试链。所设计的边界扫描链路自动生成方法可替代人工生成链路方法,简化测试准备和节省处理数据时所需时间,降低系统成本,具有较好的应用前景。(本文来源于《现代电子技术》期刊2018年08期）
代鸣扬,蔡志匡,陈冬明,郭宇锋[9]（2018）在《基于SerDes系统芯片边界扫描测试设计与电路实现》一文中研究指出基于IP的So C设计能够有效提高设计效率,降低成本,是当前超大规模集成电路设计的主流解决方案。Ser Des作为一种复杂数模混合IP,可实现高速数据的接收与发送。文中针对So C芯片中Ser Des的PAD测试问题,提供两种改进的边界扫描测试技术,包括利用Ser Des自带的边界扫描测试电路将多个Ser Des进行串行测试,以及将Ser Des定义为一个PAD连接到顶层边界扫描链进行集成测试。文中基于SMIC 40 nm工艺,在一款自主设计的多核So C芯片中,应用Synopsys公司BSD Compiler工具实现了上述技术的电路设计,网表级仿真结果证明该方案的可行性和有效性。(本文来源于《南京邮电大学学报(自然科学版)》期刊2018年01期）
毕伟镇,杜舒明[10]（2017）在《基于边界扫描的雷达嵌入式测试和诊断技术》一文中研究指出为解决因雷达数字化、高速化发展引起的测试和诊断技术难题,提出了基于边界扫描的雷达嵌入式测试和诊断方案,介绍了系统的硬件架构和软件设计;该方法可以在雷达系统正常执行任务期间,实时检测数字集成电路的故障,并将故障定位到芯片引脚;对低速数字信号,可以采集完整的信号波形;对较高速度的数字信号,可以通过多次采集和统计分析的方法提取故障特征;该方法已通过试验验证。(本文来源于《计算机测量与控制》期刊2017年11期）
边界扫描论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
叁维激光扫描仪是一款获取空间点云数据的测量设备,能够有效地获取被测物体叁维空间形态,但是,由于被测对象空间形态复杂、人员难于进入等原因,导致扫描点云数据存在盲区且识别困难。针对该问题,采用了一种叁维激光扫描点云数据盲区识别方法,可获取点云数据盲区边界,该方法主要通过对点云数据进行KD-Tree改造,然后估计点云数据法矢,最后提取点云数据边界。为验证本文提出的盲区识别算法,选取矿山采空区点云数据进行实际验证,可准确识别点云数据边界信息,为后续数据进一步利用提供了基础。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
边界扫描论文参考文献
[1].王圣辉,陆锋,苏洋,张凯红.一种基于边界扫描的系统化SiP测试方法[J].电子测试.2019
[2].陈凯,张达,张元生.叁维激光扫描点云数据盲区边界识别与应用[J].有色金属(矿山部分).2019
[3].柳颖,徐小杰.基于边界扫描技术的某引俄指控系统复杂电路板的TPS开发[J].舰船电子工程.2019
[4].陈龙江.基于边界扫描的高密度电路板测试控制器软件设计与实现[D].电子科技大学.2019
[5].昌磊.复杂数字电路板的边界扫描测试系统设计与实现[D].电子科技大学.2019
[6].余宜璐.复杂电路边界扫描测试向量生成与优化方法研究[D].电子科技大学.2019
[7].吴中.基于边界扫描技术的自适应测试算法及实现的研究[D].江苏科技大学.2018
[8].侯杏娜,陈寿宏,颜学龙.基于SQLite的边界扫描测试链路自动生成研究与实现[J].现代电子技术.2018
[9].代鸣扬,蔡志匡,陈冬明,郭宇锋.基于SerDes系统芯片边界扫描测试设计与电路实现[J].南京邮电大学学报(自然科学版).2018
[10].毕伟镇,杜舒明.基于边界扫描的雷达嵌入式测试和诊断技术[J].计算机测量与控制.2017
论文知识图
