论文摘要
为充分发挥γ成像系统的功能,扩展其应用,对引进的一套基于晶针型CsI(NaI)闪烁晶体的γ成像系统进行了性能测试。通过计数特性研究,拓展了系统估算放射源活度的功能。最后,实现了对γ成像系统的远距离控制和数据传输。
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文章来源
类型: 期刊论文
作者: 徐园,刘倍,孔海宇,董伟洁,王希涛
关键词: 成像系统,性能,计数特性,远距离控制
来源: 核电子学与探测技术 2019年05期
年度: 2019
分类: 工程科技Ⅱ辑,信息科技
专业: 核科学技术,计算机软件及计算机应用
单位: 中国辐射防护研究院,国核示范电厂有限责任公司
分类号: TL812;TP391.41
页码: 611-615
总页数: 5
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