PET薄膜中32S离子径迹的热退火效应

PET薄膜中32S离子径迹的热退火效应

论文摘要

采用径迹蚀刻的方法研究了热处理对聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜中重离子径迹的热退火效应。使用113.7 MeV的32S离子在PET薄膜中产生垂直于表面且贯穿薄膜的离子径迹。对薄膜进行局部热处理,加热温度为70~240℃,时间为1~300 s。薄膜经过化学蚀刻成核孔膜后使用显微镜观测。结果表明:在相同的热处理时间下,随着热处理温度的升高,PET薄膜中离子径迹的热退火效应愈加明显;在热处理温度不变的情况下,随着热处理时间的增加,退火效应亦愈加明显。

论文目录

  • 1 实验
  • 2 结果与讨论
  • 3 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 吴振东,梁海英,鞠薇,焦学胜,陈东风,傅元勇

    关键词: 重离子,径迹退火,核孔膜,热处理,化学蚀刻

    来源: 原子能科学技术 2019年11期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑,工程科技Ⅰ辑

    专业: 材料科学,工业通用技术及设备,核科学技术

    单位: 中国原子能科学研究院核物理研究所

    分类号: TL815;TB383.2

    页码: 2302-2308

    总页数: 7

    文件大小: 3610K

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