一种无直振供料的高速分光分色机论文和设计

全文摘要

本实用新型涉及对电子产品进行分光分色的技术领域，尤指一种采用无直振供料方式针对SMD灯珠进行供料和全自动化分光分色的无直振供料的高速分光分色机；分光机包括安装在机架上的电控箱装置、无直振供料模组、电磁铁直入料模组和分光分色中心，本实用新型通过无直振供料模组进行直落式供料，通过电磁铁直入料模组实现间隔式分离送料后进入分光分色中心进行检测，分光分色中心设置有（20+n）个BIN位的转盘，待检测的SMD灯珠依次经过定位模组进行定位，再经过测试前侦测模组，再经过测试模组进和积分球模组进行性能检测，检测后分类收集，减少了SMD灯珠在直行轨道中进行依次排列传送，也减少了在XYTABLE分类时对材料的伤害，也节约了大量的时间，同时也降低了成本。

主设计要求

1.一种无直振供料的高速分光分色机，所述的分光机包括安装在机架上的电控箱装置、无直振供料模组、电磁铁直入料模组和分光分色中心，所述的电控箱采用PLC控制器，其特征在于：所述的无直振供料模组包括安装在底座上的圆盘状的圆振模组、SMD灯珠转接模组和电气元件模组；其中圆振模组包括圆形振动源和放置SMD灯珠的圆形振动盘面；SMD灯珠转接模组包括微调机构和转接直轨；电气元件模组包括光纤检测装置和气源辅助组件；所述的电磁铁直入料模组的进料口与无直振供料模组的出料口对接；电磁铁直入料模组的进料口前端安装有对照光纤；所述的分光分色中心包括设置有（20+n）个BIN位的转盘，以及定位模组、测试前侦测模组、测试模组进、积分球模组、NG品排除侦测模组、落料吹气模组、落料接料筒模组和转盘余料侦测模组。

设计方案

2.根据权利要求1所述的一种无直振供料的高速分光分色机，其特征在于：所述无直振供料模组放置于机台正面的左侧，与电磁铁直入料模组对接，待检测的SMD灯珠从无直振供料模组供料，通过电磁铁直入料模组后进入分光分色中心进行分光分色检测。

设计说明书

技术领域

本发明涉及对电子产品进行分光分色的技术领域，尤指一种采用无直振供料方式针对SMD灯珠进行供料和全自动化分光分色的无直振供料的高速分光分色机。

背景技术

SMD，是Surface Mounted Devices的缩写，意为：表面贴装器件，它是SMT(SurfaceMount Technology）元器件中的一种。

在现有SMD灯珠行业中，SMD灯珠是通过传统转盘然后再经过XY TABLE的定位进行分类从而达到要求，至此所造成的结果就是对机台的速度产生了极大的影响和限制，导致机台速度普遍不高，这样也间接的导致了生产成本的提高，同时也满足不了客户对产品的大量需求。

本公司前段时间研发的一台分光分色机，如专利号为2018114343005，专利名称为一种直落料式高速分光机及其工作方法，虽然能在一定程度上满足客户产能要求的同时还能降低生产成本，但是该款机台中，其中储料和供料机构为储供料装置和直落料机构，但是储供料装置中采用了直入运行轨道，不可置疑的是在现有LED行业中，在SMD灯珠在分光、封装自动化设备上都是采用振动盘进行供料，其中包括圆振与直振两大部分组合而成，这种方式不仅占用了空间而且也增加了生产成本，同时尤其是采用直入运行轨道使得待检测灯珠在进行传送至检测中心检测时增加了一大段传送距离，而在实际生产过程中，这段距离不仅使得机台体积增大，而且加大了设备故障风险以及传送过程中待检测产品的位置风险，给作业人员带来解决故障的麻烦的同时还直接导致了生产产能的下降，从而增加了作业人员的劳动强度同时也增加了生产成本。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明旨在提供一种将SMD灯珠样品送检、检测、排除、收集融为一体动化的，采用无直振的直落料式供料机构，使SMD灯珠样品在供料时更加顺畅，速度不受影响的同时节省了生产使用空间还大大的节约了生产成本，适应客户对SMD灯珠生产的速度要求和降低生产成本要求的，用以实现功能包括减少每颗料的分光分色完成周期，提高生产产能同时还降低生产成本的无直振供料的高速分光分色机。

本发明采用的技术方案是：一种无直振供料的高速分光分色机，所述的分光机包括安装在机架上的电控箱装置、无直振供料模组、电磁铁直入料模组和分光分色中心，所述的电控箱采用PLC控制器，所述的无直振供料模组包括安装在底座上的圆盘状的圆振模组、SMD灯珠转接模组和电气元件模组；其中圆振模组包括圆形振动源和放置SMD灯珠的圆形振动盘面；SMD灯珠转接模组包括微调机构和转接直轨；电气元件模组包括光纤检测装置和气源辅助组件；所述的电磁铁直入料模组的进料口与无直振供料模组的出料口对接；电磁铁直入料模组的进料口前端安装有对照光纤；所述的分光分色中心包括设置有（20+n）个BIN位的转盘，以及定位模组、测试前侦测模组、测试模组进、积分球模组、NG品排除侦测模组、落料吹气模组、落料接料筒模组和转盘余料侦测模组。

所述无直振供料模组放置于机台正面的左侧，与电磁铁直入料模组对接，待检测的SMD灯珠从无直振供料模组供料，通过电磁铁直入料模组后进入分光分色中心进行分光分色检测。

本发明的有益效果是：本发明通过无直振供料模组进行直落式供料，通过电磁铁直入料模组实现间隔式分离送料后进入分光分色中心进行检测，分光分色中心设置有（20+n）个BIN位的转盘，可以提高检测速度，待检测的SMD灯珠依次经过定位模组进行定位，再经过测试前侦测模组进行物料有无的确认，再经过测试模组进和积分球模组进行性能检测，然后不良品经过NG品排除侦测模组进行排除并直接通过落料吹气模组进行收集，良品经过落料接料筒模组和转盘余料侦测模组，减少了SMD灯珠在直行轨道中进行依次排列传送，同时也减少了在XY TABLE分类时对材料的伤害，也节约了大量的时间，同时也降低了成本，提高了材料的质量，员工全程只需要加料、收集BIN满的料筒和按开关按钮；满足客户对SMD灯珠越来越苛刻的质量要求和产能要求，更大大节约了生产成本。

附图说明

图1是本发明的立体结构示意图。

图2是本发明中无直振供料模组和分光分色中心的布局结构示意图。

图3是本发明中无直振供料模组和分光分色中心布局的俯视结构示意图。

图4是本发明中无直振供料模组的结构示意图。

图5是本发明中转盘上BIN位设计示意图。

附图标注说明: 1-底座，10-无直振供料模组，2-圆振模组，3-LED材料转接模组，4-电气元件模组；21-振动盘面，22-振动源，31-固定支架，32-微调机构，33-转接直轨,4-测试前侦测模组，5-定位模组，6-电磁铁直入料模组，7-测试模组，8-积分球模组，9-NG品排除侦测模组，11-落料吹气模组，12-落料接料筒模组，13-转盘余料侦测模组，14-转盘，15-电控箱装置，16-机架，17-分光分色中心。

具体实施方式

以下结合说明书附图详细说明本实施例的具体实施方式：

如图1-5所示，一种无直振供料的高速分光分色机，所述的分光机包括安装在机架上的电控箱装置15、无直振供料模组10、电磁铁直入料模组6和分光分色中心，所述的电控箱采用PLC控制器，所述的无直振供料模组10包括安装在底座上的圆盘状的圆振模组、SMD灯珠转接模组和电气元件模组；其中圆振模组包括圆形振动源和放置SMD灯珠的圆形振动盘面；SMD灯珠转接模组包括微调机构和转接直轨；电气元件模组包括光纤检测装置和气源辅助组件；所述的电磁铁直入料模组6的进料口与无直振供料模组10的出料口对接；电磁铁直入料模组6的进料口前端安装有对照光纤；所述的分光分色中心包括设置有（20+n）个BIN位的转盘14，以及定位模组5、测试前侦测模组4、测试模组7、积分球模组8、NG品排除侦测模组9、落料吹气模组11、落料接料筒模组12和转盘14余料侦测模组13。

所述的无直振供料模组的出料口与电磁铁直入料模组的进料口对接，所述的振动盘面21安装在圆形振动源22上，振动盘面21上放置SMD灯珠，圆形的振动源22振动时使得振动盘面21也沿着振动源22的方向振动，振动盘面21上放置的SMD灯珠会顺着圆形盘面里的曲线进行运动；所述的电气元件模组4安装在圆振模组2旁侧，更具体的是安装在振动盘面21出料口前端，光纤检测装置用以监测SMD灯珠是否到位，气源辅助组件的气嘴对到位的SMD灯珠进行吹气，使其换位，更具体的是气嘴对到位的SMD灯珠进行吹气，使得SMD灯珠转移到转接直轨33上；所述的微调机构32和转接直轨33通过固定支架31安装在底座1上，转接直轨33安装在微调机构32上方，调试微调机构32时能调节转接直轨33的竖直和水平方向上的位置，使其与圆振模组2的振动盘面21的出料口平齐，便于SMD灯珠从振动盘面21平稳的转移到转接直轨33上然后进行供料。

无直振供料模组工作原理如下：振动模组中的圆形振动源22在按照设置好的频率和电压开始工作后，圆形盘面里的SMD灯珠会在振动源22的作用下顺着圆形的振动盘面21里的曲线进行运动，途中经过电气元件模组4时，光纤检测装置对过来的SMD灯珠进行监测是否到位，然后气源辅助组件启动把SMD灯珠吹送到了SMD灯珠转接模组3的转接直轨33里，由于直轨现在设计的长度足够短，SMD灯珠在进入了SMD灯珠转接模组3里后再在气源辅助组件的作用下可以直接到达转接直轨33前端，待SMD灯珠到达转接直轨33前端时会有分离机构挡住第一颗SMD灯珠，而后续的进入到SMD灯珠转接模组3里的SMD灯珠则会依次排列到第一颗SMD灯珠的后面，待第一颗SMD灯珠被取走后排在后面的SMD灯珠就会在气源辅助组件和分离机构的作用下运送到轨道前端的待取料位置等待，如此循环作业……从而达到供料的要求。

一种无直振供料的高速分光分色机的工作方法包括以下动作：

（1）送检：将待检测的样品，以下所述的样品指的是贴片类SMD灯珠，放置在无直振供料模组10的圆形振动盘面上，调试微调机构使得和转接直轨的出料口与电磁铁直入料模组6的进料口对接，使得待测试样品可以从转接直轨的出料口直接进入电磁铁直入料模组6的进料口，电磁铁直入料模组6的出料端设置的电磁铁对传送过来的样品进行间隔分离，使得传送过来的待检测样品可以有序地进入分光分色中心的工位处进行检测。

（2）检测收集：样品进入分光分色中心转盘14上的工位时，转盘14转动把样品一站站移动，当移动经过定位模组5时，定位模组5上的滚轮会对经过的样品进行校正，保证在测试时每颗材料都在同个位置，以便测试出来的效果更准确更稳定，校正之后转盘14继续旋转经过测试前侦测模组4，测试前侦测模组4对工位吸嘴上的样品进行侦测，如果有侦测到样品存在则旋转经过下一站测试模组7站，测试模组7会对样品材料的进行测试动作，在测试的同时，位于样品上方的积分球模组8则对导通触发后的样品进行各项数据的采集并回馈给工业电脑，工业电脑则对采集来的数据进行分析并归入到所预先设定的BIN号中，BIN号的个数是20个或36个或（20+n）个，以实际生产需要为准，其中包括有收集NG料的BIN号，然后反馈给PLC控制器,PLC则会按照接收到的数据对样品进行分类记忆，即将样品定义成哪一个BIN号，就会进入哪个BIN号的接料筒，待转盘14转动将样品移动到相对应的BIN号站时启动落料吹气模组11，落料吹气模组11对工位上的样品进行吹气使之落入接料筒中进行收集作业，使此类样品都收集到同一BIN号中。

（3）NG料收集：在预先设定的BIN号中，将前端三个BIN号设定成收集NG品的，如果测试过程中被程序判定为NG品，则在移动到相对应的NG料BIN号位时对应的吹气模组对工位上的NG料进行吹气使之落入预先设定为NG料的BIN号位的接料筒中进行收集作业进行排除，然后旋转经过NG品排除侦测模组9进行侦测，以确保NG品尽数排尽，不会流落到后续良品BIN中而导致混料；旋转至作为最末端的工位（即旋转一个圆周进行测试以及排料后的工位，即将进行下一轮接收新样品进行测试的工位）会经过转盘14余料侦测模组13进行余料侦测，确保转盘14在取料植入前工位吸嘴无料，防止伤料或者破坏机构等。

（3）分类收料：由于每个BIN号的接料筒的末端通过软通管与收料装置的收料筒相通连接，每个BIN号位里收集的检测后样品会通过软通管滑落收集在收料管里进行分类收集。

本发明通过无直振供料模组10进行直落式供料，通过电磁铁直入料模组6实现间隔式分离送料后进入分光分色中心进行检测，分光分色中心设置有（20+n）个BIN位的转盘14，可以提高检测速度，待检测的SMD灯珠依次经过定位模组5进行定位，再经过测试前侦测模组4进行物料有无的确认，再经过测试模组7进和积分球模组8进行性能检测，然后不良品经过NG品排除侦测模组9进行排除并直接通过落料吹气模组11进行收集，良品经过落料接料筒模组12和转盘14余料侦测模组13，减少了SMD灯珠在直行轨道中进行依次排列传送，本发明通过全自动运行供料、定位模组5对材料的校正、侦测、测试挑选排除NG料、直接落料回收进入相对应的BIN筒，减少了SMD灯珠在XY TABLE分类时对材料的伤害，也节约了大量的时间，同时也降低了成本，提高了材料的质量，员工全程只需要加料、收集BIN满的料筒和按开关按钮。满足客户对SMD灯珠越来越苛刻的质量要求和产能要求，更大大节约了生产成本。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例，并非对本发明的技术范围作任何限制，本行业的技术人员，在本技术方案的启迪下，可以做出一些变形与修改，凡是依据本发明的技术实质对以上的实施例所作的任何修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。

设计图

一种无直振供料的高速分光分色机论文和设计

一种无直振供料的高速分光分色机论文和设计

全文摘要

主设计要求

设计方案

设计说明书

设计图

相关信息详情

猜你喜欢