全文摘要
本实用新型提供一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，包括光电角位移传感器组件、本体、定位盘、测试仪、连接盘和连接轴。所述光电角位移传感器组件包括传感器底座和传感器转轴，所述定位盘固定在本体上；所述传感器底座固定在定位盘上；所述传感器转轴中部为扁圆形，与连接盘的扁圆孔配合后穿过连接轴，在传感器转轴尾部通过螺母将传感器转轴与连接盘、连接轴夹紧固定；所述连接轴一端与连接盘连接，另一端与测试仪连接；所述测试仪固定在本体上。本实用新型精度测试装置结构简单紧凑，可实现无法安装螺钉的传感器转轴与测试仪的连接，满足小直径光电角位移传感器精度测试的要求。
主设计要求
1.一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，其特征在于，包括光电角位移传感器组件、本体、定位盘、测试仪、连接盘和连接轴，所述光电角位移传感器组件包括传感器底座和传感器转轴；所述定位盘固定在本体上，所述定位盘上设置有通孔；所述传感器底座固定在定位盘上；所述测试仪固定在本体上，所述测试仪上置有测试仪转动轴，测试仪转动轴与定位盘上的通孔同轴；所述连接盘与传感器转轴孔轴配合；所述连接轴一端与测试仪转动轴固定连接，另一端与连接盘固定连接。
设计方案
1.一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，其特征在于，包括光电角位移传感器组件、本体、定位盘、测试仪、连接盘和连接轴，所述光电角位移传感器组件包括传感器底座和传感器转轴；所述定位盘固定在本体上，所述定位盘上设置有通孔；所述传感器底座固定在定位盘上；所述测试仪固定在本体上，所述测试仪上置有测试仪转动轴，测试仪转动轴与定位盘上的通孔同轴；所述连接盘与传感器转轴孔轴配合；所述连接轴一端与测试仪转动轴固定连接，另一端与连接盘固定连接。
2.根据权利要求1所述一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，其特征在于，所述传感器转轴中部为扁圆形，可穿过连接盘和连接轴，所述传感器转轴尾部带有螺纹；所述连接盘上置有扁圆孔；所述连接轴与测试仪转动轴连接面上设置有可安装螺母的凹槽空间；所述传感器转轴中部的扁圆形与连接盘的扁圆孔配合，传感器转轴穿过连接盘和连接轴后在尾部用螺母紧固，将传感器转轴与连接轴、连接盘夹紧固定。
3.根据权利要求1所述一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，其特征在于，所述定位盘通过螺钉固定在本体上。
4.根据权利要求1所述一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，其特征在于，所述传感器底座通过螺钉固定在定位盘上。
5.根据权利要求1所述一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，其特征在于，所述连接盘通过螺钉固定在连接轴上。
6.根据权利要求1所述一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，其特征在于，所述连接轴通过螺钉与测试仪转动轴连接。
设计说明书
技术领域
本实用新型涉及工装夹具技术，尤其涉及一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置。
背景技术
光电角位移传感器是一种基于光电效应的传感器，是用于测量轴系角位移量的高精度测量仪表。光电角位移传感器制造完成后要进行精度检测，需将现有测试设备与光电角位移传感器转轴连接进行检测。小型的光电角位移传感器的转轴由于直径小，不能使用螺钉紧固，因此现有的通用设备无法直接与小型光电角位移传感器直接进行连接，不能满足小型光电角位移传感器的精度测试需求。
实用新型内容
本实用新型的目的在于，针对现有精度检测仪为通用设备无法与小型光电角位移传感器直接连接，不能满足小型光电角位移传感器精度检测需求的问题，提出一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，该装置结构简单，能可靠地连接测试设备与小型光电角位移传感器，进而实现精度的测试。
为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，包括光电角位移传感器组件、本体、定位盘、测试仪、连接盘和连接轴，所述光电角位移传感器组件包括传感器底座和传感器转轴，传感器转轴中部为扁圆形，可穿过连接盘和连接轴，其尾部带有螺纹；所述本体设置上平面和下平面，上平面设置有定位盘安装孔，所述定位盘固定在定位盘安装孔中；所述定位盘上设置有用于固定传感器底座的定位面，所述定位盘上设置通孔；所述测试仪固定在下平面上，所述测试仪上设有测试仪转动轴，测试仪转动轴与定位盘上通孔同轴；所述连接盘上设置有与传感器转轴中部配合的扁圆孔；所述连接轴一端与测试仪转动轴固定连接，另一端与连接盘固定连接，所述连接轴与测试仪转动轴连接面上设置有可安装螺母的凹槽空间。
进一步地，所述定位盘通过第一螺钉固定在定位盘安装孔中。
进一步地，所述传感器底座通过第二螺钉固定在定位面上。
进一步地，所述连接盘通过第三螺钉固定在连接轴上。
进一步地，所述连接轴通过第四螺钉与测试仪转动轴连接。
进一步地，所述传感器转轴中部与连接盘配合，且穿过连接盘和连接轴后在尾部通过螺母紧固，将传感器转轴与连接轴、连接盘夹紧固定。
本实用新型一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置使用时，测试仪转动轴转动，带动连接轴和连接盘转动，进而带动传感器转轴转动，对比测试仪和光电角位移传感器的测试输出结果，经过统计计算，完成精度测试。
本实用新型一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置结构简单紧凑，工作原理可行，可实现无法安装螺钉的传感器转轴与测试仪的连接，满足小型光电角位移传感器精度测试的要求。本实用新型所述光电角位移传感器包括但不限于小直径转轴的光电角位移传感器。
本实用新型一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置在实际应用中，可设计一系列与不同光电角位移传感器相配合的定位盘和连接盘，即不同定位盘设置的定位面与不同待检测光电角位移传感器底座相配合，但定位盘的外轮廓均与本体上平行面的定位盘安装孔相配合；不同连接盘的扁圆孔与不同待检测光电角位移传感器转轴中部的扁圆形轮廓相配合，实现一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置的通用性。
附图说明
图1为本实用新型一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置的结构示意图。
其中，1.本体，2.定位盘，3.测试仪，4.连接盘，5.连接轴，6.传感器底座，7.传感器转轴，8.第一螺钉，9.第二螺钉，10.第三螺钉，11.第四螺钉，12.螺母。
具体实施方式
以下结合实施例对本实用新型进一步说明：
实施例1
本实施例公开了一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置，具体结构如图1所示，该精度测试装置包括传光电角位移感器组件、本体1、定位盘2、测试仪3、连接盘4和连接轴5。
所述光电角位移传感器组件包括传感器底座6和传感器转轴7，传感器转轴7中部为扁圆形，可穿过连接盘4和连接轴5，传感器转轴7尾部带有螺纹。
所述本体1设置上平面和下平面，所述上平面设置有定位盘安装孔，所述定位盘2的外轮廓与上平行面的定位盘安装孔向配合，所述定位盘2通过第一螺钉8固定在定位盘安装孔中。
所述定位盘2上设置有用于固定传感器底座6的定位面，所述传感器底座6通过第二螺钉9固定在定位面上；所述定位盘2上设置通孔。
所述测试仪3固定在下平面上，所述测试仪3上设有测试仪转动轴，测试仪转动轴与定位盘2上的通孔同轴。
所述连接轴5的一端与连接盘4通过第三螺钉10固定，另一端通过第四螺钉11与测试仪转动轴连接，连接轴5与测试仪转动轴连接面上设置有可安装螺母的凹槽空间；所述连接盘4上设置有与传感器转轴7中部配合的扁圆孔，所述传感器转轴7中部与连接盘4配合并穿过连接轴5后，在尾部通过螺母12将传感器转轴7与连接盘4、连接轴5夹紧固定。
本实施例一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置使用时，测试仪转动轴转动，连接轴5和连接盘4转动，进而带动传感器转轴7转动，对比测试仪3和光电角位移传感器组件的测试输出结果，经过统计计算，完成精度测试。
本实施例一种孔轴配合连接的光电角位移传感器精度测试装置能将无法安装螺钉的传感器转轴7与测试仪3进行连接，保证测试过程中的稳固可靠连接，实现光电角位移传感器精度测试。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型实施例技术方案的范围。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201920059702.5
申请日:2019-01-15
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:91(大连)
授权编号:CN209432077U
授权时间:20190924
主分类号:G01B 11/26
专利分类号:G01B11/26
范畴分类:31B;
申请人:大连探索者科技有限公司
第一申请人:大连探索者科技有限公司
申请人地址:116023 辽宁省大连市高新技术产业园区火炬路32号A座19层
发明人:廖祖平;裴麟;李红颖;孙伟楠
第一发明人:廖祖平
当前权利人:大连探索者科技有限公司
代理人:代理机构:代理机构编号:优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计