靶丸X射线光学厚度的精密检测

论文摘要

为了精密检测靶丸X射线光学厚度均匀性,建立了基于精密轴系和光纤阵列探测的靶丸X射线光学厚度检测装置,开展了光学厚度轮廓仪光路精密调校技术的研究,应用白光共焦光谱技术和光学显微成像技术,解决了气浮转台精密调整、X射线光路对中的难题,实现了对塑料靶丸壳层缺陷、表面质量、壁厚均匀性、壳层材料成分均匀性等多种耦合扰动综合效应的表征。对系统的稳定性进行了测试,实验结果表明,该系统的测量重复性偏差可基本控制在0.01%以内,空间分辨率约为100μm,满足ICF靶物理研究对靶丸X射线光学厚度扰动的高精度检测需求。

论文目录

• 1 引言
• 2 测量原理及装置
• 3 X射线光路调校
• 4 测量结果及讨论
• 5 结论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 王琦,高党忠,唐兴,马小军,王宗伟

关键词: 光学测量,激光聚变,射线光学厚度,光路调校,靶丸

来源: 光学精密工程 2019年05期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑,基础科学

专业: 物理学,核科学技术

单位: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心

基金: 科学挑战专题(No.TZ2018006-0204-01),国家自然科学基金资助项目(No.11504350)

分类号: O434.1;TL632.1

页码: 1039-1044

总页数: 6

文件大小: 367K

下载量: 47