基于X射线透射的矿石品位检测方法研究

基于X射线透射的矿石品位检测方法研究

论文摘要

矿石的检测是矿山企业采矿生产的重要工作,它既可以帮助分析指导采矿生产,又是后续选矿(冶炼)生产配比的组织保障。但是由于矿石的特殊性以及现场环境工况的复杂性,传统的矿石品位检测方法难以在无损检测的前提下准确的判断品位。X射线透射法已经成熟应用于安检、医疗领域中进行物质识别,本文将此方法改进引入矿石品位检测中,通过感知器算法形成分类曲线,依据分类曲线统计K值,进而判断矿石品位。这种方法立足于大量实验数据,判断结果和实际相符程度高,并且实现无损检测。

论文目录

  • 1 传统品位检测方法概述
  •   1.1 X射线荧光光谱法 (XRF)
  •   1.2 原子吸收光谱法
  •   1.3 激光诱导击穿光谱法
  • 2 X射线透射法
  •   2.1 X射线透射法原理概述
  •   2.2 阈值分割法提取矿石信息
  •   2.3 基于感知器算法的矿石品位判断
  • 3 某黑钨矿矿石试验
  • 4 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 葛丁,梁殿印

    关键词: 射线透射,矿石,品位,检测

    来源: 有色金属(选矿部分) 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅰ辑,基础科学

    专业: 物理学,冶金工业

    单位: 北京矿冶研究总院

    分类号: TF041;O434.1

    页码: 87-93

    总页数: 7

    文件大小: 2417K

    下载量: 91

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