全文摘要
本实用新型提供一种平面测试平台，所述平面测试平台包括：平板，所述平板用于放置待测试设备；导电接口，所述导电接口设置于所述平板，所述导电接口具有导电端子，所述导电端子的长度方向与所述平板的上表面之间具有一夹角，所述夹角大于0度，且所述导电端子的顶端用于与所述待测试设备相接触，以使所述导电接口与所述待测试设备电连接。本实用新型通过从上到下的放置结构和电连接接口结构，避免了从左到右滑动连接结构造成的摩擦造成的磨损误差，大大减小了因为磨损造成的待测试设备的精度误差，提高了待测试设备的精度。
主设计要求
1.一种平面测试平台，其特征在于，所述平面测试平台包括：平板，所述平板用于放置待测试设备；导电接口，所述导电接口设置于所述平板，所述导电接口具有导电端子，所述导电端子的长度方向与所述平板的上表面之间具有一夹角，所述夹角大于0度，且所述导电端子的顶端用于与所述待测试设备相接触，以使所述导电接口与所述待测试设备电连接。
设计方案
1.一种平面测试平台，其特征在于，所述平面测试平台包括：
平板，所述平板用于放置待测试设备；
导电接口，所述导电接口设置于所述平板，所述导电接口具有导电端子，所述导电端子的长度方向与所述平板的上表面之间具有一夹角，所述夹角大于0度，且所述导电端子的顶端用于与所述待测试设备相接触，以使所述导电接口与所述待测试设备电连接。
2.权利要求1所述的平面测试平台，其特征在于，所述夹角为90度。
3.如权利要求1所述的平面测试平台，其特征在于，所述待测试设备具有信号接口，所述导电接口的所述导电端子用于与所述信号接口电连接通信，所述导电接口沿竖直方向贯穿于并滑设于所述平板，以实现与所述信号接口的连接与断开。
4.如权利要求3所述的平面测试平台，其特征在于，所述导电端子为探针；
所述平面测试平台还包括驱动装置，所述驱动装置与所述导电接口传动连接，以使所述导电接口相对于所述平板沿竖直方向上下移动。
5.如权利要求1所述的平面测试平台，其特征在于，所述平面测试平台还包括限位装置，所述限位装置设置于所述平板的周边，以形成定位空间，用于定位放置所述待测试设备。
6.如权利要求5所述的平面测试平台，其特征在于，所述限位装置面对所述定位空间的一侧设置有弹性紧固部件，所述弹性紧固部件用于夹紧所述待测试设备。
7.如权利要求1所述的平面测试平台，其特征在于，所述平面测试平台还包括传感器，所述传感器用于检测所述平板上是否放置有所述待测试设备。
8.如权利要求1所述的平面测试平台，其特征在于，所述平面测试平台还包括凸台，所述凸台从所述平板的上表面沿竖直方向向上延伸，所述凸台的上表面为一平面，所述凸台用于承载所述待测试设备。
9.如权利要求8所述的平面测试平台，其特征在于，所述凸台为四个，四个所述凸台呈矩形排布。
10.如权利要求1-9中任一项所述的平面测试平台，其特征在于，所述平面测试平台还包括移动平台，所述平板设置于所述移动平台；
所述平板上开设有沉孔，所述移动平台对应位置设置有通孔，所述沉孔与所述通孔内螺纹连接有一紧固件，以使所述平板与所述移动平台固定连接。
设计说明书
技术领域
本实用新型涉及测试装置，特别涉及一种平面测试平台。
背景技术
电子天平为高精度测量仪器，在出厂之前，需要对电子天平进行校准调试，因为电子天平的高精度要求，所以对电子天平的校准调试环境也提出了很高的标准，特别是对校准调试的平面测试平台的高平面度要求。电子天平在校准调试时，需要将电子天平放置至平面测试平台上，将电子天平的天平传感器的接口与固定于平面测试平台上的接口一端进行连接，固定于平面测试平台上的接口另一端连接至测试仪器，测试仪器通过此连接校准高度天平传感器，从而实现对电子天平的校准调试。在现有技术中，平面测试平台三边有限位装置，一边开口，开口的对面一侧固定设置接口，该接口为水平设置，将电子天平传感器接口一侧朝向平面测试平台的固定接口，将电子天平底座放置于平面测试平台的开口一端，将电子天平向开口另一端推至测试位置，此时电子天平传感器接口与平面测试平台的固定接口在推力作用下实现对接。但在此过程中，不可避免会产生天平底座与平面测试平台接触面的摩擦，不同程度的摩损会影响天平底座平面度的精度，进而会影响天平的整体精度。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术推动电子天平至被测试位置与测试装置连接过程中，电子天平滑动接触面会磨损导致精度误差偏大的缺陷，提供一种平面测试平台。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题：
一种平面测试平台，所述平面测试平台包括：
平板，所述平板用于放置待测试设备；
导电接口，所述导电接口设置于所述平板，所述导电接口具有导电端子，所述导电端子的长度方向与所述平板的上表面之间具有一夹角，所述夹角大于0度，且所述导电端子的顶端用于与所述待测试设备相接触，以使所述导电接口与所述待测试设备电连接。
较佳地，所述夹角为90度。
较佳地，所述待测试设备具有信号接口，所述导电接口的所述导电端子用于与所述信号接口电连接通信，所述导电接口沿竖直方向贯穿于并滑设于所述平板，以实现与所述信号接口的连接与断开。
较佳地，所述导电端子为探针；
所述平面测试平台还包括驱动装置，所述驱动装置与所述导电接口传动连接，以使所述导电接口相对于所述平板沿竖直方向上下移动。
较佳地，所述平面测试平台还包括限位装置，所述限位装置设置于所述平板的周边，以形成定位空间，用于定位放置所述待测试设备。
较佳地，所述限位装置面对所述定位空间的一侧设置有弹性紧固部件，所述弹性紧固部件用于夹紧所述待测试设备。
较佳地，所述平面测试平台还包括传感器，所述传感器用于检测所述平板上是否放置有所述待测试设备。
较佳地，所述平面测试平台还包括凸台，所述凸台从所述平板的上表面沿竖直方向向上延伸，所述凸台的上表面为一平面，所述凸台用于承载所述待测试设备。
较佳地，所述凸台为四个，四个所述凸台呈矩形排布。
较佳地，所述平面测试平台还包括移动平台，所述平板设置于所述移动平台；
所述平板上开设有沉孔，所述移动平台对应位置设置有通孔，所述沉孔与所述通孔内螺纹连接有一紧固件，以使所述平板与所述移动平台固定连接。
本实用新型的积极进步效果在于：本实用新型沿竖直方向滑动与待测试设备的通信接口接触连接，实现测试平台与待测试设备的电连接通信，从上到下的放置结构和电连接接口结构，避免了从左到右滑动连接结构造成的摩擦造成的磨损误差，大大减小了因为磨损造成的待测试设备的精度误差，提高了待测试设备的精度。
附图说明
图1为本实用新型一实施例平面测试平台的结构示意图。
附图标记说明
平板1
导电接口2
导电端子21
探针22
驱动装置3
限位装置4
弹性紧固部件41
传感器5
凸台6
移动平台7
沉孔8
通孔9
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本实用新型，但并不因此将本实用新型限制在所述的实施例范围之中。
图1示出了一种平面测试平台的结构示意图。所述平面测试平台包括：平板1和导电接口2。平板1用于放置待测试设备，所述待测试设备包括一信号接口，用于与导电接口2接触导通信号，导电接口2设置于所述平板1，导电接口2的另一端与外部控制设备通信连接，用于传输待测试设备与外部控制设备之间的传输信号。导电接口2具有导电端子21，所述导电端子21的长度方向与所述平板1的上表面之间具有一夹角，所述夹角大于0度，所述导电端子21的顶端用于与所述待测试设备的信号接口相接触，以使所述导电接口2与所述待测试设备电连接，角度设置的方式使得接触方式为非横向接触连接。把待测试设备从上往下轻轻放置于平板1上，使得待测试设备的信号接口与导电接口2非横向相接触，从而实现与外部控制设备通信连接，避免了底座从左到右滑动从横向去接触连接结构造成的磨损，大大减小了因为磨损造成的待测试设备的精度误差，提高了待测试设备的精度。
更具体地，将所述夹角设计为90度角，可减小接触面积，降低因为接触产生的力导致的误差。
更具体地，所述导电端子为探针22，所述平面测试平台还包括驱动装置3，所述驱动装置3与所述导电接口2传动连接，以使所述导电接口2相对于所述平板1沿竖直方向上下移动，从而带动所述探针22上下移动，以实现与所述待测试设备的信号接口的连接与断开。
在本实施例中，待测试设备的信号接口为金手指，探针22只要与待测试设备的信号接口金手指的导电触片相接触，就会实现信号导通，把待测试设备从上往下轻轻放置于平板1上后，驱动装置3带动探针上下移动，当驱动装置3带动探针22往上移动时，探针22的顶端逐渐靠近待测试设备的金手指接口，当探针22顶端接触到金手指的导电触片，驱动装置3停止工作，测试平台与待测试设备保持信号导通状态，调试校准完成后，驱动装置3驱动探针22向下移动，使得测试平台与待测试设备断开连接。
优选地，平面测试平台还包括限位装置4，限位装置4均匀设置于平板1的四周边，以形成定位空间，用于定位放置待测试设备，如图1所示平板1设置为矩形形状，每条矩形边上设置一至两个限位装置4，所述限位装置4相对的面均为平面，且相对的面的上端都具有导向面，方便待测试设备的定位放置。
优选地，限位装置4面对定位空间的相对面上设置有弹性紧固部件41，弹性紧固部件41用于夹紧待测试设备，只在相邻两边的限位装置4上设置弹性紧固部件41，另两边用于固定定位，设置弹性紧固部件41的限位装置4将待测试设备推紧，起到稳固的效果，同时避免双面布置弹性紧固部件可能造成的受力不均影响精度。
限位装置4可以使得在放置待测试设备时，保证放置位置的精确性，使得放置位置一次到位，不用多次进行人工调整，提高了工作效率和测试精度，
优选地，平面测试平台还包括传感器5，传感器5用于检测平板1上是否放置有待测试设备。更具体地，传感器5为接近传感器，当接近传感器检测到测试设备放入平板上后，传输信号给测试控制设备，以进行下一步的测试工作，代替人工控制操作，提高工作效率。
优选地，平板上还包括凸台6，凸台从所述平板的上表面沿竖直方向向上延伸，数量设置为四个并呈矩形排布。凸台6的上表面为一平面，凸台6用于承载待测试设备。
待测试设备对平面度的要求非常高，平面度要求为小于0.005mm，因此对测试平台也提出了高要求，测试平台的平板作为一个承载面，面积比较大，在工艺方面，比较难实现这个高平面度要求，本实施例中，采用在平板上固定设置四个矩形排布的圆形凸台作为待测试设备的承载体，相比整个平板而言，承载的面积减小，工艺上容易实现，数量设置为四个并呈矩形排布，一方面矩形排布可以实现放置待测试设备容易达到平衡，使得待测试设备更稳当，另一方面，数量四个的设置相比较少的数量而言，在测量时，如果上表面出现倾斜面，一至三个凸台的上表面测量时不容易发现，而四个凸台的表面就会使得待测试设备放置上去时容易发生翘曲，从而可以提前避免翘曲引起的精度误差，进一步提高了测试平台的测试精度。
优选地，平面测试平台还包括移动平台7，平板设置于移动平台7；平板1上开设有沉孔8，移动平台对应位置设置有通孔9，沉孔8与通孔9内螺纹连接有一紧固件，以使平板与移动平台固定连接。沉孔的设置，使得紧固件不凸出于平板的上表面，避免对测试工作的干扰，更利于测试，提高测试效率。
虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式，但是本领域的技术人员应当理解，这仅是举例说明，本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201822273951.2
申请日:2018-12-29
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:31(上海)
授权编号:CN209214754U
授权时间:20190806
主分类号:G01G 23/01
专利分类号:G01G23/01
范畴分类:31H;
申请人:上海玑智自动化科技有限公司
第一申请人:上海玑智自动化科技有限公司
申请人地址:201799 上海市青浦区胜利路888号1幢一层东侧、20幢
发明人:苏坤
第一发明人:苏坤
当前权利人:上海玑智自动化科技有限公司
代理人:薛琦
代理机构:31283
代理机构编号:上海弼兴律师事务所
优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计