利用工程散射片测量太阳光谱观测设备的平场

论文摘要

针对大口径小视场的太阳光谱观测设备,提出一套基于工程散射片的平场测量装置和方法.根据太阳观测的视场角以及太阳光谱观测设备的参数,确定了采用散射角为1°、强度分布为平顶的工程散射片.模拟了日面中心宁静区189″×189″观测视场内太阳光经过工程散射片后,在焦面处获得散射光场的均匀性,结果表明其均匀度为99.24%,接近理想的均匀面光源.利用国家天文台怀柔太阳观测基地的太阳光谱观测系统开展了平场测量,将工程散射片置于焦面附近,可有效缩小工程散射片的口径,同时利用小角度转动光栅有限位置的方法测量了该光谱观测设备的平场,包括狭缝和光谱方向的不均匀性.实测结果表明,平场改正后狭缝方向的大尺度强度变化和日震磁像仪(HMI)相同视场的强度接近,光谱方向高频的探测器脏点得到有效校正,通过交叉定标和自定标验证了平场测量的有效性.

论文目录

• 1 引言
• 2 工程散射片测量平场的原理
•   2.1 会聚太阳光经工程散射片后散射斑对应视场的计算
•   2.2 太阳光经工程散射片后在观测视场内散射光源的均匀性
• 3 实验平台和数据采集
• 4 平场计算过程和改正效果
• 5 结论和讨论

文章来源

类型: 期刊论文

作者: 白先勇,冯志伟,邓元勇,张志勇,郭晶晶

关键词: 工程散射片,太阳光谱仪,图像分析,平场,光度测量

来源: 中国科学:技术科学 2019年08期

年度: 2019

分类: 工程科技Ⅱ辑,基础科学

专业: 天文学

单位: 中国科学院国家天文台,中国科学院太阳活动重点实验室

基金: 国家自然科学基金(批准号:11873062,11427901,11427803,11773072,11773038,11773040,11703042,U1731241),中国科学院战略性先导科技专项(A类)(编号:XDA15320102,XDA15052200,XDA15010800)资助项目

分类号: P182.21

页码: 910-918

总页数: 9

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