论文摘要
针对克里格电离层插值方法受粗差数据影响和全球适用性问题,基于克里金插值的变异函数,构造电离层插值的粗差剔除统计量,实现插值过程自动化粗差剔除。采用全球电离层总电子含量格网产品进行试验验证,得出以下结论:①粗差剔除统计量能有效剔除粗差,保证插值精度与样本精度相当;②基于2014年太阳活动高年样本,克里金插值的精度RMS为1.0~5.0 TECU(total electron content unit)。
论文目录
文章来源
类型: 期刊论文
作者: 朱永兴,谭述森,杜兰,贾小林
关键词: 克里金插值,总电子含量,全球插值,粗差剔除,精度分析
来源: 测绘学报 2019年07期
年度: 2019
分类: 基础科学
专业: 自然地理学和测绘学
单位: 信息工程大学,地理信息工程国家重点实验室,西安测绘研究所,北京卫星导航中心
基金: 国家重点研发计划(2016YFB0501900),国家自然科学基金(41574013,41604024,41674012,41704035,41874041)~~
分类号: P228.4
页码: 840-848
总页数: 9
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