导读:本文包含了反射率曲线论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:光谱反射率曲线,包装纸,色相色差,不同颜色油墨
反射率曲线论文文献综述
王庆贵,高韬,冯欣,马晓伟,张仕涛[1]（2018）在《光谱反射率曲线在包装纸印刷品色相色差评价与控制中的应用》一文中研究指出为了研究光谱反射率曲线使用在包装纸印品色相色差评价方法中产生的影响。实验采用光谱反射率曲线对影响包装纸印品色相色差的不同颜色油墨、同一色料不同色含量油墨、同一索引号不同批次的油墨以及专色油墨的同色异谱色和同谱色进行判定,对实验数据进行分析并寻找相应的规律。实验结果表明,包装纸印品的色相色差与油墨材料的光谱反射率曲线有着密切的联系,可以作为商品包装纸印刷质量好坏的初始判据。通过整合并规范油墨用料,利用油墨材料的光谱反射率曲线可对包装纸印品的色相色差进行有效的控制和判定,以确保不同批次、不同厂家生产的同一印品其色相色差与标准品的一致性。(本文来源于《轻工科技》期刊2018年05期）
马一博,王梅玲,王海,袁佩,范燕[2]（2016）在《基于GIXRR反射率曲线的二氧化硅纳米薄膜厚度计算》一文中研究指出为了快速、准确得到纳米薄膜厚度,采用Kiessig厚度干涉条纹计算薄膜厚度的线性拟合公式,计算了不同系列厚度(10~120nm)的二氧化硅薄膜。薄膜样品采用热原子层沉积法(T-ALD)制备,薄膜厚度使用掠入射X射线反射(GIXRR)技术表征,基于GIXRR得到的反射率曲线系统讨论了线性拟合公式计算薄膜厚度的步骤及影响因素,同时使用XRR专业处理软件GlobalFit2.0比较了两种方法得到的膜厚,最后提出一种计算薄膜厚度的新方法-经验曲线法。结果表明:峰位级数对线性拟合厚度产生主要影响,峰位级数增加,厚度增大;峰位对应反射角同样对线性拟合厚度有较大影响,表现为干涉条纹周期增大,厚度减小。但峰位级数及其对应反射角在拟合薄膜厚度过程中引入的误差可进一步通过试差法,临界角与干涉条纹周期的校准来减小。对任意厚度的同一样品,线性拟合和软件拟合两种方法得到的薄膜厚度具有一致性,厚度偏差均小于0.1nm,表明线性拟合方法的准确性。在厚度准确定值的基础上提出薄膜厚度与干涉条纹周期的经验关系曲线,通过该曲线,可直接使用干涉条纹周期计算薄膜厚度,此方法不仅省略了线性拟合过程中确定峰位级数及其对应反射角的繁琐步骤,而且避免了软件拟合过程中复杂模型的建立,对快速、准确获得薄膜厚度信息具有重要的意义。(本文来源于《光谱学与光谱分析》期刊2016年10期）
陈洪博,白向飞,张宇宏,王越[3]（2014）在《光度计测定镜质体反射率工作曲线的建立与应用》一文中研究指出为了优化配煤,提高镜质体反射率测试精度,以MSP UV-VI2000型光度计为例,介绍了测定镜质体反射率的原理和测试流程。推导出了测定反射率的通用公式和专用公式。对2种公式进行比较发现:专用公式需要校准设备,过程繁琐。通用方法具有普遍适用的特点,其基本步骤为人工读数,做曲线,计算反射率值,绘制直方图。根据公式,分析了工作曲线的最大量程,反射率的分辨能力。重点比较分析了不同斜率的2条光度计工作曲线以及在测试过程中如何选择工作曲线。最后提出了光度计测定镜质体反射率应遵循的原则。(本文来源于《洁净煤技术》期刊2014年05期）
陈洪博,白向飞,李振涛,张宇宏[4]（2014）在《图像法测定煤岩组分反射率工作曲线的建立与应用》一文中研究指出基于图像分析的煤岩自动测试系统测定煤岩组分反射率的理论依据是物质的反射率值与图像的灰度值呈正比关系,工作曲线的建立是测定显微组分反射率的前提。系统分析了图像法测定反射率的原理、测试流程、原理公式,并利用煤岩自动测试系统进行建立工作曲线的试验研究和验证,分析工作曲线的最大量程和反射率的分辨能力,提出在实际测试中工作曲线的选择原则。工作曲线的斜率、最大量程、分辨能力均可通过改变显微镜照明强度和显微数码照相机曝光时间两种方式调整。256级灰度值的显微数码照相机满足图像法测定反射率的精度要求。反射率自动测试系统与传统的光度计法的测试结果的平均值和直方图对比性强。(本文来源于《煤炭学报》期刊2014年03期）
李琦,赵京城[5]（2007）在《吸波材料反射率测试曲线平滑方法》一文中研究指出由于硬件软件水平和环境的干扰,在微波暗室中对吸波材料反射率进行测试会受到这些因素的影响,使得测量结果不能如实反映被测材料的特性,因此必须对测量数据进行处理来获得准确的结果。本文介绍了一种测试曲线滤除噪声的方法,先对测量数据进行傅里叶变换,获得数据的频谱分布,然后用低通滤波器将干扰谱滤除,最后用逆傅里叶变换获得处理后的数据。通常曲线边缘处理是平滑方法的难点,本文很好地解决了这个问题。(本文来源于《电子测量技术》期刊2007年12期）
反射率曲线论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
为了快速、准确得到纳米薄膜厚度,采用Kiessig厚度干涉条纹计算薄膜厚度的线性拟合公式,计算了不同系列厚度(10~120nm)的二氧化硅薄膜。薄膜样品采用热原子层沉积法(T-ALD)制备,薄膜厚度使用掠入射X射线反射(GIXRR)技术表征,基于GIXRR得到的反射率曲线系统讨论了线性拟合公式计算薄膜厚度的步骤及影响因素,同时使用XRR专业处理软件GlobalFit2.0比较了两种方法得到的膜厚,最后提出一种计算薄膜厚度的新方法-经验曲线法。结果表明:峰位级数对线性拟合厚度产生主要影响,峰位级数增加,厚度增大;峰位对应反射角同样对线性拟合厚度有较大影响,表现为干涉条纹周期增大,厚度减小。但峰位级数及其对应反射角在拟合薄膜厚度过程中引入的误差可进一步通过试差法,临界角与干涉条纹周期的校准来减小。对任意厚度的同一样品,线性拟合和软件拟合两种方法得到的薄膜厚度具有一致性,厚度偏差均小于0.1nm,表明线性拟合方法的准确性。在厚度准确定值的基础上提出薄膜厚度与干涉条纹周期的经验关系曲线,通过该曲线,可直接使用干涉条纹周期计算薄膜厚度,此方法不仅省略了线性拟合过程中确定峰位级数及其对应反射角的繁琐步骤,而且避免了软件拟合过程中复杂模型的建立,对快速、准确获得薄膜厚度信息具有重要的意义。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
反射率曲线论文参考文献
[1].王庆贵,高韬,冯欣,马晓伟,张仕涛.光谱反射率曲线在包装纸印刷品色相色差评价与控制中的应用[J].轻工科技.2018
[2].马一博,王梅玲,王海,袁佩,范燕.基于GIXRR反射率曲线的二氧化硅纳米薄膜厚度计算[J].光谱学与光谱分析.2016
[3].陈洪博,白向飞,张宇宏,王越.光度计测定镜质体反射率工作曲线的建立与应用[J].洁净煤技术.2014
[4].陈洪博,白向飞,李振涛,张宇宏.图像法测定煤岩组分反射率工作曲线的建立与应用[J].煤炭学报.2014
[5].李琦,赵京城.吸波材料反射率测试曲线平滑方法[J].电子测量技术.2007