FIB-TOF-SIMS联用技术在矿物学研究中的应用

FIB-TOF-SIMS联用技术在矿物学研究中的应用

论文摘要

基于聚焦离子束扫描电子显微镜的飞行时间二次离子质谱联用技术同时具备了聚焦离子束高空间分辨率以及飞行时间二次离子质谱轻元素、同位素分析以及较低的元素检出限的优势。可以实现:扫描电镜下原位分析H、 Li、 Be、 B等轻元素;元素分布的纳米级横向空间分辨率;元素三维空间分布。能够同时得到纳米级矿物的形貌、元素组成以及元素空间分布信息,该技术在地学领域有广阔的应用前景。

论文目录

  • 1 主要仪器与性能
  • 2 应用实例
  •   2.1 超轻元素分析
  •   2.2 高空间分辨率元素面分析
  •   2.3 元素三维分析
  • 3 结论
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 王涛,葛祥坤,范光,郭冬发

    关键词: 飞行时间二次离子质谱,聚焦离子束扫描电镜,元素三维空间分布,轻元素分析,纳米级空间分辨率

    来源: 铀矿地质 2019年04期

    年度: 2019

    分类: 基础科学

    专业: 地质学

    单位: 核工业北京地质研究院

    分类号: P575

    页码: 247-252

    总页数: 6

    文件大小: 1198K

    下载量: 110

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