光热偏转论文_阿不都热苏力

导读:本文包含了光热偏转论文开题报告文献综述、选题提纲参考文献及外文文献翻译,主要关键词:光热,色散,载流子,悬臂梁,激光,阈值,棱镜。

光热偏转论文文献综述

阿不都热苏力[1](2016)在《利用一维光热偏转光谱法研究固体材料的热性能》一文中研究指出本文利用光热偏转光谱法理论,建立了泵浦激励下固体材料温度变化的一维温度场模型,用光热偏转光谱法的基本原理求解热传导方程得到了固体中的温度场分布,研究了样品中的光热偏转信号随时间的变化规律。探头了探测光距离对光热偏转光信号的影响。此外,对阶跃光激励下固体材料温度变化与光热偏转光信号的关系进行了初步分析。结果表明,随着探测光离样品表面距离的增加,信号的变化幅度不断下降。这对光热偏转光谱法的无损检测、医药、物理、化学和新材料等领域具有指导意义。(本文来源于《激光杂志》期刊2016年03期)

农金鹏,韦玮,王宁,张桂稳,蒋肖[2](2015)在《石墨烯纳米带修饰微悬臂梁的光热偏转特性研究》一文中研究指出针对传统双层悬臂梁存在吸收效率低的难题,提出了一种通过激发石墨烯纳米带表面等离激元以提高悬臂梁光热偏转特性的方法。首先,基于有限元法建立了石墨烯纳米带修饰微悬臂梁的光学模型,并通过优化石墨烯纳米带及悬臂梁的结构参数,实现了对入射光波的完美吸收(100%);其次,建立了悬臂梁的热力学模型,采用Ansys软件仿真计算了脉冲激光参数对悬臂梁光热偏转特性的影响。结果表明:在波长为10.7μm处,石墨烯纳米带修饰微悬臂梁的光热偏转灵敏度是传统双层悬臂梁光热偏转灵敏度的5倍,并且,在9.5~13.5μm的整个宽波段范围内,石墨烯纳米带修饰微悬臂梁的光热偏转灵敏度均大于传统双层悬臂梁光热偏转灵敏度的4倍。(本文来源于《中国科技论文》期刊2015年23期)

韩锦涛[3](2015)在《基于光热偏转法的激光薄膜损伤识别研究》一文中研究指出光学薄膜是组成激光系统的重要元件之一,其抗激光损伤能力不仅是评价激光系统的主要指标,更是一个十分重要的研究领域。它在激光武器等强激光的应用中,都有着十分重要的作用。本文对国内几种主要的激光薄膜损伤阈值测试方法进行了研究和总结,包括相衬显微镜法、散射光检测法、图像法等。其中,相衬显微镜法是国标中规定的测试方法。由于测试方法不同,测试结果也会有所不同。为了与其他方法的检测结果相互印证,本文提出了基于光热偏转法的激光薄膜损伤识别研究。本文通过对光热偏转法的理论研究,进行反射式脉冲光热偏转偏移量进行理论公式推导和理论计算,同时建立基于反射式光热偏转法的薄膜损伤识别模型。在此模型基础之上建立了两种光热偏转损伤偏移量识别系统。其一是基于象限探测器的光热偏转损伤偏移量识别系统。其二是基于CCD的光热偏转损伤偏移量识别系统。两个损伤识别系统都是由激光薄膜损伤系统和损伤信号识别系统组成,其中激光薄膜损伤系统是相同的。基于象限探测器的损伤识别系统主要包括损伤光信号转换模块、信号运算模块。基于象限探测器的损伤识别系统主要包括损伤光信号接收模块和检测光斑光强极值点定位程序。使用这两个系统进行SiO2薄膜的光热偏转损伤识别实验。分别得到偏移量与泵浦光束能量关系曲线。实验发现:当泵浦光束能量分别为85mJ和75mJ时,使用基于四象限探测器和CCD的光热偏转偏移量识别系统得到的曲线出现偏移量突然增大的拐点。为了进一步研究,对SiO2薄膜的损伤形貌和光学特性进行研究。最终得到SiO2薄膜的损伤判据:在使用基于象限探测器的光热偏转损伤偏移量识别系统对SiO2薄膜进行损伤识别时,当偏移量大于0.1mm时,认为SiO2薄膜发生了损伤;在使用基于CCD的光热偏转损伤偏移量识别系统对SiO2薄膜进行损伤识别时,当偏移量大于1.4 Pixel时,认为SiO2薄膜发生了损伤。结合损伤判据,利用零概率损伤阈阂值确定法计算Si02薄膜的损伤阈值:在基于象限探测器的光热偏转偏移量识别系统下,SiO2薄膜损伤阈值为12.7 J/cm2。基于CCD的光热偏转偏移量识别系统下,SiO2薄膜损伤阈值为9.3 J/cm2。为了进行对比分析,分别使用国际标准IS011254中的相衬显微镜法和实验室自己的图像法对Si02薄膜的激光损伤阈值进行测试。国标测试结果为11.9 J/cm2,图像法测试结果为12.5 J/cm2。测试结果表明:基于象限探测器偏移量识别系统的测试结果比国标测试结果相差0.8 J/cm2,相比图像法测试结果相差0.2 J/cm2。基于CCD的偏移量识别系统的测试结果比国标测试结果相差2.6 J/cm2,相比图像法测试结果相差3.2 J/cm2。得到结论:反射式光热偏转法能够对Si02薄膜损伤进行识别。与基于CCD的光热偏转法的测试结果相比,基于象限探测器的光热偏转损伤偏移量测试结果更接近图像法和国际标准IS011254中的相衬显微镜法的测试结果。除了Si02薄膜,反射式光热偏转法还适用于其他可反光薄膜的损伤识别。本文得到的损伤判据只是针对Si02薄膜而言,对于其他薄膜材料,还需要进行损伤识别实验来确定。(本文来源于《西安工业大学》期刊2015-05-25)

艾合麦提·沙地,阿不都热苏力,阿不都伟力·帕孜来提[4](2014)在《棱镜型光热偏转光谱法的研究》一文中研究指出采用棱镜的光色散特性建立了棱镜型光热偏转光谱法的理论框架,研究了激励光源对待测样品表面周期性照射情况下的探测光偏转角与光热信号之间的解析关系。得到了棱镜型样品表面周期性变化的偏转角表达式,探讨了调制频率,样品表面和探测光之间的距离对输出信号强度的影响。结果表明,该方法比传统型光谱法具有理论模型简单、试验容易实现、分辨率高、灵敏度高、测量方便快捷等优点。(本文来源于《激光杂志》期刊2014年05期)

艾合麦提·沙地,阿不都热苏力,阿不都伟力,帕孜来提[5](2013)在《光热偏转光谱法的研究》一文中研究指出为了建立棱镜型光热偏转光谱法的理论框架,采用棱镜的光色散特性研究了激励光源对待测样品表面周期性照射情况下的探测光偏转角与光热信号之间的解析关系。得到了棱镜型样品表面周期性变化的偏转角表达式。实现结果表明,该方法比传统型光谱法具有理论模型简单、实验容易实现、分辨率高、灵敏度高等优点。(本文来源于《光学与光电技术》期刊2013年06期)

曾胜财,甘亮勤[6](2012)在《阶跃光激励的光热光偏转实验系统及实验结果分析》一文中研究指出根据光热光偏转技术原理,设计了一套阶跃光激励的光热光偏转实验系统,并利用该实验系统研究了光热光偏转信号与激励光功率的关系;探索了实验条件和样品热学参数对光热光偏转信号的影响,获得了信号随探测光距样品表面的距离以及样品热扩散率的变化规律。(本文来源于《江西科学》期刊2012年04期)

苏晓强[7](2012)在《基于LabVIEW的光热偏转检测系统的设计与应用》一文中研究指出作为研究材料物化性质的一种有效检测手段,光热偏转检测技术是基于光热效应建立和发展起来的一种热波探测技术,由于其具有无损检测、高灵敏度和无需对样品进行预处理等优点,已被广泛应用于物理、材料科学等领域,受到了国内外研究者的热切关注。由于传统的光热偏转检测系统不同程度地存在测量自动化程度低等缺陷,尤其在数据处理方面需要调用其他的软件(如MATLAB、Origin等),使得测试测量的效率低,不能实时在线处理。本文采用当前流行的图像化编程语言LabVIEW作为光热偏转检测系统的开发环境,并在软硬件设计、实验和应用等方面开展了如下研究工作:(1)基于LabVIEW环境下设计并研发了光热偏转测量材料热扩散率和光热偏转成像两套检测系统,并阐述了实验系统的结构和调节方法。系统不仅在仪器控制、数据采集和数据显示等方面实现了自动化测量,而且还集成了光热偏转检测技术的数据处理功能,使得整个实验操作过程在同一编程语言环境下完成,经过多次测量与调试,系统运行稳定,人机界面友好,测量效率高,同时便于实时监测与控制,且具有很好的扩展性和直观性。(2)利用光热偏转测量材料热扩散率检测系统对非晶磁性材料的磁热性能进行了实验研究,并给出了理论分析。主要对铁基和钻基两种材料的热扩散率进行了测定,对两种材料施加磁场,比较了材料在加磁场和不加磁场情况下热扩散率的变化情况,并且测定了样品某一方向的热扩散率与磁场在不同夹角下的关系曲线,通过对磁性材料内部结构的分析,对实验现象作了初步的理论解释。同时,也证实了光热偏转检测技术是探测材料各向异性结构的一种有效手段。(3)利用光热偏转成像检测系统对铝片样品的次表面缺陷进行了热波成像的实验研究。通过分析所得光热偏转信号的振幅与相位成像图,以及样品尺寸和扫描的初始位置,能够十分准确地确定出材料缺陷的位置与尺度,而且很好地反映了试样的次表面结构。实验结果与理论分析相符合,表明该系统具有较高的应用价值,对于研究材料热学性质和次表面结构方面具有很大的应用潜力。(本文来源于《浙江师范大学》期刊2012-05-16)

苏晓强,张晓琳,陈赵江,方健文[8](2011)在《基于LabVIEW的光热偏转检测系统的设计》一文中研究指出将虚拟仪器技术和光热偏转检测技术相结合,在LabVIEW平台上设计开发了一套材料热扩散率测量的自动扫描和数据处理系统。整个系统在仪器控制、数据采集和数据显示等方面实现了自动化测量,并且集成了光热偏转检测技术的数据处理功能。实验结果表明系统运行稳定,操作简单快捷,具有很好的实时性和直观性。(本文来源于《光学与光电技术》期刊2011年04期)

叶茂群[9](2011)在《阶跃光激励下的半导体光热光偏转现象》一文中研究指出光热光偏转(Photothermal deflection, PTD)技术是一种基于光热效应建立和发展起来的无损检测技术,因其具有灵敏度高,不需要对样品进行预处理,可非接触测量等优点,已在物理、材料科学等领域获得了广泛的应用。最近,J.Zhao、曾胜财等提出了一种新的PTD技术,即阶跃光激励的PTD技术,并进行了初步的实验和理论研究。该技术与传统PTD技术相比,具有实验装置简单、紧凑,操作简便、快捷等优点。阶跃光激励的PTD技术目前尚处于发展阶段,以往的相关研究还仅局限于一般固体材料的光热效应,并且所测量的大多是材料的热学参数。在我们近期的研究中发现,半导体和一般固体材料的阶跃光激励的光热信号具有不同的特征,这就提供了一种利用阶跃光激励的光热技术表征半导体材料参数的可能性。本文简要回顾了半导体光激发过程、热源产生以及半导体光声光热效应的机理,并就阶跃光激励的PTD技术的理论和实验开展了如下研究工作:1.基于半导体光电效应原理和热传导规律,建立了阶跃光激励的半导体材料的一维温度场模型,并利用本征函数展开法进行求解。通过数值模拟对阶跃光激励下半导体材料的温度变化进行了研究,分析了半导体材料参数——载流子寿命以及热扩散率对温度变化的影响。此外,对阶跃光激励下半导体材料温度变化与PTD信号的关系进行了初步分析。2.建立了阶跃光激励的PTD技术的实验系统,并对系统的光路部分以及信号采集部分进行了分析。介绍了激励光和探测光调节装置、样品平台和信号接收装置,并阐述了位置探测器、探测光束与样品表面的水平调节方法。3.利用阶跃光激励的PTD实验系统研究了少数载流子寿命不同的半导体样品的光热光偏转信号,实验结果与理论结果符合较好,表明阶跃光激励的光热技术可用于对半导体材料参数进行表征。此外,对PTD信号与探测光---样品表面间距以及泵浦-探测光间距的关系进行了分析。(本文来源于《浙江师范大学》期刊2011-04-06)

曾胜财,陈远铭[10](2010)在《利用光热光偏转信号测量材料的热扩散率》一文中研究指出为了快速测量材料的热扩散率,根据光热光偏转技术的基本原理,建立了阶跃光激励的光热光偏转实验系统,并对不同样品进行了测试。通过分析阶跃光激励的光热光偏转信号的上升和衰减过程与样品热扩散率的关系,提出了利用光热光偏转信号测量材料热扩散率的特征时间比较法和上下沿拟合法,即通过拟合可以得到2种测量待测样品的热扩散率的关系曲线,分别为光热光偏转信号的上升时间与热扩散率的关系曲线和直接对光热光偏转信号的上升沿或下降沿拟合得到的系数与样品热扩散率的关系曲线。实验结果表明,这2种方法与传统的光热光偏转技术测量材料热扩散率方法相比,具有实验装置简单、测量方便快捷等优点。(本文来源于《实验室研究与探索》期刊2010年10期)

光热偏转论文开题报告

(1)论文研究背景及目的

此处内容要求:

首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景,再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题,并提出你的论文准备的观点或解决方法。

写法范例:

针对传统双层悬臂梁存在吸收效率低的难题,提出了一种通过激发石墨烯纳米带表面等离激元以提高悬臂梁光热偏转特性的方法。首先,基于有限元法建立了石墨烯纳米带修饰微悬臂梁的光学模型,并通过优化石墨烯纳米带及悬臂梁的结构参数,实现了对入射光波的完美吸收(100%);其次,建立了悬臂梁的热力学模型,采用Ansys软件仿真计算了脉冲激光参数对悬臂梁光热偏转特性的影响。结果表明:在波长为10.7μm处,石墨烯纳米带修饰微悬臂梁的光热偏转灵敏度是传统双层悬臂梁光热偏转灵敏度的5倍,并且,在9.5~13.5μm的整个宽波段范围内,石墨烯纳米带修饰微悬臂梁的光热偏转灵敏度均大于传统双层悬臂梁光热偏转灵敏度的4倍。

(2)本文研究方法

调查法:该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。

观察法:用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。

实验法:通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。

文献研究法:通过调查文献来获得资料,从而全面的、正确的了解掌握研究方法。

实证研究法:依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。

定性分析法:对研究对象进行“质”的方面的研究,这个方法需要计算的数据较少。

定量分析法:通过具体的数字,使人们对研究对象的认识进一步精确化。

跨学科研究法:运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。

功能分析法:这是社会科学用来分析社会现象的一种方法,从某一功能出发研究多个方面的影响。

模拟法:通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。

光热偏转论文参考文献

[1].阿不都热苏力.利用一维光热偏转光谱法研究固体材料的热性能[J].激光杂志.2016

[2].农金鹏,韦玮,王宁,张桂稳,蒋肖.石墨烯纳米带修饰微悬臂梁的光热偏转特性研究[J].中国科技论文.2015

[3].韩锦涛.基于光热偏转法的激光薄膜损伤识别研究[D].西安工业大学.2015

[4].艾合麦提·沙地,阿不都热苏力,阿不都伟力·帕孜来提.棱镜型光热偏转光谱法的研究[J].激光杂志.2014

[5].艾合麦提·沙地,阿不都热苏力,阿不都伟力,帕孜来提.光热偏转光谱法的研究[J].光学与光电技术.2013

[6].曾胜财,甘亮勤.阶跃光激励的光热光偏转实验系统及实验结果分析[J].江西科学.2012

[7].苏晓强.基于LabVIEW的光热偏转检测系统的设计与应用[D].浙江师范大学.2012

[8].苏晓强,张晓琳,陈赵江,方健文.基于LabVIEW的光热偏转检测系统的设计[J].光学与光电技术.2011

[9].叶茂群.阶跃光激励下的半导体光热光偏转现象[D].浙江师范大学.2011

[10].曾胜财,陈远铭.利用光热光偏转信号测量材料的热扩散率[J].实验室研究与探索.2010

论文知识图

光热偏转成像系统数据处理软件...光热偏转成像系统示意图光热偏转测量透射装置示意图光热偏转实验检测装置反射式光热偏转技术实验装置图光热偏转测量横向排布装置示意...

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