全文摘要
本实用新型公开了一种电源老化测试装置，包括下壳、上壳、PCB板、退DC板和连接器固定板，下壳底端面开设有贯穿的通孔，下壳开设有定位孔，上壳设有AC插座和DC插座，DC插座底部电连接PCB板，上壳固定于下壳，退DC板设于所述DC插座顶部，退DC板开设有与DC插座位置对应的贯穿孔，贯穿孔略大于DC插座孔以使待测插头穿过，退DC板上还设有导向柱，导向柱依次穿过定位孔和通孔，外力带动所述导向柱在定位孔和通孔往复运动从而带动退DC板运动远离所述DC插座，连接器固定板固定于上壳和下壳的侧边，连接器固定板上设有DC连接器和AC连接器，DC连接器与PCB板电连接，AC连接器与AC插座电连接。本实用新型提供的电源老化测试装置，测试效率高，测试方便。
主设计要求
1.一种电源老化测试装置，其特征在于，包括下壳、上壳、PCB板、退DC板和连接器固定板；所述下壳底端面开设有贯穿的通孔；所述上壳开设有定位孔，所述上壳设有至少一个AC插座和至少一个DC插座，所述DC插座底部电连接PCB板，所述上壳固定于下壳；所述退DC板设于所述DC插座顶部，所述退DC板开设有与DC插座位置对应的贯穿孔，所述贯穿孔略大于DC插座孔以使待测插头穿过，所述退DC板上还设有导向柱，所述导向柱依次穿过定位孔和通孔，外力带动所述导向柱在定位孔和通孔往复运动从而带动退DC板运动远离所述DC插座；所述连接器固定板固定于上壳和下壳的侧边，所述连接器固定板上设有DC连接器和AC连接器，所述DC连接器与PCB板电连接，所述AC连接器与AC插座电连接。
设计方案
1.一种电源老化测试装置，其特征在于，包括下壳、上壳、PCB板、退DC板和连接器固定板；
所述下壳底端面开设有贯穿的通孔；
所述上壳开设有定位孔，所述上壳设有至少一个AC插座和至少一个DC插座，所述DC插座底部电连接PCB板，所述上壳固定于下壳；
所述退DC板设于所述DC插座顶部，所述退DC板开设有与DC插座位置对应的贯穿孔，所述贯穿孔略大于DC插座孔以使待测插头穿过，所述退DC板上还设有导向柱，所述导向柱依次穿过定位孔和通孔，外力带动所述导向柱在定位孔和通孔往复运动从而带动退DC板运动远离所述DC插座；
所述连接器固定板固定于上壳和下壳的侧边，所述连接器固定板上设有DC连接器和AC连接器，所述DC连接器与PCB板电连接，所述AC连接器与AC插座电连接。
2.如权利要求1所述的电源老化测试装置，其特征在于，所述下壳底端面设有贯穿底端面的导向套，所述导向柱与导向套匹配，所述导向柱可在导向套内来回运动。
3.如权利要求1所述的电源老化测试装置，其特征在于，所述退DC板还开设有与定位孔位置对应的固定孔，所述导向柱固定于固定孔内。
4.如权利要求1所述的电源老化测试装置，其特征在于，所述AC连接器为双针型AC连接器。
5.如权利要求1所述的电源老化测试装置，其特征在于，所述DC连接器为双针型DC连接器。
6.如权利要求1所述的电源老化测试装置，其特征在于，所述DC插座为DC头连接器或USB线端连接器。
7.如权利要求1所述的电源老化测试装置，其特征在于，所述AC插座为三孔AC插座。
8.如权利要求1所述的电源老化测试装置，其特征在于，所述下壳底端面开设有ID卡安装槽。
9.如权利要求1所述的电源老化测试装置，其特征在于，所述下壳侧边开设有用于在装置回流时用于分离装置的阻挡槽。
设计说明书
技术领域
本实用新型涉及老化测试设备技术领域，具体地说，涉及一种电源老化测试装置。
背景技术
为了提高电子产品的出厂质量，电子产品在出厂前均需要进行老化测试。早期老化测试工序是将电子产品进行单个电连接测试，这种方式效率低，特别是当电子产品需要进行多个项目的老化测试时，电子产品的接口需要多次与不同的测试设备电连接，因而在测试项目转换时，电子产品的接口需要多次插拔，从而导致接口磨损较大，影响电子产品的使用寿命。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种电源老化测试装置，测试效率高，测试方便。
本实用新型公开的电源老化测试装置所采用的技术方案是:
一种电源老化测试装置，包括下壳、上壳、PCB板、退DC板和连接器固定板；
所述下壳底端面开设有贯穿的通孔；
所述上壳开设有定位孔，所述上壳设有至少一个AC插座和至少一个DC插座，所述DC插座底部电连接PCB板，所述上壳固定于下壳；
所述退DC板设于所述DC插座顶部，所述退DC板开设有与DC插座位置对应的贯穿孔，所述贯穿孔略大于DC插座孔以使待测插头穿过，所述退DC板上还设有导向柱，所述导向柱依次穿过定位孔和通孔，外力带动所述导向柱在定位孔和通孔往复运动从而带动退DC板运动远离所述DC插座；
作为优选方案，所述下壳底端面设有贯穿底端面的导向套，所述导向柱与导向套匹配，所述导向柱可在导向套内来回运动。
作为优选方案，所述退DC板还开设有与定位孔位置对应的固定孔，所述导向柱固定于固定孔内。
作为优选方案，所述AC连接器为双针型AC连接器。
作为优选方案，所述DC连接器为双针型DC连接器。
作为优选方案，所述DC插座为DC头连接器或USB线端连接器。
作为优选方案，所述AC插座为三孔AC插座。
作为优选方案，所述下壳底端面开设有ID卡安装槽。
作为优选方案，所述下壳侧边开设有用于在装置回流时用于分离装置的阻挡槽。
本实用新型公开的电源老化测试装置的有益效果是：将需要进行老化测试的设备安装在装置上，由于装置设有多个AC插座和多个DC插座，可以一次性测试多个不同类型的设备，测试效率高。当设备测试需要外接不同的电源时，只需DC连接器和AC连接器接入不同的电源即可，测试完成后，只需移动导向柱带动退DC板，退DC板移动将设备的DC插头一次性全部顶出，操作简单方便。
附图说明
图1是本实用新型电源老化测试装置的结构示意图。
图2是本实用新型电源老化测试装置的俯视结构示意图。
图3是本实用新型电源老化测试装置的背面结构示意图。
图4是本实用新型电源老化测试装置的侧视结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例和说明书附图对本实用新型做进一步阐述和说明:
请参考图1、图2、图3和图4，电源老化测试装置包括下壳10、上壳20和连接器固定板30。
下壳10底端面开设有有贯穿底端面的通孔或导向套，通孔或导向套内设有导向柱12，导向柱12可在通孔或导向套内回来运动。导向柱可以为定位销、铜套或铜螺母。下壳10底端面还开设有ID卡安装槽14，安装槽14内设有ID卡，ID卡用于给装置设置一个磁性编号。下壳10侧边开设有用于在装置回流时用于分离装置的阻挡槽16。
上壳20上设有十六个AC插座22和十六个DC插座24。DC插座24底部电连接PCB板，DC插座24顶部上设有退DC板26。退DC板26开设有与DC插座数量和位置一致的贯穿孔，贯穿孔略大于DC插座24孔。DC插头穿过退DC板与DC插座电连接。将需要进行老化测试的设备安装在装置上，由于装置设有多个AC插座和多个DC插座，可以一次性测试多个不同类型的设备，测试效率高。
上壳20开设有定位孔，退DC板26开设有与定位孔位置对应的固定孔262。上壳20固定于下壳10上，导向柱12依次穿过定位孔和固定孔262且固定于退DC板26上。导向柱12可带动退DC板26来回运动。DC插头需要拔出时，由下壳底端面顶出导向柱，导向柱顶出退DC板，退DC板将DC插头全部顶出，操作简单方便。并且导向柱配合定位孔，提高了上壳与下壳之间的安装效率和安装准确度。
连接器固定板30固定于上壳20和下壳10的侧边。连接器固定板30上设有两个DC连接器32和两个AC连接器34，两个DC连接器32与PCB板电连接，两个AC连接器与AC插座电连接。每个DC连接器连接八个DC插座，每个AC连接器连接八个AC插座。其中，DC插座为DC头连接器或USB线端连接器，AC插座为三孔AC插座，适用于多种不同种类电源老化测试。
DC连接器32和AC连接器34为公母头连接器，DC连接器32和AC连接器34分别与外接电源电连接，为装置上的老化测试设备供电。其中，DC连接器32和AC连接器34为双针型连接器，可以防止单针连接时的接触不良。
本装置压缩了上壳和下壳之间的空隙，使得整个装置的厚度减少，降低了装置的成本，也使得装置显得更加美观。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201920012278.9
申请日:2019-01-04
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:94(深圳)
授权编号:CN209432983U
授权时间:20190924
主分类号:G01R 31/40
专利分类号:G01R31/40;G01R1/04
范畴分类:31F;
申请人:深圳市星辰雨科技有限公司
第一申请人:深圳市星辰雨科技有限公司
申请人地址:518000 广东省深圳市宝安区西乡街道银田工业区西发C区1栋厂房B单元五楼之一
发明人:王广祥
第一发明人:王广祥
当前权利人:深圳市星辰雨科技有限公司
代理人:李茂松
代理机构:44394
代理机构编号:深圳茂达智联知识产权代理事务所(普通合伙)
优先权:关键词:当前状态:审核中
类型名称:外观设计