全文摘要
本实用新型提供了一种光学测量仪安装调整支架，涉及光学测量设备领域，包括支架本体，支架本体上通过转动轴与连接架转动连接，连接架的底端连接托板，托板的顶端设有下测量台，连接架的顶端连接圆轨，圆轨内设有固定座，固定座上固定连接螺杆，转盘的中部设有左旋螺纹孔，上测量台的顶端设有右旋螺纹孔，螺杆自上而下通过螺纹与转盘、上测量台通过螺纹连接，螺杆的底端设置在上测量台内，上测量台的外圈设有若干个长轮齿，转盘的外端与转动杆固定连接，转动杆的顶端穿过固定座与圆轨之间的空隙并与扶手连接，转动杆的内侧设有卡块，转动杆的底端设有光学测量仪，本实用新型使得光学测量仪能够充分对被测物体进行光学测量，提高数据的精确程度。
主设计要求
1.一种光学测量仪安装调整支架，其特征在于，包括支架本体(1)，所述支架本体(1)上通过转动轴(12)与连接架(7)转动连接，所述连接架(7)的底端连接托板(10)，所述托板(10)的顶端设有下测量台(11)，所述连接架(7)的顶端连接圆轨(4)，所述圆轨(4)内设有固定座(16)，所述固定座(16)上固定连接螺杆(5)，所述螺杆(5)的顶端通过弧杆(6)与所述连接架(7)焊接，转盘(3)的中部设有左旋螺纹孔，上测量台(2)的顶端设有右旋螺纹孔，所述螺杆(5)自上而下通过螺纹与所述转盘(3)、所述上测量台(2)通过螺纹连接，所述螺杆(5)的底端设置在所述上测量台(2)内，所述上测量台(2)的外圈设有若干个长轮齿，所述转盘(3)的外端与转动杆(9)固定连接，所述转动杆(9)的顶端穿过所述固定座(16)与所述圆轨(4)之间的空隙并与扶手(15)连接，所述转动杆(9)的内侧设有卡块(14)，所述转动杆(9)的底端设有光学测量仪(13)。
设计方案
1.一种光学测量仪安装调整支架，其特征在于，包括支架本体(1)，所述支架本体(1)上通过转动轴(12)与连接架(7)转动连接，所述连接架(7)的底端连接托板(10)，所述托板(10)的顶端设有下测量台(11)，所述连接架(7)的顶端连接圆轨(4)，所述圆轨(4)内设有固定座(16)，所述固定座(16)上固定连接螺杆(5)，所述螺杆(5)的顶端通过弧杆(6)与所述连接架(7)焊接，转盘(3)的中部设有左旋螺纹孔，上测量台(2)的顶端设有右旋螺纹孔，所述螺杆(5)自上而下通过螺纹与所述转盘(3)、所述上测量台(2)通过螺纹连接，所述螺杆(5)的底端设置在所述上测量台(2)内，所述上测量台(2)的外圈设有若干个长轮齿，所述转盘(3)的外端与转动杆(9)固定连接，所述转动杆(9)的顶端穿过所述固定座(16)与所述圆轨(4)之间的空隙并与扶手(15)连接，所述转动杆(9)的内侧设有卡块(14)，所述转动杆(9)的底端设有光学测量仪(13)。
2.如权利要求1所述的光学测量仪安装调整支架，其特征在于，所述支架本体(1)包括左右对称的支撑杆(8)，所述支撑杆(8)的顶端之间通过横杆连接，所述横杆与所述连接架(7)通过所述转动轴(12)转动连接。
3.如权利要求2所述的光学测量仪安装调整支架，其特征在于，所述横杆与所述连接架(7)上均设有上下对称的插销孔，所述插销孔内设有限位插销。
4.如权利要求1所述的光学测量仪安装调整支架，其特征在于，所述支架本体(1)的底端设有防滑硅胶垫。
5.如权利要求1所述的光学测量仪安装调整支架，其特征在于，所述连接架(7)的后侧设有弧形把手。
设计说明书
技术领域
本实用新型涉及光学测量设备领域，具体涉及一种光学测量仪安装调整支架。
背景技术
在制造加工业领域，精密仪器的加工对组成零件的规格要求甚高，因此常常需要使用光学测量仪对组成零件的规格数据进行精密的测定与记录，为后续零件制造设备的数据调整提供依据，公开号为CN207963921U的一种光学测量仪安装调整支架，包括机座，机座的底部安装有平面调节机构，平面调节机构的底部安装有第一角度调节装置，第一角度调节装置的端部固定有伸缩机构，伸缩机构的端部安装有第二角度调节装置。
该光学测量仪安装调整支架，通过平面调节机构对光学测量仪的水平工作位置进行调节，通过第一角度调节装置和第二角度调节装置对光学测量仪的工作角度进行调节，通过伸缩机构对光学测量仪的工作高度进行调节，该安装调整支架灵活性好，调节能力强，但是在实际的使用过程中：
使用光学测量仪测量时，精度非常精确，因此在测量零件时，最好不要多次触摸或者晃动零件以免影响精确程度，但是测量零件需要放置在测量台上进行光学测量，若想对零件表面全部进行光学测量，需要在一次测量完成后，将被测量零件翻面，通过二次测量，得到完整数据。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种光学测量仪安装调整支架，使得光学测量仪能够充分对被测物体进行光学测量，提高数据的精确程度。
(二)技术方案
为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：
一种光学测量仪安装调整支架，包括支架本体，所述支架本体上通过转动轴与连接架转动连接，所述连接架的底端连接托板，所述托板的顶端设有下测量台，所述连接架的顶端连接圆轨，所述圆轨内设有固定座，所述固定座上固定连接螺杆，所述螺杆的顶端通过弧杆与所述连接架焊接，转盘的中部设有左旋螺纹孔，上测量台的顶端设有右旋螺纹孔，所述螺杆自上而下通过螺纹与所述转盘、所述上测量台通过螺纹连接，所述螺杆的底端设置在所述上测量台内，所述上测量台的外圈设有若干个长轮齿，所述转盘的外端与转动杆固定连接，所述转动杆的顶端穿过所述固定座与所述圆轨之间的空隙并与扶手连接，所述转动杆的内侧设有卡块，所述转动杆的底端设有光学测量仪。
优选地，所述支架本体包括左右对称的支撑杆，所述支撑杆的顶端之间通过横杆连接，所述横杆与所述连接架通过所述转动轴转动连接。
优选地，所述横杆与所述连接架上均设有上下对称的插销孔，所述插销孔内设有限位插销。
优选地，所述支架本体的底端设有防滑硅胶垫。
优选地，所述连接架的后侧设有弧形把手。
(三)有益效果
本实用新型提供了一种光学测量仪安装调整支架，具有以下有益效果：
针对现有技术中，对精密零件进行光学测量时，需要将被测零件进行翻面才能全面测量从而导致数据不精的问题，本实用新型通过设有上测量台、下测量台等装置。
使得在进行零件测量时，可通过翻转连接架选择使用不同的测量台，来实现对精密零件的测量，同时，通过设有螺杆、转盘等装置，使得光学测量仪能够环绕被测零件，并沿着螺杆上下运动，对被测零件进行全方位的数据测定。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型不同视角的结构示意图；
图3为本实用新型连接架与下测量台板连接关系的结构示意图；
附图中，各标号分别代表：
1-支架本体；2-上测量台；3-转盘；4-圆轨；5-螺杆；6-弧杆；7-连接架；8-支撑杆；9-转动杆；10-托板；11-下测量台；12-转动轴；13-光学测量仪；14-卡块；15-扶手；16-固定座。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-3所示，一种光学测量仪安装调整支架，包括支架本体1，支架本体1上通过转动轴12与连接架7转动连接。
使用时，可将连接架7以转动轴12为转轴进行翻转，从而带动连接架7上连接装置相应翻转。
其中，支架本体1包括左右对称的支撑杆8，支撑杆8的顶端之间通过横杆连接，横杆与连接架7通过转动轴12转动连接。
其中，横杆与连接架7上均设有上下对称的插销孔，插销孔内设有限位插销。
通过设有插销孔与限位插销，能够在翻转后对连接架7与支架本体1进行限位，提高装置的稳定性。
连接架7的底端连接托板10，托板10的顶端设有下测量台11。
连接架7的顶端连接圆轨4，圆轨4内设有固定座16，固定座16上固定连接螺杆5，螺杆5的顶端通过弧杆6与连接架7焊接。
转盘3的中部设有左旋螺纹孔，上测量台2的顶端设有右旋螺纹孔，螺杆5自上而下通过螺纹与转盘3、上测量台2通过螺纹连接，螺杆5的底端设置在上测量台2内。
由于转盘3通过左旋螺纹与螺杆5螺纹连接，而上测量台2通过右旋螺纹与螺杆5螺纹连接，因此当转盘3正向转动时，转盘3将沿着螺杆5向下运动，测量台2正向转动时，转盘3将沿着螺杆5向上运动。
上测量台2的外圈设有若干个长轮齿，转盘3的外端与转动杆9固定连接，转动杆9的顶端穿过固定座16与圆轨4之间的空隙并与扶手15连接，转动杆9的内侧设有卡块14。
使用时，由于转动杆9上设有卡块14同时转动杆9与转盘3固定连接，因此当手握扶手15，控制转动杆9沿着固定座16与圆轨4之间的空隙转动时，转盘3也将相应转动，并沿着螺杆5向下运动。
随着转动杆9的向下运动，卡块14在向下的过程中运动至长轮齿之间，从而带动上测量台2随之转动，由于转盘3向下，则上测量台2在转动过程中向上运动。
其中，转动杆9的底端设有光学测量仪13。
使用时，当转盘3向下运动时，可通过光学测量仪13对上测量台2的紧密零件进行环绕测量。
其中，支架本体1的底端设有防滑硅胶垫。
其中，连接架7的后侧设有弧形把手。
本实用新型的一个具体实施方式为：
使用时，将精密零件放置在下测量台11上，并转动上测量台2，使其沿着螺杆5向下运动，直至与精密零件相切，随后手握扶手15，沿着固定座16与圆轨4之间的空隙转动转动杆9，控制转盘3向下运动。
在转盘3向下运动的同时，转动杆9、光学测量仪13、卡块14均向下运动，当卡块1运动至长轮齿之间时，转动杆9的转动将带动上测量台2的向上运动。
此时，光学测量仪13对上测量台2的紧密零件进行环绕测量，直至测量至于下测量台11的顶端相切时，控制转动杆9反向转动，控制转盘3向上运动，同时带动上测量台2向下运动，直至复位。
复位后，可转动连接架7，进行180°翻转，使得上测量台倒置向下，此时，可转动扶手15，控制转盘3向上运动，如前述，上测量台2将向下运动，即可对精密零件的底部进行光学测量。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。
设计图
相关信息详情
申请码:申请号:CN201920019389.2
申请日:2019-01-07
公开号:公开日:国家:CN
国家/省市:42(湖北)
授权编号:CN209197674U
授权时间:20190802
主分类号:G01B 11/00
专利分类号:G01B11/00
范畴分类:31B;
申请人:孝感华创测控科技有限公司
第一申请人:孝感华创测控科技有限公司
申请人地址:432000 湖北省孝感市城站路131号双创服务中心A412号
发明人:绳玉玲
第一发明人:绳玉玲
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类型名称:外观设计