导读:本文包含了高介电常数测量论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:高介电常数材料,相对介电常数,电极,气隙
高介电常数测量论文文献综述
林浩,倪学锋,姜胜宝,国江[1]（2016）在《高介电常数材料的介电常数测量方法研究》一文中研究指出高介电常数材料在未喷涂电极前,如何测准他的介电常数,以判断该材料质量是否满足要求是一个困难。本文介绍一种通过恒压力电极,对给定的高介电常数材料在该电极下产生的气隙厚度进行计算,并利用该气隙厚度对所测到的电容量测量值进行校核,得到该批材料较准确的介电常数值,以对该批材料质量进行评判,从而避免生产中不必要的人力、物力和财力的浪费。(本文来源于《电力电容器与无功补偿》期刊2016年02期）
赵琨[2]（2013）在《高介电常数材料和噪声抑制材料的太赫兹光谱测量》一文中研究指出随着电子科技的不断发展，高性能计算机及电子设备对电子材料性能的要求越来越高，其中材料的介电常数是评价和衡量材料性能的重要指标之一。高介电常数材料可以减小元器件体积，实现产品多功能化、高速化，并对计算机和电子工业产生深远的影响。计算机和电子设备的性能、工作频率和集成度的提高必然带来电磁兼容的问题，对电子设备的抗干扰能力也提出了更高的要求，对元器件的噪声抑制也提出了更高的要求。本论文通过溶胶凝胶高温烧结方法制备的高介电常数材料，通过硫化橡胶中掺加不同含量的磷化羰基铁粉制备了噪声抑制材料。传统的对此种材料的研究方法以差热分析和热失重分析，X射线衍射分析（XRD），扫描电镜分析（SEM）为主，但在频域为0.13TH这个频段内鲜有研究，此频段的电磁波具有低能量（安全可靠）、良好的瞬态和较高的信噪比，已经受到广泛的关注并应用于多方领域。本论文通过太赫兹时域光谱技术对高介电常数材料和噪声抑制材料做了不同厚度、不同组分的探测，获得不同材料的时域图，并通过傅立叶变换得到频域图，经过数据处理获得每种样品材料的独特吸收谱、透射谱和反射谱，并对不同材料、不同厚度、不同组分的材料的吸收、透射和反射特点进行综合分析。并对高介电常数材料利用传统方法得到高介电常数材料100Hz200kHz的介电常数曲线，通过太赫兹时域光谱技术对数据计算处理得出高介电常数材料在太赫兹波段的介电常数曲线，并同低频下介电常数变化趋势相比较。结果表明，制备的高介电常数材料具有较高的介电常数并随着频率升高而下降，在太赫兹波段的基本保持稳定。噪声抑制材料对太赫兹波段具有较强的吸收，较低的透射和极低的反射。(本文来源于《华中科技大学》期刊2013-05-01）
龚淑亮[3]（2009）在《高介电常数BST微波参数谐振腔法测量》一文中研究指出由于BST(BaxSr1-xTiO3)介电常数较高(通常在100以上),传统测量块材的方法误差很大,而BST薄膜的传统测量方法—共面波导法测量步骤很复杂且花费昂贵,不适合日常测试。因此本文选用相对简便的谐振腔法对BST块材和薄膜的复介电常数进行测量。提出了谐振腔法测量BST块材的改进方法,针对谐振腔法测量高介电常数时由于微扰条件无法满足而产生较大误差的问题,提出用软件仿真的方法来修正这些误差,用仿真的结果改进介电常数计算公式。当样品介电常数在150以内时,介电常数改进公式计算精度最大提高40%。损耗角改进公式计算精度最大提高100%。采用了谐振腔测量BST薄膜复介电常数的方法,从微扰理论出发推导出了BST薄膜介电常数和损耗角的计算公式,分析得出公式推导过程中的近似条件产生的误差小于0.3%。用该方法测量了磁控溅射法制备的3个BST薄膜样品,结果显示BST薄膜介电常数在500左右,损耗角在10-2数量级,分析得出测量总误差为15.4%。总结出影响测量结果的主要因素是样品的尺寸和形状。用共面波导法测量了其中一个薄膜样品,测量结果显示BST薄膜介电常数为415.82,损耗角为0.09118。对影响共面波导法测量精度的因素进行了分析,得出总误差为10%左右。通过比较共面波导法与谐振腔法测量的结果发现,两种方法结果比较接近,证明了谐振腔法的可行性。(本文来源于《华中科技大学》期刊2009-05-01）
陈放[4]（2005）在《高介电常数物质微波特性的测量》一文中研究指出微波在通讯、雷达监测领域都有重要的作用,而微波系统中所使用的材料的特性对其性能有着决定性的作用。随着现代通讯的迅猛发展,微波器件正在向在小型化发展。要达到这一目的,除了通过改善器件的结构外,也可使用具有较高介电常数的材料。 BaxSr1-xTiO3是一种新型的铁电材料,有很高的介电常数,并且具有电压调控特性(介电常数随加在器件上的电压变化),可以用在电控相移器,以及天线小型化中。但是由于其介电常数较高,用传统方法较难测准,而且损耗角的测量也是一个难点,阻碍了它的广泛使用。本文拟对其介电常数材料在微波频段电特性(复介电常数)的精确测量进行研究,有比较高的实用价值。本文主要提出了一种新的测量方案,使用有限元素法计算介质基板上介质谐振器的最低轴对称模频率,然后比对测量值与计算值,设立误差函数,通过最优化使误差函数最小,最终得到介电参数。与其他方法相比,该方法对介质样品的形状要求比较低,只要是轴对称形即可,其次对测试设备要求也很低,只需要用到网络分析仪,测量过程也比较简便。同时我们也对这种测试系统进行了误差分析,指出了减小误差的方法,可以得到更精确的结果。(本文来源于《华东师范大学》期刊2005-06-01）
高介电常数测量论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
随着电子科技的不断发展，高性能计算机及电子设备对电子材料性能的要求越来越高，其中材料的介电常数是评价和衡量材料性能的重要指标之一。高介电常数材料可以减小元器件体积，实现产品多功能化、高速化，并对计算机和电子工业产生深远的影响。计算机和电子设备的性能、工作频率和集成度的提高必然带来电磁兼容的问题，对电子设备的抗干扰能力也提出了更高的要求，对元器件的噪声抑制也提出了更高的要求。本论文通过溶胶凝胶高温烧结方法制备的高介电常数材料，通过硫化橡胶中掺加不同含量的磷化羰基铁粉制备了噪声抑制材料。传统的对此种材料的研究方法以差热分析和热失重分析，X射线衍射分析（XRD），扫描电镜分析（SEM）为主，但在频域为0.13TH这个频段内鲜有研究，此频段的电磁波具有低能量（安全可靠）、良好的瞬态和较高的信噪比，已经受到广泛的关注并应用于多方领域。本论文通过太赫兹时域光谱技术对高介电常数材料和噪声抑制材料做了不同厚度、不同组分的探测，获得不同材料的时域图，并通过傅立叶变换得到频域图，经过数据处理获得每种样品材料的独特吸收谱、透射谱和反射谱，并对不同材料、不同厚度、不同组分的材料的吸收、透射和反射特点进行综合分析。并对高介电常数材料利用传统方法得到高介电常数材料100Hz200kHz的介电常数曲线，通过太赫兹时域光谱技术对数据计算处理得出高介电常数材料在太赫兹波段的介电常数曲线，并同低频下介电常数变化趋势相比较。结果表明，制备的高介电常数材料具有较高的介电常数并随着频率升高而下降，在太赫兹波段的基本保持稳定。噪声抑制材料对太赫兹波段具有较强的吸收，较低的透射和极低的反射。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
高介电常数测量论文参考文献
[1].林浩,倪学锋,姜胜宝,国江.高介电常数材料的介电常数测量方法研究[J].电力电容器与无功补偿.2016
[2].赵琨.高介电常数材料和噪声抑制材料的太赫兹光谱测量[D].华中科技大学.2013
[3].龚淑亮.高介电常数BST微波参数谐振腔法测量[D].华中科技大学.2009
[4].陈放.高介电常数物质微波特性的测量[D].华东师范大学.2005