论文摘要
采用屏蔽法,通过屏蔽计算选定合适的屏蔽材料和屏蔽厚度,利用α、β表面发射率标准装置,对高出其测量上限1～2个量级90Sr-90Yβ平面源进行测量,一定精度范围内扩展了标准装置的测量上限。
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文章来源
类型: 国内会议
作者: 刘吉珍,王旭,陈嘉浪,郭翔博
关键词: 屏蔽法,高发射率平面源,表面发射率测定
来源: 中国核学会2019年学术年会 2019-08-20
年度: 2019
分类: 基础科学,工程科技Ⅱ辑
专业: 物理学,核科学技术
单位: 中国核动力研究设计院
分类号: TL328
DOI: 10.26914/c.cnkihy.2019.069303
页码: 378-381
总页数: 4
文件大小: 264k
下载量: 2
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