千万像素光学芯片模组测试高精密定位基座的研究

千万像素光学芯片模组测试高精密定位基座的研究

论文摘要

通过对芯片探针测试机理的研究,基于微/纳米力学相关理论,建立了探针测试数学模型;在理论研究的基础上,设计了4 000万像素光学芯片模组测试高精密定位基座。经测试光学芯片模组的光学中心和镜头中心偏差±0.1 4mm/1 m。对于BGA封装锡球点阵间距≤0.2 mm的产品,其探针电阻≤50 mΩ,总弹力增大到1.25 mm/g。

论文目录

  • 1 测试定位基座结构
  • 2 测试探针力学分析及建模
  • 3 光学芯片模组基座测试
  • 4 结果分析
  • 文章来源

    类型: 期刊论文

    作者: 芮晓光,刘鑫培,王传洋,朱晓刚

    关键词: 千万像素级光学芯片,高精密定位基座,建模和测试

    来源: 机械设计与研究 2019年06期

    年度: 2019

    分类: 工程科技Ⅱ辑,信息科技

    专业: 无线电电子学

    单位: 苏州市职业大学,苏州大学

    基金: 国家自然科学基金资助项目(51475315),苏州市科技计划资助项目(SYG201649)

    分类号: TN491

    DOI: 10.13952/j.cnki.jofmdr.2019.0334

    页码: 149-152

    总页数: 4

    文件大小: 996K

    下载量: 15

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